【技术实现步骤摘要】
一种激光频率法测量波片相位延迟的装置
本专利技术涉及测量领域，尤其涉及测量领域中的一种激光频率法测量波片相位延迟的装置。
技术介绍
波片是一种常用的光学元件，在很多精密测量仪器和光学系统中都有广发应用，其相位延迟是最重要的技术指标，在涉及到偏振光的很多光学系统中都要使用，位相延迟是其最主要的技术指标，在应用中很大程度上影响着系统的性能，因此精确测量其位相延迟非常重要。当前常用的波片位相延迟测量方法测量精度一般在0.5度?I度左右，设备调整较复杂。有的需要高精度测角仪或标准四分之一波片；有的只适用于四分之一波片而不适用于半波片等的检测。此外现有测量方法不能溯源到自然基准，这些因素使其难以满足日益提高的测量要求。基于激光频率分裂技术测量波片位相延迟的方法提供了一种系统结构简单，调整方便，只需测量频差而无需高精度测角仪和标准四分之一波片的高精度波片位相延迟的测量方法:在由可沿轴线移动的独立反射镜和激光增益管组成的半外腔氦氖激光器谐振腔内插入波片，会引起激光频率分裂，每一级纵模变成偏振方向相互正交的两个，两分裂模的频率差正比于波片位相延迟。将分裂的频差与纵模间隔相比即可得到波片位相延迟。为避免多模振荡引起的频差混叠，可以分别测量同级分裂模的频差和相邻级分裂模的频差，然后加和得到激光纵模间隔。但是对于近似标准的半波片和全波片，分裂成的两纵模之一与其他级次的纵模频率很接近，激光器将发生闭锁现象，分裂出的纵模不能同时振荡。因此，用上述测量方法对半/全波片的位相延迟进行测量时需要采取特殊的措施。一种方法是采用在激光增益管两侧加横向磁场，利用横向塞曼效应消除激光器闭...
【技术保护点】
一种激光频率法测量波片相位延迟的装置，其特征在于，包括：氦氖激光器，所述氦氖激光器包括增益管和独立反射镜，所述增益管的两端分别固定着固定反射镜和增透窗片，所述独立反射镜的反射面与所述增透窗片相对，所述固定反射镜与所述独立反射镜形成所述氦氖激光器的谐振腔，所述独立反射镜的非反射面与压电陶瓷相连；波片支架，所述波片支架位于所述增透窗片和所述独立反射镜之间，所述波片支架包括平行移动导轨和固定在所述导轨上的至少二维角度调节的调节支架，待测波片和/或附加波片分别放置在所述调节支架上，并使所述待测波片和/或附加波片放在所述调节支架上时面法线相对于所述氦氖激光器的激光轴线倾斜；光强探测单元，所述光强探测单元设置在所述氦氖激光器的一侧，与所述增益管上的固定反射镜相对，用于对所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态光强进行测量；频差探测单元，所述频差探测单元设置在所述氦氖激光器的另一侧，与所述独立反射镜相对，用于测量所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态的激光的频率差；控制器，所述控制器与所述光强探测单元、所述频差探测单元以及所述压电陶瓷电相连，用于控制测量过程并输出测量结果。
【技术特征摘要】
1.一种激光频率法测量波片相位延迟的装置，其特征在于，包括: 氦氖激光器，所述氦氖激光器包括增益管和独立反射镜，所述增益管的两端分别固定着固定反射镜和增透窗片，所述独立反射镜的反射面与所述增透窗片相对，所述固定反射镜与所述独立反射镜形成所述氦氖激光器的谐振腔，所述独立反射镜的非反射面与压电陶瓷相连； 波片支架，所述波片支架位于所述增透窗片和所述独立反射镜之间，所述波片支架包括平行移动导轨和固定在所述导轨上的至少二维角度调节的调节支架，待测波片和/或附加波片分别放置在所述调节支架上，并使所述待测波片和/或附加波片放在所述调节支架上时面法线相对于所述氦氖激光器的激光轴线倾斜； 光强探测单元，所述光强探测单元设置在所述氦氖激光器的一侧，与所述增益管上的固定反射镜相对，用于对所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态光强进行测量； 频差探测单元，所述频差探测单元设置在所述氦氖激光器的另一侧，与所述独立反射镜相对，用于测量所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态的激光的频率差； 控制器，所述控制器与所述光强探测单元、所述频差探测单元以及所述压电陶瓷电相连，用于控制测量过程并输出测量结果。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋明宇，
申请(专利权)人：北京镭测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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