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CCD对位测试机电测系统同动装置制造方法及图纸

技术编号:9806833 阅读:98 留言:0更新日期:2014-03-23 20:03
本实用新型专利技术公开了一种CCD对位测试机电测系统同动装置,包括一电测系统;一测试机构的Z轴部;电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线短距离与各轴连接同动。通过此结构方式,不会有一端固定另端受力从动的拉扯问题,完全解决已知结构讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题;同时线材大幅缩减长度,传输速度变快,配线安装、维修均相当容易,使得成本降低。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
CCD对位测试机电测系统同动装置
本技术属于CCD对位测试机领域,特别是涉及一种电测系统结合于Z轴部有线同动装置。
技术介绍
按,于已知CCD对位测试机其电测系统(或称电测箱),以固定式安装于机台基座,与测试机构包括上Z轴部及下Z轴部的Z轴部间,以大量讯号线长距离分别对应连接传输;但是,依长期使用经验发现,所述讯号线一端固定连接于电测系统,另一端则随Z轴部作动,长期受力累积后容易发生讯号线遭扯落、段裂、松脱或接触不良等故障;另,此种连接方式须使用较长的讯号线,造成线材使用量大、且占用机台大量空间且安装或查线维修均困难;更进一步地,长距离连接的讯号线于连接至Z轴部后,还需依据设计再分别连接至Θ、X、Y、Z各轴平台处,运转时更容易造成扭线等困扰;另,目前已有美、欧厂商为解决上述问题,将电测系统中的电路板以金手指插卡方式直接结合于测试机构Z轴部;但是,此种方式技术难度高,制造成本高,显然不是理想的解决方案。有鉴于此,本技术专利技术人特以从事相关产品所累积的丰富经验,深入分析研究,开发出本技术的「C⑶对位测试机电测系统同动装置」,且于实地试用验证后发现,其确可有效达到既定的功效目标,诚为一理想的专利技术创造。
技术实现思路
本技术的目的在于解决已知CCD对位测试机其电测系统,以固定式安装于机台基座,与测试机构之Z轴部间以大量讯号线长距离分别对应连接传输,讯号线一端固定连接于电测系统,另一端随Z轴部作动,长期受力累积后容易发生讯号线遭扯落、段裂、松脱或接触不良等故障;另,此种连接方式需使用较长的讯号线,造成线材使用量大、且占用机台大量空间且安装或查线维修均困难的问题;为解决上述问题,本技术采用以下技术方案:CXD对位测试机电测系统同动装置,包括:一电测系统;一测试机构的Z轴部;所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线与各轴连接同动。进一步地,所述电测系统包括上Z轴电测系统及下Z轴电测系统;所述测试机构的Z轴部,包括上Z轴部及下Z轴部;所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,包括:上Z轴电测系统对应结合于上Z轴部同动,下Z轴电测系统对应结合于下Z轴部同动。所述各轴包括Θ、X、Y、Z任一轴。本技术的优点在于,本技术将电测系统与测试机构的Z轴部有线结合同动,其所使用的讯号线短距离与各轴连接,不会有一端固定另一端受力从动的拉扯问题,完全解决已知结构讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题;同时线材大幅缩减长度,传输速度变快,配线安装、维修均相当容易,使得成本降低。【附图说明】图1是本技术实施例的结构平面示意图。图2是本技术实施例的结构立体示意图。【具体实施方式】以下结合附图和实施例对本技术作进一步详细的描述。如图1所示,本技术公开的CCD对位测试机电测系统同动装置,包括:一电测系统I,包括上Z轴电测系统11、下Z轴电测系统12 ;—测试机构的Z轴部2,包括上Z轴部21及下Z轴部22;所述电测系统I对应结合于测试机构2的Z轴部有线同动,包括:上Z轴电测系统11对应结合于上Z轴部21同动,而下Z轴电测系统12对应结合于下Z轴部22同动;又,电测系统I对应结合于测试机构的Z轴部2同动后,并以讯号线13与各轴连接同动;所述各轴包括Θ、X、Y、Z轴任一轴;图2所示为本技术实施例的结构立体示意图;是以,由于本技术中令电测系统I与测试机构的Z轴部2结合同动,其所使用的讯号线13仅短距离与各轴连接,因此不会有一端固定另多受力从动的拉扯问题,因此,可完全解决讯号线遭拉断、脱落、接触不良的问题;同时线材大幅缩减长度,传输速度变快,配线安装、维修均相当容易,使得成本降低。而,本技术同样可以达成如前述已知金手指插卡连接的效果,然而其制造难度与成本却相对降低,达到较佳的产业利用效果。以上所述,皆仅为本技术实施例而已,当不能以此限定本技术实施的范围,即凡依本技术权利要求范围及说明书内容所作的简单的等效变化、修饰与置换,皆应属于本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种CCD对位测试机电测系统同动装置,其特征在于,包括:一电测系统;一测试机构的Z轴部;所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线与各轴连接同动。

【技术特征摘要】
1.一种CCD对位测试机电测系统同动装置,其特征在于,包括: 一电测系统; 一测试机构的Z轴部; 所述电测系统对应结合于该测试机构的Z轴部同动,并以讯号线与各轴连接同动。2.如权利要求1所述的CCD对位测试机电测系统同动装置,其特征在于,所述电测系统包括上Z轴电测系统及下Z轴电测系统;...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴茂祥
申请(专利权)人:吴茂祥
类型:实用新型
国别省市:

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