同轴度测量装置制造方法及图纸

技术编号:9901436 阅读:101 留言:0更新日期:2014-04-10 12:50
本发明专利技术公开了一种同轴度测量装置,包括:壳体、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架相固定;壳体内设有主控芯片、放大电路,各个三轴加速度传感器的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接;测量机构的各三轴加速度传感器采集的位置信息经放大电路放大后,由主控芯片根据几何原理进行处理得到被测元件的同轴度。本发明专利技术不仅无需移动被测元件或是测量装置,对基准点也没有严格的要求,且装置结构简单、使用方便,可实时显示测量结果。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种同轴度测量装置,包括:壳体、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架相固定;壳体内设有主控芯片、放大电路,各个三轴加速度传感器的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接;测量机构的各三轴加速度传感器采集的位置信息经放大电路放大后,由主控芯片根据几何原理进行处理得到被测元件的同轴度。本专利技术不仅无需移动被测元件或是测量装置,对基准点也没有严格的要求,且装置结构简单、使用方便,可实时显示测量结果。【专利说明】同轴度测量装置
本专利技术涉及一种测量装置,特别是涉及一种同轴度测量装置。
技术介绍
同轴度测量装置用于台阶轴、轴套、衬套等有同轴度要求的元件测量,对于机械领域的装配元件精度起着至关重要的作用,其不仅关系到运送装配物的效率高低,甚者关系到装配物的运行安全、使用寿命等。现有的同轴度测量装置,按照测量原理大致分为以下几种:第一种是移动接触式测量装置,测量时要么需要转动被测元件或测量装置,要么需要移动卡尺距离,此类装置的缺点是转动、移动时,接触点可能会磨损被测元件,既影响被测元件的精度也影响测量结果的准确性;第二种是利用V型块和千分表构成可变形的测量机构,由于测量时需要把被测元件放在装置上,因而测量体积较大的元件时会受到限制;第三种是利用光学原理测量,测量过程中需要反复调整装置的基准点,费时费力。上述测量装置都对测量基准点有很高的要求,且只能测量形状规则的元件,而实际使用的装配元件因其装配位置千差万别,所以形状各异,体积大小不同,可见,现有的同轴度测量装置已经无法满足实际的使用需要。
技术实现思路
鉴于上述原因,本专利技术的目的在于提供一种同轴度测量装置,通过三轴加速度传感器测量两被测元件的相对位置而获得两轴的同轴度,不仅无需移动被测元件或是测量装置,对基准点也没有严格的要求,且装置结构简单、使用方便,可实时显示测量结果。为实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案:同轴度测量装置,包括:壳体、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架相固定;且,该固定架上固定的各个三轴加速度传感器位于同一个平面内;壳体内设有主控芯片、放大电路,各个三轴加速度传感器的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接进一步的,所述两组测量机构的各三轴加速度传感器采集的位置信息经所述放大电路放大后,由所述主控芯片处理得到两被测元件的同轴度。所述固定架由可弯曲的钢片制成,该钢片上设有若干凸起,钢片端部设有锁扣,该锁扣内侧具有凸起而可与钢片上的凸起相抵顶。所述壳体上还设有液晶显示屏、调节按键、开关按键,该液晶显示屏的数据输入端与所述主控芯片的数据输出端相连接;各按键的输出端分别与所述主控芯片的控制信号输入端相连接。所述壳体内还设有电源单元,该电源单元与所述主控芯片的电源输入端相连接。本专利技术的优点在于:本专利技术的同轴度测量装置通过三轴加速度传感器测量两被测元件的相对位置而获得两轴的同轴度,不仅无需移动被测元件或是测量装置,对基准点也没有严格的要求,且装置结构简单、使用方便,可实时显示测量结果。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术的整体结构图。图2A至2C是本专利技术的固定架的结构示意图。图3是本专利技术一具体实施例的测量原理图。图4是本专利技术一具体实施例中主控芯片的部分电路接线图。【具体实施方式】以下结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细的说明。图1是本专利技术的整体结构图。如图所示,本专利技术公开的同轴度测量装置包括壳体1、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器21,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架22相固定;壳体I内部设有主控芯片、放大电路、电源单元,壳体I上设有液晶显示屏3、调节按键4及开关按键5等,各个三轴加速度传感器21的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接,液晶显示屏3的数据输入端与主控芯片的数据输出端相连接;各按键的输出端分别与主控芯片的控制信号输入端相连接;电源单元与主控芯片的电源输入端相连接。图2A至2C是本专利技术的固定架的结构示意图,如图所示,固定架22由可弯曲的钢片221制成,钢片221上设有若干凸起222,钢片端部设有锁扣223,锁扣223内侧具有凸起而可与钢片221上的凸起222相抵顶,通过锁扣223与钢片上不同位置的凸起222相抵顶可以收缩或放大钢片所围构面积的大小,进而可测量不同大小的被测元件;钢片221上穿设有三轴加速度传感器21,由于钢片的特性可保证各个三轴加速度传感器21位于同一个平面内。将测量机构的各个三轴加速度传感器21通过固定架22与被测元件相固定,各三轴加速度传感器21采集其所在平面的位置信息,该位置信息经放大电路放大处理后传输给主控芯片,主控芯片按照几何原理对放大后的位置信息进行处理后,得到两个被测元件的同轴度,并通过液晶显示屏3显示出来。具体的说,如图3所示,将第一组测量机构的三轴加速度传感器21通过固定架22与第一被测元件100相固定,第一组测量机构的各三轴加速度传感器21位于第一平面200内,各三轴加速度传感器21采集其所在位置的位置信息,该位置信息包括横、纵坐标值,根据三角形外接圆的几何原理可以确定第一平面200的圆心坐标,计算公式如下:三轴加速度传感器采集的位置信息:(X1, Y1), (x2, y2), (x3, y3),上述三个点构成的三角形,其外接圆圆心坐标为:【权利要求】1.同轴度测量装置,其特征在于,包括: 壳体、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架相固定;且,该固定架上固定的各个三轴加速度传感器位于同一个平面内; 壳体内设有主控芯片、放大电路,各个三轴加速度传感器的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接。2.如权利要求1所述的同轴度测量装置,其特征在于,所述两组测量机构的各三轴加速度传感器采集的位置信息经所述放大电路放大后,由所述主控芯片处理得到两被测元件的同轴度。3.如权利要求2所述的同轴度测量装置,其特征在于,所述固定架由可弯曲的钢片制成,该钢片上设有若干凸起,钢片端部设有锁扣,该锁扣内侧具有凸起而可与钢片上的凸起相抵顶。4.如权利要求3所述的同轴度测量装置,其特征在于,所述壳体上还设有液晶显示屏、调节按键、开关按键,该液晶显示屏的数据输入端与所述主控芯片的数据输出端相连接;各按键的输出端分别与所述主控芯片的控制信号输入端相连接。5.如权利要求4所述的同轴度测量装置,其特征在于,所述壳体内还设有电源单元,该电源单元与所述主控芯片的电源输入端相连接。【文档编号】G01B7/312GK103712595SQ201310684240【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年12月13日 优先权日:2013年12月13日 【专利技术者】陈雄鹰, 杨志成 申请人:北京联合大学生物化学工程学院本文档来自技高网
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【技术保护点】
同轴度测量装置,其特征在于,包括: 壳体、两组测量机构,每组测量机构包括至少三个三轴加速度传感器,每组测量机构的各个三轴加速度传感器通过可缩放式的固定架相固定;且,该固定架上固定的各个三轴加速度传感器位于同一个平面内; 壳体内设有主控芯片、放大电路,各个三轴加速度传感器的数据输出端通过放大电路与主控芯片的数据输入端相连接 。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈雄鹰杨志成
申请(专利权)人:北京联合大学生物化学工程学院
类型:发明
国别省市:北京;11

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