一种溴酸根离子的测定方法，其包括：将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第1工序，对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序，其中，第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】溴酸根离子的测定方法和测定装置
本专利技术涉及对试样水中的溴酸根离子浓度进行测定的溴酸根离子的测定方法和测定装置。
技术介绍
在河水等供水源水(原水)中含有溴离子(Br_)，如果对供水源水实施臭氧处理，则溴离子与臭氧发生反应，生成溴酸根离子(Br03_)。溴酸根离子被认为是致癌性物质。因此，WHO (世界卫生组织)将饮用水中溴酸根离子浓度的指导值定为10yg/L。另外，在日本，进行了于2003年5月30日公布的关于水质量基准的省令的修改，将自来水中溴酸根离子浓度的基准值定为lOyg/L。作为水中的溴酸根离子浓度的测定方法，已知离子色谱-柱后吸光光度法(1nchromatograph-post-column absorption spectrophotometry, IC-PC 法)。IC-PC 法是下述方法:用阴离子交换柱将试样水中的溴酸根离子分离，通过在溴酸根离子的洗脱液中加入硫酸和亚硝酸钠-溴化钠混合液而使溴酸根离子转变为三溴化物离子，通过测定三溴化物离子的紫外光吸光度来对溴酸根离子进行定量。在该IC-PC法中进行2阶段反应，需要在第I段反应中利用溴化钾/硫酸溶液使溴酸转变为三溴化物离子，并在第2段反应中使用亚硝酸钠溶液确保校准曲线在低浓度区域的线性度。因此，利用IC-PC法进行的溴酸根离子浓度的测定操作是繁杂的，难以适用于处理设备中。从这样的背景出发，近年来，提出了利用荧光强度对溴酸根离子浓度进行测定的方法。在该方法中，在试样水中添加作为由于与溴酸根离子的共存而进行反应的荧光物质的三氟啦嗪(TFP)和盐酸，并测量在激发波长300nm和荧光波长480nm的荧光强度，算出与不含溴酸根离子的标准试样的荧光强度差。而且，从使用荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线算出的荧光强度差，对溴酸根离子浓度进行测定。根据该方法，可以简便、迅速并且高精度地对溴酸根离子进行测定。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平9-119925号公报专利文献2:国际公开第09/116554号
技术实现思路
专利技术所要解决的课题TFP在激发波长和测定荧光波长各自为300nm和480nm时显示淬灭反应。但在激发波长为300nm、测定荧光波长为480nm时，能够确保校准曲线的线性度的最适的盐酸浓度极高，高至6N。因此，在以往的方法中，由于测定所用的盐酸浓度高，因而设备容易腐蚀，另夕卜，运行成本变高。进一步，在该测定条件下，有时校准曲线的斜率由于共存的硝酸根离子而改变，从而不能正确地测定溴酸根离子浓度。从这样的背景出发，期待提供降低了测定所必需的盐酸浓度且能够不受共存物质的影响来对溴酸根离子浓度高精度地进行测定的技术。本专利技术是鉴于上述课题而作出的，其目的在于，提供一种溴酸根离子的测定方法和测定装置，所述溴酸根离子的测定方法降低了测定所必需的盐酸浓度且能够对溴酸根离子浓度高精度地进行测定。用于解决课题的方法本专利技术涉及的溴酸根离子的测定方法包括:将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第I工序,对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序，在该溴酸根离子的测定方法中，所述第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量的工序。本专利技术涉及的溴酸根离子的测定装置具备:将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的设备，对荧光物质的荧光强度进行测量的设备，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的设备，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的设备，在该溴酸根离子的测定装置中，所述进行测量的设备对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量。专利技术效果根据本专利技术涉及的溴酸根离子的测定方法和测定装置，降低了测定所必需的盐酸浓度且能够对溴酸根离子浓度高精度地进行测定。【附图说明】图1A是表示在溴酸根离子浓度为O μ g/L的试样水中添加TFP溶液，并通过添加盐酸成为酸性条件时，TFP的激发荧光光谱的图。图1B是表示在溴酸根离子浓度为20 μ g/L的试样水中添加TFP溶液，并通过添加盐酸成为酸性条件时，TFP的激发荧光光谱的图。图2是表示盐酸浓度为6mol/L时，在各峰波长下，荧光强度(F.1.)相对于溴酸根离子浓度的变化而变化的图。图3A是表示激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时，随着盐酸浓度的变化，溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图3B是表示在激发波长和荧光波长各自为300nm和480nm时，随着盐酸浓度的变化，溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图4是表示盐酸浓度为各峰波长下的最适盐酸浓度时，在各峰波长下求出的荧光强度(F.1.)与溴酸根离子浓度的校准曲线的图。图5A是表不在激发波长和突光波长各自为264nm和400nm时,关于溴酸根离子浓度各自为O μ g/L和20 μ g/L的试样水，随着反应时间的流逝，荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图5B是表示在激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时，关于溴酸根离子浓度各自为O μ g/L和20 μ g/L的试样水，随着反应时间的流逝，荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图5C是表不在激发波长和突光波长各自为300nm和480nm时,关于溴酸根离子浓度各自为O μ g/L和20 μ g/L的试样水，随着反应时间的流逝，荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图6A是表示在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时，随着硝酸根离子浓度的变化，荧光强度(F.1.)以及溴酸根离子浓度为O μ g/L时的荧光强度与溴酸根离子浓度为20 μ g/L时的荧光强度的荧光强度差的绝对值(AF.1.)的变化的图。图6B是表示在激发波长和荧光波长本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种溴酸根离子的测定方法，其特征在于，包括：将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第1工序，对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序，在该溴酸根离子的测定方法中，所述第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300nm和400nm时之中任一情况下的荧光强度进行测量的工序。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.07.25 JP 2011-1621701.一种溴酸根离子的测定方法，其特征在于，包括:将由于与溴酸根离子的共存而荧光强度发生变化的荧光物质添加到试样水中，并通过添加盐酸成为酸性条件的第I工序，对荧光物质的荧光强度进行测量的第2工序，将不含溴酸根离子的标准试样水的荧光强度与测得的荧光强度之差作为荧光强度差而算出的第3工序，以及使用预先求出的荧光强度差与溴酸根离子浓度的校准曲线，从算出的荧光强度差算出溴酸根离子浓度的第4工序， 在该溴酸根离子的测定方法中， 所述第2工序包括对在激发波长和荧光波长各自为264nm和400nm时、激发波长和荧光波长各自为264nm和480nm时、以及激发波长和荧光波长各自为300n...
【专利技术属性】
技术研发人员：小西菜摘，长谷川绘里，田中良春，五十岚淑郎，大友孝郎，
申请(专利权)人：美得华水务株式会社，
类型：
国别省市：
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