一种新型测试机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种新型测试机构，包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于：所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构，所述电机联接所述的凸轮，所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨，所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动，所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。采用对电子元器件底部测试的方法结构，更符合目前电子元器件的制作工艺，应用性更广。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术主要是涉及一种新型测试机构，进一步涉及一种对发光电子元器件底部测试机构。
技术介绍
电子元器件(如LED)是一种非常有用及有效的光源，它的光学构造体将发出的光几乎无损失的集合起来，经狭小的结构投射出来，它的颜色根据它使用的半导体成份造成，目前大约有红、黄、蓝、绿及白光等等。电子元器件(如LED)的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、微型化、易于集成电路匹配、驱动简单、寿命长、耐冲击、性能稳定。然而，电子元器件因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点，从而在品质的评价和检测方法方面产生许多问题。不同的应用场合，决定了对电子元器件产品的性能要求。此外，电子元器件既是一种光源，又是一种功率型的半导体器件，因此有关它的质量必须从光学、电学和热学等诸多方面进行综合评价。因此，电子元器件的检测变得非常重要。然而，目前的电子元器件的测试一般采用的侧面测试的结构，随着电子元器件的制作工艺的发展，已不能满足目前的电子元器件的测试要求。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种采用针对电子元器件底部的测试机构，本技术提供一种新型测试机构，包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构，所述电机联接所述的凸轮，所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨，所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动，所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。优选的，所述凸轮分为大行程和小行程两部分，能同时控制两行程不同的凸轮从动机构。优选的，所述测试定位机构包括带定位的测试针基座和带弹簧缓冲的测试针。优选的，所述压片机构包括由良好光学性能制作的压片、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片，传感器。与现有技术相比，本技术的优点在于采用了针对电子元器件底部测试的机构，有效的解决了对电子元器件底部引脚的测试，更符合目前的电子元器件的制造工艺。附图说明图1是本技术一种新型测试机构的轴测视图。图2是本技术一种新型测试机构的左视图。附图标记说明1、基座2、滑轨3、测试针基座4、压片5、电机6、凸轮7、凸轮从动机构一 8、凸轮从动机构二 9、测试针10传感器11、光学盖片12、压缩气路具体实施方式下面参照附图结合实施例对本技术作进一步的描述。如图1-图3所示，一种新型测试机构，包括基座1、电机5、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。如图3所示凸轮机构包括凸轮6及凸轮从动机构8，电机5联接所述的凸轮6，凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨2，凸轮从动机构8分别位于凸轮6上下两侧并均可沿滑轨2上下滑动，压片机构和测试定位机构分别与各自的凸轮从动机构一 7和凸轮从动机构二 8联接，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。测试定位机构包括带定位的测试针基座3和带弹簧缓冲的测试针9。压片机构包括由良好光学性能制作的压片4、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路12、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片11，传感器10。现对本实施方式的作用进行详细说明，首先，伺服电机5带动凸轮6转动，上凸轮从动机构向下运动，下凸轮从动机构在弹簧的作用下向上运动，压片对电子元器件定位，同时测试探针9继续动作，完全接触发光元器件，通电将发光元件点亮，由光学检测器具检测发光元件的光特性。检测完毕后，电机5带动凸轮转动，当测试针9离开发光元件时，压缩气路12开始吹气，将可能粘着在压片4上的发光元件吹下，光纤传感器10检测到电子元器件，这时电子元器件与压片4完全脱离，压缩气路停止吹气，电机继续转动，回到原位。以上所述为本技术的一个较佳实施例，在不脱离本技术的专利技术构思的情况下，进行的任何显而易见的变形和替换，均属本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型测试机构，包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构，其特征在于：所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构，所述电机联接所述的凸轮，所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨，所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动，所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。

【技术特征摘要】
1.一种新型测试机构，包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构，其特征在于所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构，所述电机联接所述的凸轮，所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨，所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动，所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上，且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。2.根据权利要求1所述一种新型测试机构...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘骏，卓维煌，
申请(专利权)人：深圳市华腾半导体设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：