【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于物理实验仪器的设计与制造
，尤其涉及一种薄凹透镜焦距自动测量技术。
技术介绍
在大学物理实验中，薄透镜焦距的测量是最基本的实验。常用的测量方法有自准法、物距-像距法、共轭法以及透镜组合法。测量薄凹透镜的焦距主要采用透镜组合法。无论哪种方法，都需要人眼去判断成像的清晰程度，进而确定像屏位置。由于个人的视觉习惯不同和像差的限制，因此，像屏位置一般很难准确确定，测量结果的精度一般都不高。此外光源、物屏和像屏选取的不同，也会对成像清晰程度的判断带来一定的影响。综上所述，如果这些影响因素叠加，测量结果可能会出现较大误差。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种薄凹透镜焦距自动测量技术，有效地提高薄凹透镜焦距的测量精度。根据本专利技术的一个方面，提供一种薄凹透镜焦距自动测量装置，所述装置包括LED光源、光源滤镜、黑色带孔物屏、可滑动挡板、凸透镜、凹透镜卡槽、光强传感器、黑色像屏、传动杆、电动机、液晶显示屏、CPU控制器、启动开关、超声波测距传感器、运行底座和支架、装置外壳和状态指示灯，其中，所述CPU控制器是所述装置的中央控制器，负责所有输入数...
【技术保护点】
一种薄凹透镜焦距自动测量装置，其特征在于，所述装置包括：LED光源、光源滤镜、黑色带孔物屏、可滑动挡板、凸透镜、凹透镜卡槽、光强传感器、黑色像屏、传动杆、电动机、液晶显示屏、CPU控制器、启动开关、超声波测距传感器、运行底座和支架、装置外壳和状态指示灯，其中，所述CPU控制器是所述装置的中央控制器，负责所有输入数据的处理和控制信号的输出，其实现为所述装置中的主控电路板；所述LED光源在所述CPU控制器的控制下为所述装置提供光源；所述光源滤镜是一凸透镜，所述LED光源设置在所述光源滤镜的焦平面上，以保证射到所述黑色带孔物屏上的光线为平行光线；所述黑色带孔物屏是一带有1字形孔的...
【技术特征摘要】
1.一种薄凹透镜焦距自动测量装置，其特征在于，所述装置包括:LED光源、光源滤镜、黑色带孔物屏、可滑动挡板、凸透镜、凹透镜卡槽、光强传感器、黑色像屏、传动杆、电动机、液晶显示屏、CPU控制器、启动开关、超声波测距传感器、运行底座和支架、装置外壳和状态指示灯，其中， 所述CPU控制器 是所述装置的中央控制器，负责所有输入数据的处理和控制信号的输出，其实现为所述装置中的主控电路板； 所述LED光源在所述CPU控制器的控制下为所述装置提供光源； 所述光源滤镜是一凸透镜，所述LED光源设置在所述光源滤镜的焦平面上，以保证射到所述黑色带孔物屏上的光线为平行光线； 所述黑色带孔物屏是一带有I字形孔的黑色面板； 所述可滑动挡板用于使所述装置内各光学器件相对于外界密封，从而使凹透镜焦距测量过程不会受到外界光线的影响； 所述凸透镜用于与待测凹透镜形成组合透镜，从而进行凹透镜焦距的测量； 所述凹透镜卡槽是一半圆形卡槽，用于容纳待测凹透镜； 所述光强传感器附着在所述黑色像屏上，在所述CPU控制器的控制下进行光强度的检测，并将检测结果送至所述CPU控制器进行处理； 所述黑色像屏固定在所述传动杆上，可随所述传动杆移动； 所述电动机在所述CPU控制器的控制下驱动所述传动杆的移动； 所述传动杆带有螺纹，在所述电动机的驱动下带动固定在其上的所述黑色像屏移动；所述超声波测距传感器固定在所述黑色带孔物屏的下端，在所述CPU控制器的控制下测量所述黑色带孔物屏和所述黑色像屏之间的距离，并将测量结果送至所述CPU控制器进行处理； 所述运行底座和支架支持所述装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋宏伟，王启银，杨春华，郭小龙，
申请(专利权)人：山西省电力公司大同供电分公司，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：
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