固定光源式的全空间分布光度测试仪制造技术

技术编号:9842776 阅读:169 留言:0更新日期:2014-04-02 12:30
本发明专利技术提供了固定光源式的全空间分布光度测试仪,包括:基座;垂直转动机构,设置于所述基座上;垂直U型转臂,由横梁和两臂构成并固定于所述垂直转动机构上;水平转动机构,设置于所述垂直U型转臂的两臂的内侧处;水平U型转臂,由横梁和两臂构成且所述水平U型转臂的两臂连接于所述水平转动机构;被测光源校正支架,其一端固定于所述垂直U型转臂的横梁中心处,其另一端适于放置被测光源;定位激光器,固定在所述水平U型转臂上,并与所述水平转动机构处于同一轴心线上;以及光探测器,固定在所述水平U型转臂的横梁的中心,其中所述光探测器与所述被测光源校正支架两者的中心线在同一竖直平面内。本发明专利技术通过结构上的全新构思,可以有效地提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了固定光源式的全空间分布光度测试仪,包括:基座;垂直转动机构,设置于所述基座上;垂直U型转臂,由横梁和两臂构成并固定于所述垂直转动机构上;水平转动机构,设置于所述垂直U型转臂的两臂的内侧处;水平U型转臂,由横梁和两臂构成且所述水平U型转臂的两臂连接于所述水平转动机构;被测光源校正支架,其一端固定于所述垂直U型转臂的横梁中心处,其另一端适于放置被测光源;定位激光器,固定在所述水平U型转臂上,并与所述水平转动机构处于同一轴心线上;以及光探测器,固定在所述水平U型转臂的横梁的中心,其中所述光探测器与所述被测光源校正支架两者的中心线在同一竖直平面内。本专利技术通过结构上的全新构思,可以有效地提高测量精度。【专利说明】固定光源式的全空间分布光度测试仪
本专利技术涉及一种固定光源式的全空间分布光度测试仪,用于对固定安装位置的各种型号机动车车灯及需固定角度安装的投光灯等各种光源和灯具的光通量、光强分布及光色分布进行近场全空间精密测量。
技术介绍
分布光度的测量,一般用照度测量来实现光源或灯具的光通量、光强分布测量,用光谱仪测量光色分布。测量时,通过测量以被测光源为中心的模拟球面的照度分布,通过数值积分计算出被测光源的总光通量,通过照度平方反比定律计算出每点的光强进而得出光强的空间分布,通过光谱仪测量出每点的光色进而得出光色的空间分布,上述三种测量方法都是国际照明委员会(CIE)推荐使用的方法,光通量测量方法又是基准测量方法。现有技术的现状是:除被测光源的中心位置无法精确确定,偏离光探测器而对测试结果影响相当大外,光源测试位置变化或运动也会影响测量的结果,这是由于:1、被测光源位置变化后,散热条件发生了变化,出射光方向也发生了变化,从而影响测试结果;2、被测光源因运动而产生气流,导致被测光源表面、散热热沉温度发生变化,从而影响测试结果;3、气体放电灯的放电光弧位置变化或发生运动,地球空间磁力线会影响灯内的电弧分布,进而影响灯的工作稳定性;4、被测光源因圆周运动而产生的振动会影响光源的稳定工作。因此,测试时光探测器不能准确对准被测光源中心,被测光源不能保持实际工作状态下静止不动,如果保持被测光源不动则又无法完成全球面空间测试,方法缺乏科学性,所以测试误差比较大。现有的分布光度计,主要有二种:一种是光源变位式全空间分布光度计,它是通过转动待测光源的位置,并通过光探测器旋转来实现光通量、光色及光强的检测,检测时被测光源需竖直对地照射,不能测试其它出射角度的被测光源,且地面对光具有反射,因此不能保证测试精度;另一种是固定光源式非全空间分布光度计,它由基座之上的U型转臂作垂直转动,同时转臂上的光探测器可绕水平轴转,完成对悬吊的被测光源的测试。固定光源式非全空间分布光度计虽可以保证被测光源的位置不变,但测试时,带有光探测器的转臂受被测光源悬吊装置阻挡,无法转到悬吊装置两边各约30度的夹角范围,无法完成全空间测量,不能测出光通量,测试出的光强和光色分布是部分空间的结论。除上述缺陷外,两种分布式光度计,都不能对被测光源的空间位置进行精确调整定位。
技术实现思路
针对现有技术的上述不足之处,本专利技术旨在提供一种能显著提高测量精度的固定光源式全球面空间分布光度测试仪,其不但能让光探测器精确对准被测光源的中心进行测试,并且能让被测光源位置固定不变,光源可按实际工作状态放置,可保持正常燃点工作状态下持续稳定工作,在此基础上实现全空间的光通量、光强分布及光色分布的精密测试。具体地,本专利技术提供了固定光源式的全空间分布光度测试仪,包括:基座;垂直转动机构,设置于所述基座上;垂直U型转臂,由横梁和两臂构成并固定于所述垂直转动机构上;水平转动机构,设置于所述垂直U型转臂的两臂的内侧处;水平U型转臂,由横梁和两臂构成且所述水平U型转臂的两臂连接于所述水平转动机构;被测光源校正支架,其一端固定于所述垂直U型转臂的横梁中心处,其另一端适于放置被测光源;定位激光器,固定在所述水平U型转臂上,并与所述水平转动机构处于同一轴心线上;以及光探测器,固定在所述水平U型转臂的横梁的中心,其中所述光探测器与所述被测光源校正支架两者的中心线在同一竖直平面内。较佳地,在上述全空间分布光度测试仪中,所述基座内置一垂直回转轴,且所述垂直转动机构置于所述垂直回转轴的轴端。较佳地,在上述全空间分布光度测试仪中,所述水平U型转臂的两臂前端分别具有回转平衡铊。 较佳地,在上述全空间分布光度测试仪中,所述被测光源校正支架进一步包括:支撑座,置于所述垂直U型转臂上;校正座,允许在所述支撑座上前后或左右位移制动;第一和第二曲柄式支撑杆,其底端并立地连接于所述校正座上,其中所述第一和第二曲柄式支撑杆的曲柄的敞口彼此相向;第一和第二磁力座,分别设置于所述第一和第二曲柄式支撑杆的顶端,所述第一和第二磁力座分别具有一第一和第二磁力座开关;以及光源座,适于放置被测光源,其中所述第一和第二磁力座能够通过磁力吸附于所述光源座。较佳地,在上述全空间分布光度测试仪中,所述第一曲柄式支撑杆的底端通过第一定位销轴以及第一连接螺栓连接于所述校正座上,且所述第二曲柄式支撑杆的底端通过第二定位销轴以及第二连接螺栓连接于所述校正座上。较佳地,在上述全空间分布光度测试仪中,所述第一和第二曲柄式支撑杆的曲柄的中间处分别具有高度调整旋钮。本专利技术的有益效果在于:本专利技术成功地解决了固定式光源不能精确测定被测光源中心,不能全空间高精度测试被测光源的光通量、光强分布及光色分布的二个难题。特别是,本专利技术提供了一种结构新颖的被测光源校正支架,该支架一是可以确保被测光源的空间定位精度,理论上可实现零误差定位,通过前后、左右及上下来调整被测光源的空间位置,由定位激光器指示确定被测光源的中心点,解决了传统分布光度计无法调整,无法确定被测光源中心的难题;二是可以确保全球面空间无盲区测试,通过两个支撑杆即第一和第二曲柄式支撑杆一立一仰,让光探测器在竖直平面内可360度转动,保证驻足任意位置,解决了不能进行全空间测试的难题。本专利技术的设备明显地扩大了测量范围、显著地提高了测量精度。应当理解,本专利技术以上的一般性描述和以下的详细描述都是示例性和说明性的,并且旨在为如权利要求所述的本专利技术提供进一步的解释。【专利附图】【附图说明】包括附图是为提供对本专利技术进一步的理解,它们被收录并构成本申请的一部分,附图示出了本专利技术的实施例,并与本说明书一起起到解释本专利技术原理的作用。附图中:图1是根据本专利技术的全空间分布光度测试仪的主视图。图2是图1中A-A剖视图。图3是图2中的第一曲柄式支撑杆处于打开状态的示意图。图4是图2中的第二曲柄式支撑杆处于打开状态的示意图。附图标记说明:I 基座2垂直U型转臂201垂直转动机构202水平转动机构3水平U型转臂302平衡铊4光源校正支架401支撑座402校正座403第一曲柄式支撑杆404第二曲柄式支撑杆405高度调整旋钮406第二磁力座开关407光源座408第一磁力座开关409第一磁力座410第二磁力座411第一定位销轴412第一连接螺栓413第二定位销轴414第二连接螺栓5定位激光器6光探测器7被测光源【具体实施方式】现在将详细参考附图描述本专利技术的实施例。现在将详细参考本专利技术的优选实施例,其示例在附图中本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种固定光源式的全空间分布光度测试仪,包括:基座(1);垂直转动机构(201),设置于所述基座上;垂直U型转臂(2),由横梁和两臂构成并固定于所述垂直转动机构上;水平转动机构(202),设置于所述垂直U型转臂的两臂的内侧处;水平U型转臂(3),由横梁和两臂构成且所述水平U型转臂的两臂连接于所述水平转动机构;被测光源校正支架(4),其一端固定于所述垂直U型转臂的横梁中心处,其另一端适于放置被测光源;定位激光器(5),固定在所述水平U型转臂上,并与所述水平转动机构处于同一轴心线上;以及光探测器(6),固定在所述水平U型转臂的横梁的中心,其中所述光探测器与所述被测光源校正支架两者的中心线在同一竖直平面内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:凌铭黄中荣张建文章世骏卜伟理
申请(专利权)人:上海机动车检测中心
类型:发明
国别省市:

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