一种散射参数测试系统技术方案

本申请公开了一种散射参数测试系统，在测量反射系数时包括矢量网络分析仪、一个波导开关和待测件；矢量网络分析仪的端口一连接波导开关的一端；波导开关的另一端连接待测件的待测端口；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配。在测量传输系数时包括矢量网络分析仪、两个波导开关和待测件；所述矢量网络分析仪的端口一连接波导开关一的一端；波导开关一的另一端连接待测件的端口一；待测件的端口二连接波导开关二的一端；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配。本申请实现了一种无需系统校准、误差修正的散射参数测量方法。由于测试过程准实时地进行，从而消除了各项系统误差，获得了极高的测量精度。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本申请公开了一种散射参数测试系统，在测量反射系数时包括矢量网络分析仪、一个波导开关和待测件；矢量网络分析仪的端口一连接波导开关的一端；波导开关的另一端连接待测件的待测端口；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配。在测量传输系数时包括矢量网络分析仪、两个波导开关和待测件；所述矢量网络分析仪的端口一连接波导开关一的一端；波导开关一的另一端连接待测件的端口一；待测件的端口二连接波导开关二的一端；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配。本申请实现了一种无需系统校准、误差修正的散射参数测量方法。由于测试过程准实时地进行，从而消除了各项系统误差，获得了极高的测量精度。【专利说明】一种散射参数测试系统
本申请涉及一种射频微波电路的散射参数测试系统。
技术介绍
在射频微波电路中，传统的电压、电流概念已不再适用，而必须采用电磁波的反射及传输模式来分析。散射参数(scattering parameters,也称S参数)是建立在入射波、反射波关系基础上的参数，尤其适用于描述射频微波电路的特性。反射系数(reflectioncoefficient)、传输系数(tran本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种散射参数测试系统，其特征是，在测量反射系数时包括矢量网络分析仪、一个波导开关和待测件；矢量网络分析仪仅用一个端口，矢量网络分析仪的端口一连接波导开关的一端；波导开关的另一端连接待测件的待测端口；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配；在测量传输系数时包括矢量网络分析仪、两个波导开关和待测件；矢量网络分析仪仅用一个端口，矢量网络分析仪的端口一连接波导开关一的一端；波导开关一的另一端连接待测件的端口一；待测件的端口二连接波导开关二的一端；待测件或者没有其他端口，或者其他端口均为阻抗匹配；所述波导开关具有短路和导通两种状态；波导开关在短路状态相当于一个短路器，波导开关在导通状态相当于一...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周建华，刘会来，
申请(专利权)人：上海霍莱沃电子系统技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31