【技术实现步骤摘要】
用于测量研磨样片的透光率的装置
[0001 ] 本技术涉及一种用于测量研磨样片的透光率的装置。
技术介绍
目前用于测量研磨样片的透光率的装置的检测测量口直径为40毫米,致使无法实现准确检测研磨样片的透光率。鉴于此,有必要提供一种简易实用、测量准确和操作简单的测量研磨样片的透光率的装置。
技术实现思路
为解决现有技术无法准确测量研磨样片的透光率的问题,本技术提供一种改进的用于测量研磨样片的透光率的装置。由如下技术方案实现:一种用于测量研磨样片的透光率的装置,包括暗箱,光源发生器安装在暗箱内部的一侧,检测平台位于暗箱中部;在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端,在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板,所述钢板的中心设有直径为12毫米的圆孑L。所述的用于测量研磨样片的透光率的装置,所述检测平台的测量口直径为40毫米。所述的用于测量研磨样片的透光率的装置,所述钢板由弹簧夹固定在检测平台的一侧。在测量研磨过的100毫米*100毫米镀膜玻璃样片时,镀膜玻璃样片研磨的宽度为10毫米,放入本技术提供的装置后使得光源经过钢板的12毫米的圆孔,能够准确的测量到研磨的位置,使得研磨试验测量的可见光透射比更加准确并易于操作,减少因测量位置偏移造成的测量结果误差,从而达到研磨试验实用、准确和易于操作的效果。【附图说明】图1是本技术的结构示意图。附图标记说明:1光源发生器;2光束;3检测平台;4测试端;5钢板;6圆孔;7测量口;8暗箱。【具体实施方式】如图1所示,本技术一种用于测量研磨样片的透光率的装置,包括暗箱8,光源发生器I安装在暗箱8内部的一侧,检测平台3位于中部 ...
【技术保护点】
一种用于测量研磨样片的透光率的装置,其特征在于:包括暗箱,光源发生器安装在暗箱内部的一侧,检测平台位于暗箱中部;在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端,在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板,所述钢板的中心设有直径为12毫米的圆孔。
【技术特征摘要】
1.一种用于测量研磨样片的透光率的装置,其特征在于:包括暗箱,光源发生器安装在暗箱内部的一侧,检测平台位于暗箱中部;在暗箱内部的另一侧设有与该光源发生器相对的测试端,在检测平台位于光源发生器方向的一侧设有钢板,所述钢板的中心设有直...
【专利技术属性】
技术研发人员:董清世,张建强,祝宏顺,孙志夫,
申请(专利权)人:信义玻璃天津有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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