一种抗单粒子翻转的复位计数方法技术

本发明专利技术属于一种抗单粒子翻转的复位计数方法，它包括，根据定时所需要的时间以及系统时钟的周期，确定复位定时计数器的限定值以及计数器的基本位数，根据系统所需要的可靠程度，在计数器基本位数基础上扩展三位至八位，作为扩展位，将基本位与扩展位之和最终确定为所用计数器的位数；将计数器初始化；每个系统时钟周期刷新定时器。其优点是，当发生单粒子翻转事件使计数器的任意一个位由1变为0时，计数器的值都不会再出现小于限定值的情况。另外，由于计数器的值在每个系统时钟周期都会刷新一次，即使发生了单粒子翻转，其状态会在下一个系统时钟周期刷新回原值，不会产生累积效应。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于一种复位计数方法，具体涉及一种抗单粒子翻转(Single EventUpset, SEU)和安全性设计的一种应用于FPGA (Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)复位计数的方法。
技术介绍
随着FPGA在航空、航天等产品中的应用日益广泛，FPGA产品的安全性也越来越受到重视，如何更好的保证FPGA产品的安全性和质量，成为人们关注的问题。随着FPGA工艺尺寸的持续缩小，信号完整性在超深亚微米技术的FPGA设计中正在变得越来越重要。处于空间环境甚至海平面工作环境的FPGA，都有可能受到带电粒子的撞击而出现翻转，导致FPGA功能错误,这就是单粒子翻转现象(SEU)。SEU是由高能粒子轰击双稳态单元，导致逻辑位“Q”发生翻转。这种效应不是永久破坏性的，通过重写可以恢复原来的状态，属于一种软故障。FPGA的复位计数器一般用于产生FPGA的全局复位信号，使用计数器控制复位信号的有效电平持续时间，当时间到后，撤销复位，使系统进入工作状态。以8位复位计数器为例，普通计数器的实现方式为:

【技术保护点】
一种抗单粒子翻转的复位计数方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤1、根据定时所需要的时间以及系统时钟的周期，确定复位定时计数器的限定值以及计数器的基本位数，计算方法如下：计数值＝定时周期/系统时钟周期计数器的基本位数为计数值转换成二进制数后的数据表示位数；步骤2、根据系统所需要的可靠程度，在计数器基本位数基础上扩展三位至八位，作为扩展位，将基本位与扩展位之和最终确定为所用计数器的位数；其实现方式为：扩展位BIT7BIT6BIT5BIT4BIT3BIT2BIT1BIT0步骤3、将计数器初始化；步骤4、计数器在每个时钟周期内累加1次，并将计数值与限定值进行比较，当计数值小于限定值时，复位信号输出有效状态，当计数值超过限定值时，计数器停止计数，复位信号输出无效状态，将计数器基本位设置为限定值，扩展位全部置为1；步骤5、每个系统时钟周期刷新定时器。

【技术特征摘要】
1.一种抗单粒子翻转的复位计数方法，其特征在于:包括以下步骤， 步骤1、根据定时所需要的时间以及系统时钟的周期，确定复位定时计数器的限定值以及计数器的基本位数，计算方法如下: 计数值=定时周期/系统时钟周期...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨楠，张清，彭鸣，
申请(专利权)人：北京京航计算通讯研究所，
类型：发明
国别省市：