【技术实现步骤摘要】
天线检测装置
本专利技术涉及一种天线检测装置，尤其涉及一种是用不同尺寸移动通信装置的天线检测装置。
技术介绍
天线作为移动通信装置的关键组件之一，在研发过程中或出厂前均需要进行参数测试。现有技术中的天线测试过程大致为:将一待测天线放置至屏蔽箱内，该待测天线的接触点通过导线或电缆线电连接至天线测试装置，如矢量网络分析仪等。近年来，随着科技的不断进步，快速发展出各式各样不同尺寸和类型的移动通信装置，因此在移动通信装置的天线的检测过程中，需要依移动通信装置的尺寸和类型制作专属的天线检测装置，同时配合网络分析仪(Network Analyzer)以测试其天线的参数，因而容易造成资源的浪费和成本的增加。如图1所示，图1为现有技术中的天线检测装置，天线检测装置10包括基座11、承载框架12、接地板14、测试探针13及基座柱16，其中，基座11由木材或压克力材质所构成，基座11的侧边设有基座柱16，基座11的上方依次设有接地板14及承载框架12，且接地板14与承载框架12的侧边分别依次固定于基座柱16上，接地板14位于承载框架12的下方，其中，承载框架12用以承载具有待...
【技术保护点】
一种天线检测装置，其特征在于，该天线测试装置包括：基座；承载平台，该承载平台设置于该基座上，且该承载平台具有承载面用于承载待测装置，该待测装置具有第一待测天线；以及测试结构，该测试结构设置于该承载平台与该基座之间，且该测试结构包括：第一框架；第一滑动件，该第一滑动件设置于该第一框架上，且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动；第一接地板，该第一接地板设置于该第一滑动件上；及第一测试探针，该第一测试探针设置于该接地板上，通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。
【技术特征摘要】
1.一种天线检测装置，其特征在于，该天线测试装置包括: 基座; 承载平台，该承载平台设置于该基座上，且该承载平台具有承载面用于承载待测装置，该待测装置具有第一待测天线；以及 测试结构，该测试结构设置于该承载平台与该基座之间，且该测试结构包括: 第一框架； 第一滑动件，该第一滑动件设置于该第一框架上，且该第一滑动件可相对该第一框架于第一方向往复移动； 第一接地板，该第一接地板设置于该第一滑动件上 '及 第一测试探针，该第一测试探针设置于该接地板上，通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。2.如权利要求1所述的天线检测装置，其特征在于，该第一接地板可相对于该第一滑动件于第二方向上往复移动，该第一方向与该第二方向相异。3.如权利要求1所述的天线检测装置，其特征在于，该天线测试装置还包括基座柱，该基座柱设置于该基座的第一侧边，该基座柱具有滑槽，该第一框架具有凸起，该凸起可相对该滑槽上下移动地设置于该滑槽内，以调节该测试结构与该待测装置之间的距离，使得该第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。4.如权...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐绍恩，
申请(专利权)人：苏州佳世达电通有限公司，佳世达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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