一种天线测试系统技术方案

本发明专利技术技术方案公开了一种天线测试系统，包括：微波暗箱；固定支架，安装有探针天线；可调节支架，安装有待测天线；回波模拟器，回波模拟器与探针天线以及待测天线通信连接；控制主机，控制主机与调节支架以及回波模拟器通信连接；其中，当对待测天线进行性能测试时，可调节支架用于根据位置调节指令调节待测天线相对于探针天线的位置，使得待测天线的位置满足测试要求；回波模拟器用于根据预设的测试指令激励待测天线发射测试信号，根据探针天线接收的测试信号生成待处理信号，将待处理信号发送给控制主机；控制主机用于生成位置调节指令以及测试指令，还用于对待处理信号进行信号处理，并显示信号处理结果。该天线测试系统结构简单，成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及天线测试
，更具体的说，涉及一种天线测试系统。
技术介绍
天线是射频系统(如通讯基站、无线路由、雷达等)中不可缺少的部件，天线用于发射和接收电磁波信号，天线性能的优劣很大程度上决定着整个射频系统的性能，如发射距离、发射角度、覆盖范围、发射效率等。天线工程师通过计算机软件对天线进行设计和优化，待天线生产之后，天线工程师需要对天线进行精确测试，判断天线的工作性能，以便确定天线是否适合特定的应用。现有的天线测试系统可分为远场测试系统和近场测试系统。目前，无论是远场测试系统，还是近场测试系统，一般都采用标准测试仪器，如射频信号源、频谱仪、网络分析仪等，测试系统结构复杂，成本高。
技术实现思路
为了解决上述问题本专利技术提供了一种天线测试系统，所述天线测试系统结构简单，成本低。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种天线测试系统，该天线测试系统包括：微波暗箱；设置在所述微波暗箱内的固定支架，所述固定支架安装有探针天线；设置在所述微波暗箱内的可调节支架，所述可调节支架安装有待测天线；设置在所述微波暗箱外的回波模拟器，所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；设置在所述微波暗箱外的控制主机，所述控制主机与所述可调节支架以及所述回波模拟器通信连接；其中，当对所述待测天线进行性能测试时，所述可调节支架用于根据位置调节指令调节所述待测天线相对于所述探针天线的位置，使得所述待测天线的位置满足测试要求；所述回波模拟器用于根据预设的测试指令激励所述待测天线发射测试信号，根据所述探针天线接收的所述测试信号生成待处理信号，将所述待处理信号发送给所述控制主机；所述控制主机用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令，还用于对所述待处理信号进行信号处理，并显示信号处理结果。优选的，在上述天线测试系统中，所述微波暗箱包括：内表面以及外表面；所述内表面具有主反射区域以及次反射区域，所述主反射区域的表面涂覆有第一吸波材料，所述次反射区域涂覆有第二吸波材料，所述第一吸波材料对电磁波的反射率小于所述第二吸波材料对电磁波的反射率。优选的，在上述天线测试系统中，所述外表面设置有电磁屏蔽层。优选的，在上述天线测试系统中，所述回波模拟器包括：信号处理板卡以及射频组件；所述射频组件与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；所述信号处理板卡与所述射频组件以及所述控制主机通信连接；所述信号处理板卡用于根据所述测试指令生成时域基带信号；所述射频组件通过所述信号处理板卡与所述控制主机进行数据交互；所述射频组件用于根据预设的本振信号以及所述时域基带信号生成激励信号，所述激励信号用于激励所述待测天线发射测试信号；所述射频组件还用于根据所述探针天线接收的所述测试信号以及所述本振信号生成所述待处理信号。优选的，在上述天线测试系统中，所述射频组件包括：上变频器、下变频器以及本振模块；所述上变频器与所述待测天线通信连接；所述下变频器与所述探针天线通信连接；所述本振模块与所述上变频器以及所述下变频器通信连接；所述本振模块用于生成所述本振信号；所述上变频器用于根据所述本振信号以及所述时域基带信号生成所述激励信号；所述下变频器用于根据所述探针天线接收的所述测试信号以及所述本振信号生成所述待处理信号。优选的，在上述天线测试系统中，所述信号处理板卡包括：模数转换模块、数模转换模块以及现场可编程逻辑器件；所述模数转换模块与所述下变频器通信连接；所述数模转换模块与所述上变频器通信连接；所述现场可编程逻辑器件与所述控制主机、所述模数转换模块以及所述数模转换模块通信连接；其中，所述本振模块与所述模数转换模块、所述数模转换模块以及所述现场可编程逻辑器件均通信连接。优选的，在上述天线测试系统中，所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线分别通过射频电缆实现通信连接。优选的，在上述天线测试系统中，所述控制主机包括：控制器以及显示装置；其中，所述控制器与所述显示装置以及所述回波模拟器通信连接；所述控制器用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令，还用于对所述待处理信号进行信号处理，并驱动所述显示装置显示信号处理结果。优选的，在上述天线测试系统中，所述显示装置具有三维显示功能以及二维显示功能；其中，所述三维显示功能包括三维球坐标、三维极坐标以及三维直角坐标显示功能；所述二维显示功能包括二维直角坐标以及二维极坐标显示功能。优选的，在上述天线测试系统中，所述控制主机还用于通过调节所述可调节支架调节所述待测天线的位置；所述回波模拟器通过所述探针天线采集所述待测天线相对于所述探针天线不同的近场位置时的时域近场信号；所述控制主机还用于根据所述时域近场信号进行远近场变换，计算出所述待测天线的远场参数，以及再根据口面反演算计算所述待测天线的口径场。通过上述描述可知，本专利技术技术方案提供的天线测试系统包括：微波暗箱；设置在所述微波暗箱内的固定支架，所述固定支架安装有探针天线；设置在所述微波暗箱内的可调节支架，所述可调节支架安装有待测天线；设置在所述微波暗箱外的回波模拟器，所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；设置在所述微波暗箱外的控制主机，所述控制主机与所述可调节支架以及所述回波模拟器通信连接；其中，当对所述待测天线进行性能测试时，所述可调节支架用于根据位置调节指令调节所述待测天线相对于所述探针天线的位置，使得所述待测天线的位置满足测试要求；所述回波模拟器用于根据预设的测试指令激励所述待测天线发射测试信号，根据所述探针天线接收的所述测试信号生成待处理信号，将所述待处理信号发送给所述控制主机；所述控制主机用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令，还用于对所述待处理信号进行信号处理，并显示信号处理结果。可见，本专利技术技术方案所述天线测试系统中，信号的产生以及采集均由回波模拟器完成，信号完全相参和同步，避免了常规天线测试系统信号不同步的问题。同时，测试系统包括微波暗箱、两个天线支架、回波模拟器以及控制主机，结构简单，成本低。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种天线测试系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的另一种天线测试系统的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。正如
技术介绍
中所述，现有的天线测试系统结构复杂，成本高。且现有的天线测试系统中，远场测试以及近场测试需要不同的测试系统。在传统的远场测试系统中，发射和接收天线分别位于对方的远场处，两者通常需隔得足够远以模拟想要的工作环境,远场测量可以在室内或室外测试场进行，通常需要较大的场地。传统的近场测试系统是虽然需要的场地空间小，但需要对空间内部进行特殊设计，来减少来自墙体、地板和天花板的反射。为了解决上述问题，本专利技术实施例提供了一种天本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天线测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱；设置在所述微波暗箱内的固定支架，所述固定支架安装有探针天线；设置在所述微波暗箱内的可调节支架，所述可调节支架安装有待测天线；设置在所述微波暗箱外的回波模拟器，所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；设置在所述微波暗箱外的控制主机，所述控制主机与所述可调节支架以及所述回波模拟器通信连接；其中，当对所述待测天线进行性能测试时，所述可调节支架用于根据位置调节指令调节所述待测天线相对于所述探针天线的位置，使得所述待测天线的位置满足测试要求；所述回波模拟器用于根据预设的测试指令激励所述待测天线发射测试信号，根据所述探针天线接收的所述测试信号生成待处理信号，将所述待处理信号发送给所述控制主机；所述控制主机用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令，还用于对所述待处理信号进行信号处理，并显示信号处理结果。

【技术特征摘要】
1.一种天线测试系统，其特征在于，包括：微波暗箱；设置在所述微波暗箱内的固定支架，所述固定支架安装有探针天线；设置在所述微波暗箱内的可调节支架，所述可调节支架安装有待测天线；设置在所述微波暗箱外的回波模拟器，所述回波模拟器与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；设置在所述微波暗箱外的控制主机，所述控制主机与所述可调节支架以及所述回波模拟器通信连接；其中，当对所述待测天线进行性能测试时，所述可调节支架用于根据位置调节指令调节所述待测天线相对于所述探针天线的位置，使得所述待测天线的位置满足测试要求；所述回波模拟器用于根据预设的测试指令激励所述待测天线发射测试信号，根据所述探针天线接收的所述测试信号生成待处理信号，将所述待处理信号发送给所述控制主机；所述控制主机用于生成所述位置调节指令以及所述测试指令，还用于对所述待处理信号进行信号处理，并显示信号处理结果。2.根据权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述微波暗箱包括：内表面以及外表面；所述内表面具有主反射区域以及次反射区域，所述主反射区域的表面涂覆有第一吸波材料，所述次反射区域涂覆有第二吸波材料，所述第一吸波材料对电磁波的反射率小于所述第二吸波材料对电磁波的反射率。3.根据权利要求2所述的天线测试系统，其特征在于，所述外表面设置有电磁屏蔽层。4.根据权利要求1所述的天线测试系统，其特征在于，所述回波模拟器包括：信号处理板卡以及射频组件；所述射频组件与所述探针天线以及所述待测天线通信连接；所述信号处理板卡与所述射频组件以及所述控制主机通信连接；所述信号处理板卡用于根据所述测试指令生成时域基带信号；所述射频组件通过所述信号处理板卡与所述控制主机进行数据交互；所述射频组件用于根据预设的本振信号以及所述时域基带信号生成激励信号，所述激励信号用于激励所述待测天线发射测试信号；所述射频组件还用于根据所述探针天线接收的所述测试信号以及所述本振信号生成所述待处理信号。5.根据权利要求4所述的天线测试系统，其特征在于，所述射频组件...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾翔，
申请(专利权)人：北京润科通用技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11