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本发明关于一种天线检测装置,其包括:基座;承载平台,该承载平台设置于该基座上,且该承载平台具有承载面用于承载待测装置,该待测装置具有第一待测天线;以及测试结构,该测试结构设置于该承载平台与该基座之间,且该测试结构包括:第一框架;第一滑动件,...该专利属于苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州佳世达电通有限公司;佳世达科技股份有限公司授权不得商用。