本发明专利技术公开了一种具有辅助匀场线圈的磁共振系统及匀场方法。所述磁共振系统包括磁体，所述磁体内壁设置有射频线圈以及梯度线圈，其中，所述磁体的前后端面分别设置有辅助匀场线圈。本发明专利技术提供的具有辅助匀场线圈的磁共振系统及匀场方法，将辅助匀场线圈与射频梯度线圈分开独立设置，且所述辅助匀场线圈设于所述磁体的前后端面，从而使得辅助匀场线圈的形状和通电电流可以根据匀场需要灵活设置，不受空间和梯度线圈的限制，达到很高的均场效果并有效减少匀场过程中磁性材料的使用量。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了。所述磁共振系统包括磁体，所述磁体内壁设置有射频线圈以及梯度线圈，其中，所述磁体的前后端面分别设置有辅助匀场线圈。本专利技术提供的具有辅助匀场线圈的磁共振系统及匀场方法，将辅助匀场线圈与射频梯度线圈分开独立设置，且所述辅助匀场线圈设于所述磁体的前后端面，从而使得辅助匀场线圈的形状和通电电流可以根据匀场需要灵活设置，不受空间和梯度线圈的限制，达到很高的均场效果并有效减少匀场过程中磁性材料的使用量。【专利说明】
本专利技术涉及一种磁共振系统及匀场方法，尤其涉及。
技术介绍
MRI系统(磁共振成像系统)的成像区域需要均匀分布的主磁场，但是实际的磁场不可能完全均匀分布，为此，需要对磁共振系统进行匀场操作。使用测量仪器测量一定区域内的主磁场分布，将测量得到的主磁场在球坐标系下进行勒让德多项式展开，展开多项式为:【权利要求】1.一种具有辅助匀场线圈的磁共振系统，包括磁体，所述磁体内壁设置有射频线圈以及梯度线圈，其特征在于，所述磁体的前后端面分别设置有辅助匀场线圈。2.如权利要求1所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈围绕着磁体主轴的垂直方向绕制而成。3.如权利要求1所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈的匝数为I~500。4.如权利要求1所述的具有辅助匀场线的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈沿磁体主轴方向的宽度为10mm-20mm。5.如权利要求1所述的具有辅助匀场线的磁共振系统，其特征在于，所述磁体外围还设置有外壳。6.如权利要求5所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈设置在 外壳和磁体在主轴方向上的间隙中。7.如权利要求1所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈上设置有冷却装置。8.如权利要求6所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述冷却装置为水管或冷风管。9.如权利要求7所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述水管或冷风管布置在辅助匀场线圈表面，或者辅助匀场线圈的侧面。10.如权利要求1~9任一项所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述辅助匀场线圈为两个相同的线圈，对称分布于磁体的前后端面。11.如权利要求10所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述两个辅助匀场线圈连接同一个电源或者连接两个不同电源，通电时两个辅助匀场线圈中的电流大小和方向相同。12.如权利要求10所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述两个辅助匀场线圈连接同一个电源的不同通道或者连接两个不同电源，通电时两个辅助匀场线圈中的电流大小相同，方向相反。13.如权利要求10所述的具有辅助匀场线圈的磁共振系统，其特征在于，所述两个辅助匀场线圈连接同一电源的不同通道或者连接两个不同的电源，通电时两个辅助匀场线圈的电流大小不同。14.一种磁共振系统的匀场方法，其特征在于，所述磁共振系统采用如权利要求11中所述具有辅助匀场线圈的磁共振系统，所述磁共振系统的匀场方法包括如下步骤: al)将所述磁体的主磁场分布在球坐标系下展开，并计算出二阶谐函数系数值； bl)使所述两个辅助匀场线圈通入大小与方向相同的电流，所述电流的大小为所述二阶谐函数系数值的相反数与所述辅助匀场线圈通电I安培时产生的二阶谐函数系数值的比值； Cl)在两个辅助匀场线圈按照所述电流通电以后，将所述磁体的主磁场在球坐标系下再次展开，并重新计算出二阶谐函数系数值； dl)判断所述重新计算出二阶谐函数系数值是否在参考数值范围内； el)若是，则辅助匀场线圈匀场结束，否则重复al)-dl)步骤直至重新计算出的二阶谐函数系数值落在参考数值范围内。15.—种磁共振系统的匀场方法，其特征在于，所述磁共振系统采用如权利要求12中所述具有辅助匀场线圈的磁共振系统，所述磁共振系统的匀场方法包括如下步骤: a2)将所述磁体的主磁场分布在球坐标系下展开，并计算出一阶谐函数系数值；b2)使所述两个辅助匀场线圈通入方向相反，大小相同的电流，所述电流的大小为所述一阶谐函数系数值与所述辅助匀场线圈通电I安培时产生的一阶谐函数系数值的比值；c2)在两个辅助匀场线圈按照所述电流通电以后，将所述磁体的主磁场在球坐标系下再次展开，并重新计算出一阶谐函数系数值； d2)判断所述重新计算出一阶谐函数系数值是否在参考数值范围内；e2)若是，则辅助匀场线圈匀场结束，否则重复a2)_d2)步骤直至重新计算出的一阶谐函数系数值落在参考数值范围内。16.—种磁共振系统的匀场方法，其特征在于，所述磁共振系统采用如权利要求13中所述具有辅助匀场线圈的磁共振系统，所述磁共振系统的匀场方法包括如下步骤: a3)将所述磁体的主磁场分布在球坐标系下展开，并计算出一阶谐函数系数值及二阶谐函数系数； b 3)使所述一个辅助匀场线圈通入电流，所述电流的大小为所述一阶谐函数系数值与所述辅助匀场线圈通电I安培时产生的一阶谐函数系数值的比值；使所述另一个辅助匀场线圈通入电流，所述电流的大小为所述二阶谐函数系数值与所述辅助匀场线圈通电I安培时产生的二阶谐函数系数值的比值； c3)将所述磁体的主磁场在球坐标系下再次展开，并重新计算出一阶谐函数系数值与二阶谐函数系数； d3)判断所述重新计算出一阶谐函数系数值与二阶谐函数系数值分别是否在参考数值范围内；` e3)若是，则辅助匀场线圈匀场结束，否则重复a3)_d3)步骤直至重新计算出的一阶谐函数系数值与二阶谐函数系数值分别落在参考数值范围内。17.如权利要求14-16中任一项所述的磁共振系统的匀场方法，其特征在于，所述参考数值范围为0-30ppm。18.如权利要求17所述的磁共振系统的匀场方法，其特征在于，所述参考数值为Oppm。【文档编号】G01R33/341GK103713268SQ201210378580【公开日】2014年4月9日 申请日期:2012年9月29日 优先权日:2012年9月29日 【专利技术者】杨绩文 申请人:上海联影医疗科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种具有辅助匀场线圈的磁共振系统，包括磁体，所述磁体内壁设置有射频线圈以及梯度线圈，其特征在于，所述磁体的前后端面分别设置有辅助匀场线圈。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨绩文，
申请(专利权)人：上海联影医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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