用于校正占空比的装置制造方法及图纸

技术编号:9742389 阅读:62 留言:0更新日期:2014-03-07 06:19
本发明专利技术公开了一种用于校正占空比的装置。本发明专利技术的装置调整输入信号的信号宽度,均衡输入信号的宽度,将输入信号反相,均衡反相信号的宽度,比较均衡后的信号,以及输出两个经比较的均衡后的信号之间的差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校正占空比的装置
按照本专利技术的示例性实施例的教导一般地涉及一种用于校正占空比(dutycycle)的装置。
技术介绍
一般地,用于校正占空比的装置是广泛地用作数字系统中的校正电路、电源电路中使用的开关调节器或者信号同步系统中的延迟同步环路的电路,并且用来通过经由内部或外部时钟信号的占空比的校正发送精确的数据来减少误差率。换而言之,由路径延迟或者反射路径生成的占空系数(duty ratio)的变化在数字系统中按50%来校正,以使得系统的采样信号能够精确地检测数据。在电源电路中使用的开关调节器起到通过调整开关的精确的占空系数来提高性能的作用。进一步,精确地调整和同步接收的信号数据的占空系数以提高延迟同步环路中的接收灵敏度。但是,因为在传统的占空比校正装置中安装脉冲发生器的必要性,所以出现缺点,例如,其中需要复杂电路以用于维持精确的脉冲宽度,并且校正占空比的范围受限。另一缺点是,在传统的占空比校正装置中使用的延迟器具有本征延迟误差,其进一步导致不精确的占空系数的生成。
技术实现思路
技术问题相应地,牢记在现有技术中出现的以上缺点或者问题,已经做出本专利技术,并且本专利技术的目的是提供一种用于校正占空比的装置(此后称作占空比校正装置,简称装置),其配置成最小化由于不使用脉冲发生器或延迟器而引起的本征误差。本专利技术的另一目的是提供一种用于校正占空比的装置,其配置成通过设计对工艺变化和温度变化不敏感的系统来最小化由于输入信号的占空系数的变化而导致的系统性能的降级。技术方案本专利技术的目的是全部或部分地解决以上问题和/或缺点中的至少一个或多个并且至少提供此后描述的优点。为了全部或部分地达到至少以上目的,并且如所体现和宽泛地描述的按照本专利技术的目的,以及在本专利技术的一个总体方案,提供了一种用于校正占空比的装置(此后称作占空比校正装置,简称装置),该装置配置成校正输入信号的占空系数,该装置包括:调整部,其配置成调整输入信号的信号宽度;第一均衡单元,其配置成均衡调整部的输出信号的宽度;反相器,其配置成将调整部的输出信号反相;第二均衡单元,其配置成均衡反相器的输出信号的宽度;以及比较器,其配置成比较第一均衡单元和第二均衡单元的输出信号,以及输出第一均衡单元的输出信号和第二均衡单元的输出信号之间的差。在本专利技术的某示例中,调整部可以配置成使用比较器的输出来调整输入信号的宽度。在本专利技术的某示例中,装置可以进一步包括选择器,所述选择器配置成选择第一均衡单元的输出信号和第二均衡单元的输出信号的比率,以允许比较器响应于该比率而输出差。在本专利技术的某示例中,装置可以进一步包括第一缓冲器,所述第一缓冲器配置成临时存储调整部的输出以及将调整部的所述输出输出到第一均衡单元。在本专利技术的某示例中,反相器可以配置成将第一缓冲器的输出反相。在本专利技术的某示例中,装置可以进一步包括第二缓冲器,第二缓冲器配置成临时存储和输出第一缓冲器的输出。在本专利技术的某示例中,当调整部的输出的占空系数与反相器的输出的占空系数匹配时,将比较器的输出输入到调整部,直到比较器的输出基本上变为零。在本专利技术的某示例中,调整部包括:控制器,其配置成响应于比较器的输出而控制输入信号的宽度;以及第一开关,其配置成接通或关断控制器的操作。在本专利技术的某示例中,第一均衡单元和第二均衡单元中的每一个都包括:电流源,其配置成提供电流;第二开关,其配置成响应于输入电压的高电平和低电平而切换从电流源提供的电流;以及LPF(低通滤波器),其配置成响应于第二开关的切换而使用电流源的电流来均衡输入的电压的宽度,以及配置成输出均衡后的宽度。在本专利技术的某示例中,LPF可以包括电容器。有益效果根据本专利技术的用于校正占空比的装置具有以下有益效果:由于不使用传统上用在占空比校正装置中的脉冲发生器,所以能够使系统小型化并且能够降低功耗。另一有益效果在于,不使用产生本征延迟误差的延迟器从而大幅提高精度。【附图说明】通过考虑结合所附附图的以下具体描述,能够容易地理解本专利技术的教导,其中:图1是说明根据现有技术的用于校正占空比的装置的配置的方框图;图2是说明在图1的每个节点处的信号周期的示意图;图3是说明根据本专利技术的用于校正占空比的装置的配置的方框图;图4a是根据本专利技术的示例性实施例的图3的占空调整器的具体视图;图4b是根据本专利技术的示例性实施例的说明图4a的实际实现的电路图;图5a是根据本专利技术的另一示例性实施例的图3的占空调整器的具体视图;图5b是根据本专利技术的示例性实施例的说明图5a的实际实现的电路图;图6和7是根据本专利技术的示例性实施例的图3的平均值检测器的具体配置图;图8是根据本专利技术的示例性实施例的图6和7的平均值检测器的输入波形;以及图9是根据本专利技术的第二示例性实施例的说明用于校正占空比的装置的配置的方框图。【具体实施方式】以下描述不意图将本专利技术限制到这里公开的形式。由此,变化和修正与以下教导相称,以及相关技术的技能和知识在本专利技术的范围内。这里描述的实施例进一步意图解释实践本专利技术的已知模式并且意图使得本领域其他技术人员能够在这样的、或者其他实施例中利用本专利技术以及以本专利技术的特别的(多个)应用或(多个)用途所需要的各种修正来利用本专利技术。将理解到,当在本说明书中使用时,术语“包含(includes)”和/或“包含(including)”规定了记载的特征、区域、整体、步骤、操作、元件、和/或组件的存在,但是不排除一个或更多个其他特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件、和/或其中的组的存在或添加。换而言之,在具体说明书和/或权利要求书中使用术语“包含(including)”^包含(includes)”、“具有(having)”、“具有(has)”、“具有(with)”、或其变形,以代表以类似于术语“包括(comprising)”的方式的非详尽包含。进一步,“示例”仅仅意图标识实例,而非最佳的。还意识到,为了简化目的和易化理解,这里描述的特征、层和/或元件以特定的尺寸和/或相对于彼此的取向来说明,并且意识到实际尺寸和/或取向可以实质上不同于所描述的。换而言之,为清楚起见,在附图中,可以放大或缩小层、区域、和/或其他元件的大小和相对大小。在通篇中同样的标记指代同样的元件并且将省略彼此相同的解释。诸如“此后”、“然后”、“接下来”、“因此”等的词语不意图限制工艺的顺序;这些词仅仅用于通过方法的描述引导读者。将理解到,当将元件称作“连接”或者“耦合”到另一元件时,其能够直接地连接到或者耦合到其他元件或者可以存在中间元件。相反,当将元件称作“直接连接”或者“直接耦合”到另一元件时,不存在中间元件。如这里所使用的,单数形式“一(a)”、“一个(an)”以及“该(the ) ”意图也包括复数形式,除非上下文清楚地指示其他情形。此后,参考所附附图,将首先描述根据现有技术的用于校正占空比的装置,并且稍后将描述根据本专利技术的用于校正占空比的装置。图1是说明根据现有技术的用于校正占空比的装置(此后称作占空比校正装置,或者简称装置)的配置的方框图,以及图2是说明图1的每个节点处的信号周期的示意图。参见图1和2,根据现有技术的装置可以包括脉冲发生器(100)、半周期时间延迟器(110)、匹配延迟器(120)以及SR (置位复位)锁存器(130)。再次参本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于校正占空比的装置,所述装置配置成校正输入信号的占空系数,所述装置包括:调整部,其配置成调整所述输入信号的信号宽度;第一均衡单元,其配置成均衡所述调整部的输出信号的宽度;反相器,其配置成将所述调整部的所述输出信号反相;第二均衡单元,其配置成均衡所述反相器的输出信号的宽度;比较器,其配置成比较所述第一均衡单元和第二均衡单元的输出信号,以及输出所述第一均衡单元的输出信号和第二均衡单元的输出信号之间的差。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.06.24 KR 10-2011-00618811.一种用于校正占空比的装置,所述装置配置成校正输入信号的占空系数,所述装置包括: 调整部,其配置成调整所述输入信号的信号宽度; 第一均衡单元,其配置成均衡所述调整部的输出信号的宽度; 反相器,其配置成将所述调整部的所述输出信号反相; 第二均衡单元,其配置成均衡所述反相器的输出信号的宽度; 比较器,其配置成比较所述第一均衡单元和第二均衡单元的输出信号,以及输出所述第一均衡单元的输出信号和第二均衡单元的输出信号之间的差。2.如权利要求1所述的装置,其中所述调整部配置成使用所述比较器的输出来调整所述输入信号的宽度。3.如权利要求1所述的装置,进一步包括: 选择器,其配置成选择所述第一均衡单元的输出信号和第二均衡单元的输出信号的比率以允许所述比较器响应于所述比率而输出所述差。4.如权利要求1所述的装置,进一步包括: 第一缓冲器,其配置成临时存储所述调整部的输出以及将所述调整部的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:宣锺局
申请(专利权)人:LS产电株式会社
类型:
国别省市:

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