一种反射器光度测试的光路系统技术方案

本发明专利技术公开一种反射器光度测试的光路系统，它包括，光源、受光器、半透半反镜，把光源与受光器分开设置，光源水平方向的光与半透半反镜的法线成45°入射，产生垂直向下的反射光，其反射光作为被测反射器的0°入射光，经被测反射器的反射产生反向180°垂????直向上的逆反射光透射过半透半反镜，其逆反射光的光轴为0°线，也是观察角0°的基准线。能解决最小观察角α=0°～0.2°的光度测试，实现反射器全范围观察角α=0°～2°测试；实现反射器模具及其产品进行全范围观察角α=0°～2°光度性能测试与分析，提出确量的质量改进方案；对测试距离小于2m的光度测试系统，其光源光斑的均匀性及受光器的V（λ）特性可大幅度的减小误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测试光学器件的光路系统。具体的说，它涉及反射器光度测试的光路系统。
技术介绍
传统的反射器光度CIL值测试系统，按测试距离分国内外有两种，其一是从光源到被测反射器的测试距离为30.48m大型光路测试系统，其二是测试距离小于2m的小型光路测试系统，两者原理相同，见附图1，其中观察角α是被测反射器3基准中心C到受光器2的中心O2连线与基准中心C到光源I中心O1连线的夹角(α =·tan-1!)。在不同角度测出的反射器光度，反映了反射器的不同质量指标，上述测试系统光路设置存在共同的缺陷在于:见附图2，(I)光源I与受光器2设置的位置均在同一端，显而易见，光源I与受光器2之间因受到最小孔径距a+ r2的限制，在测试反射器时，只能测试α=0.2° 2°，而不能测试小观察角α=0° 0.2°的光度值及其分析；(2)严重影晌了对反射器在α=0° 2°全范围质量分析，尤其是对反射器模具光场分布特性的分析(观察角特性)，以便提出确量的改进方案。(3)上述提到的小型测试系统，其光源I与受光器2之间的最小孔径距离ri+r2只有彡7mm,因太小至使光源I的光斑均匀性与受光器2的V(入)特性误本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种反射器光度测试的光路系统，它包括，光源、受光器、半透半反镜，其特征在于：把光源与受光器分开设置，光源水平方向的光与半透半反镜的法线成45°入射，产生垂直向下的反射光，其反射光作为被测反射器的0°入射光，经被测反射器的反射产生反向180°垂直向上的逆反射光透射过半透半反镜，其逆反射光的光轴为0°线，也是观察角0°的基准线。

【技术特征摘要】
1.一种反射器光度测试的光路系统，它包括，光源、受光器、半透半反镜，其特征在于:把光源与受光器分开设置，光源水平方向的光与半透半反镜的法线成45°入射，产生垂直向下的...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙体生，王文彩，
申请(专利权)人：孙体生，王文彩，
类型：发明
国别省市：