负型光刻胶剥离剂组合物制造技术

本发明专利技术提供了一种负型光刻胶剥离剂组合物，其包括多元醇混合物、氢氧化季氨盐、醇钠、吗啉、表面活性剂、水溶性有机溶剂、防腐蚀剂混合物、有机胺和去离子水。该负型光刻胶剥离剂组合物对光刻胶层具有优良的剥离性，且不会对金属布线材料产生浸蚀，在半导体电路元件制造工序中，具有很大的优势。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种负型光刻胶剥离剂组合物，其包括多元醇混合物、氢氧化季氨盐、醇钠、吗啉、表面活性剂、水溶性有机溶剂、防腐蚀剂混合物、有机胺和去离子水。该负型光刻胶剥离剂组合物对光刻胶层具有优良的剥离性，且不会对金属布线材料产生浸蚀，在半导体电路元件制造工序中，具有很大的优势。【专利说明】负型光刻胶剥离剂组合物
本专利技术涉及印刷电路板平板印刷
，尤其涉及一种用于显影过程之后剥离负型光刻胶的负型光刻胶剥离剂组合物，更进一步涉及一种在去除用于布图金属布线的光刻胶时，能够降低对金属布线的腐蚀，且能达到优秀的剥离效果的负型光刻胶剥离剂组合物。
技术介绍
光刻胶是在照相平版印刷工艺中必不可少的物质，而照相平版印刷工艺一般应用于集成电路、大规模集成电路、超大规模集成电路等半导体装置和液晶显示器、平板显示器等图像显示装置的制造。基板上光致抗蚀剂的去除技术有:湿式剥离，其使用被称之为光致抗蚀剂剥离液的化学药品，使光致抗蚀溶解或部分溶解，由此从基板上剥离光致抗蚀剂；以及干式剥离，其使用被称之为灰化成分的处于等离子状态的氧气等将光致抗蚀剂以及光致抗蚀剂变质层灰化去除。可以选择适于各自的制造工序的去除技术。以前，对于光致抗蚀剂以及光致抗蚀剂变质层的去除，主要使用灰化方法。另外，在只采用灰化方法而难以从基板上完全去除来自光致抗蚀剂以及光致抗蚀剂变质层的灰化物的情况下，灰化处理之后，并用基于光致抗蚀剂残渣去除液的处理。再者，对于灰化去除比较困难的侧壁保护沉积膜的去除，也可以使用湿式剥离。在此，所谓光致抗蚀剂残渣，意味着下列的残渣全部包括在内:灰化处理后残留在基板表面的不完全灰化物即光致抗蚀剂残渣，残留在布线以及残留在导通孔侧面的侧壁聚合物(也称为侧壁保护膜)，以及残留在导通孔侧面和底面的有机金属聚合物、金属氧化物等。在采用湿式剥离的情况下，可以使用烷基苯和烷基苯磺酸的酸性光致抗蚀剂剥离液、以及烷醇胺等的碱性光致抗蚀剂剥离液等，其用于通过离子照射和热形成的光致抗蚀剂变质层，但难以剥离干蚀刻形成的光致抗蚀剂变质层。因此，提出了由烷醇胺、二羟基苯以及二甲亚砜构成的光致抗蚀剂剥离液等。另外，残留在布线以及导通孔侧面的侧壁聚合物和在残留导通孔侧面以及底面的有机金属聚合物等光致抗蚀剂残渣的一部分、以及布线材料等的被蚀刻材料，通过干蚀刻而实现无机化。因此，作为具有剥离光致抗蚀剂和去除无机成分这两种功能的洗涤组合物，也提出了以羟胺和烷醇胺为主成分的组合物。另外，作为仅去除无机成分的洗涤剂，已经提出了氟化铵、四烷基醋酸铵、二甲基甲酰胺以及水构成的组合物。但是，在使用这些光致抗蚀剂剥离液或光致抗蚀剂残渣去除液的情况下，为了不腐蚀布线材料，需要进行采用异丙醇等有机溶剂的冲洗，为了完全去除光致抗蚀剂残渣，需要进行高温下的处理。再者，光致抗蚀剂残渣与布线材料的组成类似，所以采用这些光致抗蚀剂残渣去除液进行基板处理时，存在的问题是对布线材料造成腐蚀，从而影响产品的质量。因此，如何实现能够在进行光刻胶剥离的过程中防止对布线材料造成腐蚀成为人们研究的重点，本专利技术就是在此基础上提出的一种负型光刻胶剥离剂组合物，其对光刻胶层具有优良的剥离性，且不会对金属布线材料产生浸蚀。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种新型的负型光刻胶剥离剂组合物，其对光刻胶层具有优良的剥离性，且不会对金属布线材料产生浸蚀，在半导体电路元件制造工序中，具有很大的优势。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种负型光刻胶剥离剂组合物，其包括多元醇混合物、氢氧化季氨盐、醇钠、吗啉、表面活性剂、水溶性有机溶剂、防腐蚀剂混合物、有机胺和去尚子水。其中，所述负型光刻胶剥离剂组合物中各组分的重量百分比为多元醇混合物10?20质量％、氢氧化季氨盐3?10质量％、醇钠15?25质量％、吗啉3?5质量％、表面活性剂2?6质量％、水溶性有机溶剂5?20质量％、防腐蚀剂混合物8?12质量％、有机胺10%?30%和佘量的去尚子水。其中，所述负型光刻胶剥离剂组合物中各组分的重量百分比为多元醇混合物15质量％、氢氧化季氨盐5质量％、醇钠20质量％、吗啉5质量％、表面活性剂4质量％、水溶性有机溶剂15质量％、防腐蚀剂混合物10质量％、有机胺20%和佘量的去离子水。其中，所述多元醇混合物具体为山梨糖醇和木糖醇。其中，所述氢氧化季铵盐为四甲基氢氧化铵、四乙基氢氧化铵、四丙基氢氧化铵、四丁基氢氧化铵、三甲基乙基氢氧化铵、二甲基二乙基氢氧化铵、三甲基(2-羟乙基)氢氧化铵(胆碱)、三乙基(2-羟乙基)氢氧化铵中的一种或几种混合。其中，所述醇钠为甲醇钠、乙醇钠、正丙醇钠、异丙醇钠、叔丁醇钠中的一种或几种混合。其中，所述水溶性有机溶剂为N-甲基-2-吡咯烷酮、1，3-二甲基-2-咪唑啉酮、二乙二醇单丁醚或二甲亚砜中的一种或几种混合。其中，所述的有机胺为一级脂肪胺、二级脂肪胺、三级脂肪胺。其中，所述防腐蚀剂混合物是肉桂基咪唑啉和1，3_双(2-苯并咪唑基)-2_氧杂丙烷构成的混合物，所述肉桂基咪唑啉和1，3_双(2-苯并咪唑基)-2-氧杂丙烷混合质量比为1:L 2?1.5。其中，所述肉桂基咪唑啉的制备方法具体为:将IOml分析纯的二乙烯三胺置于四口烧瓶中，升温至150°C，滴入3ml分析纯甲苯，添加22g分析纯的肉桂酸，在氮气环境下进行搅拌，再升温至170°C开始酰化脱水，反应5h以后，升温至240°C开始环化脱水3h，反应完毕后将其置于真空干燥箱中干燥，得到棕褐色粘稠状的肉桂基咪唑啉，反应式如下:【权利要求】1.一种负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:包括多元醇混合物、氢氧化季氨盐、醇钠、吗啉、表面活性剂、水溶性有机溶剂、防腐蚀剂混合物、有机胺和去离子水。2.如权利要求1所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述负型光刻胶剥离剂组合物中各组分的重量百分比为多元醇混合物10~20质量％、氢氧化季氨盐3~10质量％、醇钠15~25质量％、吗啉3~5质量％、表面活性剂2~6质量％、水溶性有机溶剂5~20质量％、防腐蚀剂混合物8~12质量％、有机胺10%~30%和佘量的去离子水。3.如权利要求1或2所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述负型光刻胶剥离剂组合物中各组分的重量百分比为多元醇混合物15质量％、氢氧化季氨盐5质量％、醇钠20质量％、吗啉5质量％、表面活性剂4质量％、水溶性有机溶剂15质量％、防腐蚀剂混合物10质量％、有机胺20%和佘量的去离子水。4.如权利要求1至3所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述多元醇混合物具体为山梨糖醇和木糖醇。5.如权利要求1至4所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述氢氧化季铵盐为四甲基氢氧化铵、四乙基氢氧化铵、四丙基氢氧化铵、四丁基氢氧化铵、三甲基乙基氢氧化铵、二甲基二乙基氢氧化铵、三甲基(2-羟乙基)氢氧化铵(胆碱)、三乙基(2-羟乙基)氢氧化铵中的一种或几种混合。6.如权利要求1至5所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述醇钠为甲醇钠、乙醇钠、正丙醇钠、异丙醇钠、叔丁醇钠中的一种或几种混合。7.如权利要求1至6所述的负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于:所述的有机胺为一级脂肪胺、二级脂肪胺、三级脂肪胺。8.如权利要求1至7本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种负型光刻胶剥离剂组合物，其特征在于：包括多元醇混合物、氢氧化季氨盐、醇钠、吗啉、表面活性剂、水溶性有机溶剂、防腐蚀剂混合物、有机胺和去离子水。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘超，
申请(专利权)人：刘超，
类型：发明
国别省市：