一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法技术

本发明专利技术公开了一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，具体步骤如下：步骤一：建立各单元的端口扩展D矩阵；步骤二：建立各单元之间的综合端口关联矩阵；步骤三：建立初始合成D矩阵；步骤四：建立最终合成D矩阵；步骤五：根据合成D矩阵进行诊断；本发明专利技术提供了从单元端口扩展D矩阵建立、综合端口关联矩阵建立到D矩阵合成的一套完整方法；利用本方法可以在单元的D矩阵基础上，直接进行合成得到产品的D矩阵，避免了将单元模型合成产品模型的过程；在产品模型巨大时，可以采用本方法进行分项搜索，建立各单元的D矩阵，然后再合成得到产品的D矩阵，提高搜索效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，具体步骤如下：步骤一：建立各单元的端口扩展D矩阵；步骤二：建立各单元之间的综合端口关联矩阵；步骤三：建立初始合成D矩阵；步骤四：建立最终合成D矩阵；步骤五：根据合成D矩阵进行诊断；本专利技术提供了从单元端口扩展D矩阵建立、综合端口关联矩阵建立到D矩阵合成的一套完整方法；利用本方法可以在单元的D矩阵基础上，直接进行合成得到产品的D矩阵，避免了将单元模型合成产品模型的过程；在产品模型巨大时，可以采用本方法进行分项搜索，建立各单元的D矩阵，然后再合成得到产品的D矩阵，提高搜索效率。【专利说明】一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法
本专利技术涉及一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，属于测试性
。
技术介绍
故障-测试相关性矩阵(简称相关性矩阵或D矩阵)，是被测对象的组成单元故障与测试相关性的一种表示形式，是对产品进行测试性分析和预计以及构造故障字典和诊断策略实施故障诊断的基础。假设被测单元由m个部件组成，各部件故障用Fi表示，其在初选η个测试Tj上的反应用du表示。根据功能框图和信号流程分析可得到D矩阵:【权利要求】1.一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，具体步骤如下:步骤一:建立各单元的端口扩展D矩阵单元的端口扩展D矩阵为: 2.根据权利要求1所述的一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，所述的步骤一中建立单元的端口扩展D矩阵，具体包括以下几个步骤: (1)确定产品的单元组成信息、各单元的相关性框图模型和D矩阵； 单元组成信息包括:单元名称、单元的故障、单元的测试数、单元的输入端口和单元的输出端口，填写到表1所不的 表格中； 表1单元组成信息 3.根据权利要求1或2所述的一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，所述的步骤二中建立各单元之间的综合端口关联矩阵，具体包括以下几个步骤: (1)隐藏单元内部细节，建立各单元端口之间的相关性框图模型； (2)根据表1中各单元的输入端口和输出端口信息，建立空的综合端口关联矩阵； (3)选择一个输出端口，根据其向后的信号流向，确定出与其直接相连的输入端口，将综合端口关联矩阵中这些输入端口对应的cu处填写“I” ； (4)选择下一个输出端口，重复步骤(3)，直到所有输出端口分析完毕； (5)将综合端口关联矩阵中其余的处填写“O”。4.根据权利要求1或2所述 的一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，所述的步骤三中初始合成D矩阵，具体为:根据表1中的各单元故障和测试组成，建立空的合成D矩阵；根据各单元的D矩阵，将D矩阵中为“I”的数值填写到合成D矩阵相应故障与测试交叉位置，形成初始合成D矩阵。5.根据权利要求1或者2所述的一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，还包括步骤五，根据合成D矩阵进行诊断，具体为: 执行测试，获取各测试的结果，当测试结果中存在“ I”时，说明系统存在故障，需要进行诊断； 将测试结果按合成D矩阵中的测试排列次序进行排列，构成测试结果状态行，与合成D矩阵的每一行进行对比；在合成D矩阵，与测试结果状态行相同的行对应的故障，即是发生的故障。【文档编号】G06F17/30GK103488703SQ201310401512【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年9月6日 优先权日:2013年9月6日 【专利技术者】石君友, 陈龙, 王晓天, 彭银银 申请人:北京航空航天大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种考虑端口交联关系的D矩阵合成方法，具体步骤如下：步骤一：建立各单元的端口扩展D矩阵单元的端口扩展D矩阵为：式中：表示系统中第p个单元的端口扩展D矩阵；T1pT2p...Tnpp表示第p个单元的全部测试；O1pO2p...Ovpp表示第p个单元的全部输出端口；F1pF2p...FmppT表示第p个单元的全部故障；I1pI2p...IuppT表示第p个单元全部输入端口；Dp表示第p个单元的D矩阵；表示第p个单元的故障?输出端口关系矩阵；表示第p个单元的输入端口?测试关系矩阵；表示第p个单元的输入端口?输出端口关系矩阵；故障?输出端口关系矩阵为：式中：表示第p个单元的故障?输出端口关系矩阵；mp表示第p个单元的故障数；vp表示第p个单元的输出端口数；表示第p个单元中第i个故障，i＝1,2…mp；表示第p个单元中第j个输出端口，j＝1,2…vp；输入端口?测试关系矩阵为：式中：表示第p个单元的输入端口?测试关系矩阵；up表示第p个单元的输入端口数；np表示第p个单元的测试数；表示第p个单元中第i个输入端口，i＝1,2…up；表示第p个单元中第j个测试，j＝1,2…np；输入端口?输出端口关系矩阵为：式中：表示第p个单元的输入端口?输出端口关系矩阵；up表示第p个单元的输入端口数；vp表示第p个单元的输出端口数；表示第p个单元中第i个输入端口，i＝1,2…up；表示第p个单元中第j个输出端口，j＝1,2…vp；步骤二：建立各单元之间的综合端口关联矩阵各单元之间的综合端口关联矩阵为：式中：CZ表示各单元之间的输出?输入综合端口关联矩阵；N表示被测对象的子单元数；O1pO2p...OvppT表示第p个子单元的全部输出端口，p＝1,2…N；I1qI2q...Iuqq表示第q个子单元全部输入端口，q＝1,2…N；Cp?q表示p?q端口关系矩阵，即第p个子单元的输出端口与第q个子单元的输入端口的一阶相关性矩阵；p?q端口关系矩阵为：式中：Cp?q表示p?q端口关系矩阵；表示第p个子单元中第i个输出端口，i＝1,2…vp；表示第q个子单元中第j个输入端口，j＝1,2…up；步骤三：建立初始合成D矩阵初始合成D矩阵为：式中，DH0表示初始合成D矩阵；F1pF2p...FmppT表示第p个单元的全部故障，p＝1,2…NT1qT2q...Tnqq表示第q个单元的全部测试，q＝1,2…N表示系统中第p个单元的D矩阵Dp中的所有“1”元素形成的矩阵，其余“0”的位置处暂时为空；步骤四：建立最终合成D矩阵具体步骤如下：(1)从初始合成D矩阵中选择一个故障；(2)建立该故障的相关性搜索表，相关性搜索表包括：搜索步骤、搜索结果、合并结果，如表2所示；表2相关性搜索表搜索步骤搜索结果合并结果???建立相关性搜索表的具体步骤如下：a)根据该故障所在单元的端口扩展D矩阵，确定与该故障有相关性的输出端口集合，将其填写到搜索结果列与合并结果列中；若合并结果列为空，则结束相关性搜索表建立，否则继续；b)相关性搜索表下移一行，若上一行合并结果列中存在测试，则将其填写到本行的合并结果中；从上一行合并结果列的输出端口集合中，选择一个输出端口，根据综合端口关联矩阵，确定与该输出端口有相关性的输入端口集合，填写到搜索结果列中；选择下一个输出端口，重复该过程，直到输出端口集合中所有输出端口分析完毕；将得到的所有输入端口进行相同项合并，并将与之前各行合并结果中已存在的输入端口重复的项删除，最后结果填写到合并结果列中；若合并结果列中不存在输入端口，则结束相关性搜索表建立，否则继续；c)相关性搜索表下移一行，若上一行合并结果列中存在测试，则将其填写到本行的搜索结果中；从上一行的合并结果列的输入端口集合中，选择一个输入端口，根据该输入端口所在单元的端口扩展D矩阵，确定与该输入端口有相关性的测试和输出端口混合集合，填写到搜索结果列中；选择下一个输入端口，重复该过程，直到输入端口集合中所有输入端口分析完毕；将得到的所有测试和输出端口进行相同项合并，并将与之前各合并结果中已存在的测 试和输出端口重复的项删除，最后结果填写到合并结果列中；若合并结果列中不存在输出端口，则结束相关性搜索表建立，否则跳至步骤b)；(3)判断相关性搜索表最后一行的合并结果中是否存在测试，若存在测试，在合成D矩阵中将该故障与这些测试的交叉位置填写“1”；(4)选择下一个故障，重复步骤(2)和(3)，直到所有故障分析完毕；(5)将合成D矩阵剩余空项填写“0”，得到最终合成D矩阵。FDA0000378068450000011....

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：石君友，陈龙，王晓天，彭银银，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：