光电传感器制造技术

本发明专利技术提供一种检测精度优异的光电传感器。光电传感器具有：发光二极管，其发出检测光；光电二极管，其接受检测光在外部发生反射之后返回的返回光；投光/受光透镜，其向外部射出来自发光二极管的检测光，并且入射有来自外部的返回光；半透半反镜，其设置在投光/受光透镜与发光二极管及光电二极管之间的光路上，分离从发光二极管射向投光/受光透镜的检测光的光路和从投光/受光透镜射向光电二极管的返回光的光路；遮光构件，其以与检测光或返回光的光轴重叠的方式，设置在投光/受光透镜与发光二极管及光电二极管之间的光路上的任意位置，局部遮挡检测光或返回光。

【技术实现步骤摘要】
光电传感器
本专利技术通常涉及一种光电传感器，更具体地，涉及一种同轴回归反射型的光电传感器。
技术介绍
就现有的光电传感器而言，例如，在日本特开2009-289739号公报中，公开了一种以提高检测精度为目的的同轴回归反射型的光电传感器（专利文献1）。专利文献1公开的光电传感器具有：发光二极管，其发出检测光；透镜，其将检测光转变成平行光，并向外部投射该平行光来作为到外部的检测光；半透半反镜（halfmirror），其分离检测光的光路和来自回归反射板的返回光；光电二极管，其接受来自半透半反镜的返回光。透镜包括凸面、相对于连接发光二极管和凸面的中心部的轴向垂直方向倾斜的平面。另外，在日本特开2008-112629号公报中，公开了如下的回归反射型光电传感器，其目的在于，将聚乙烯（PET）塑料瓶的双折射性转变成光的衰减，提高检测的稳定性，并且避免来自聚乙烯塑料瓶的反射光的问题（专利文献2）。在专利文献2中公开的回归反射型光电传感器具有：投光系统，其投射圆偏振光；传感器主体，其形成有受光系统，该受光系统在入射了混合反向圆偏振光和圆偏振光的光的情况下，选择性地接受反向圆偏振光；回归反射部，其将圆偏振光转变成包括反向圆偏振光的光后进行反射。传感器主体包括：投光元件；受光元件；1/4波长板，其将垂直偏振光转变成圆偏振光，将反向圆偏振光转变成垂直偏振光；偏振滤光器。偏振滤光器在从回归反射部到受光元件的受光路径上，配置在受光元件与1/4波长板之间，选择性地使垂直偏振光透射。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2009-289739号公报专利文献2：日本特开2008-112629号公报如上述的专利文献公开的那样，利用运用了光的反射的反射型光电传感器，来作为用于检测有无物体的光电传感器。该反射型光电传感器中也有被叫做回归反射型光电传感器的。通常，回归反射型光电传感器具有内置有发光元件及受光元件的投光/受光器。在使用该传感器时，配置有与投光/受光器相向的回归反射板，该回归反射板用于反射从投光/受光器发出的光，并将反射光返回到投光/受光器。在从发光元件发出的光的光路上没有物体的情况下，该光在被归反射板反射，进而入射到受光元件。另一方面，在光路上存在物体的情况下，由于从发光元件发出的光被该物体遮挡，所以不会入射到受光元件。即，由于受光元件的受光量因光路上有无物体而不同，所以回归反射型传感器基于受光量的不同，检测有无物体。回归反射型的光电传感器还具有双眼式的传感器和同轴式的传感器。在双眼式的情况下，从物理上分成投光路和受光路。另一方面，在同轴式的情况下，投光路和受光路大致一致，通过偏振分光镜或半透半反镜等的光学元件将这两个光路分离。然而，在同轴回归反射型的光电传感器的情况下，由于没有从物理上分成投光路和受光路，所以从投光元件发出的光的一部分可能会作为杂散光入射到受光元件。其结果为，有可能会导致光电传感器的检测精度下降。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于，解决上述的问题，提供检测精度优异的光电传感器。本专利技术的光电传感器其具有：投光部，其发出检测光；受光部，其接受检测光在外部发生反射之后返回的返回光；透镜，其向外部出射来自投光部的检测光，并且入射来自外部的返回光；光路分离部，其设置在透镜与投光部及受光部之间的光路上，对从投光部射向透镜的检测光的光路和从透镜射向受光部的返回光的光路进行分离；遮光构件，其以与检测光或返回光的光轴重叠的方式，设置在透镜与投光部及受光部之间的光路上的任意位置，局部遮挡检测光或返回光。根据以这种方式构成的光电传感器，能够通过遮光构件防止从投光部发出的检测光的一部分作为杂散光入射到受光部。由此，能够提高传感器的检测精度。更优选地，遮光构件设置在透镜与光路分离部之间的光路上。根据以这种方式构成的光电传感器，与将遮光构件设置在光路分离部与投光部或受光部之间的光路上的情况相比，遮光构件设置在更远离投光部及受光部的位置。因此，在以与检测光或返回光的光轴重叠的方式设置遮光构件时，能够避免要求很高的定位精度。更优选地，遮光构件设置在透镜的附近。根据以这种方式构成的光电传感器，能够可靠地防止在透镜发生反射的检测光成为杂散光并射向受光部。更优选地，遮光构件配置成与光路分离部隔有距离，并且具有对从光路分离部射向透镜的检测光进行反射的反射面。反射面沿着相对于从光路分离部射向透镜的检测光的光轴而倾斜的方向延伸。根据以这种方式构成的光电传感器，能够防止在遮光构件的反射面发生反射的检测光成为杂散光并射向受光部。更优选地，以遮光构件遮挡检测光的遮光区域的中心与透镜的中心轴一致的方式，配置遮光构件。根据以这种方式构成的光电传感器，与遮光构件具有沿着相对于从光路分离部射向透镜的检测光的光轴而倾斜的方向延伸的反射面无关地，能够使不被遮光构件遮挡而入射到透镜的检测光的光轴与透镜的中心轴一致。更优选地，遮光构件被着色成黑色。根据以这种方式构成的光电传感器，能够抑制检测光或返回光通过遮光构件发生反射而成为杂散光。更优选地，光电传感器还具有支撑构件，支撑构件在透镜与投光部及受光部之间的光路上支撑光路分离部。遮光构件与支撑构件一体成形。根据以这种方式构成的光电传感器，能够抑制部件个数的增加，简单地构成光电传感器。更优选地，在支撑构件形成有狭缝，狭缝配置成与投光部相对置（面对面），使从投光部射向光路分离部的检测光通过。根据以这种方式构成的光电传感器，能够更简单地构成光电传感器。更优选地，遮光构件与透镜一体成形。根据以这种方式构成的光电传感器，能够抑制部件个数的增加，简单地构成光电传感器。如上所述，根据本专利技术，能够提供一种检测精度优异的光电传感器。附图说明图1是本专利技术的实施方式1的光电传感器的整体结构图。图2是表示图1中的光电传感器的传感器探头的剖视图。图3是表示在比较例的光电传感器中，产生入射到光电二极管的杂散光的情况的剖视图。图4是放大表示在图2中的半透半反镜与投光/受光透镜之间的检测光的光路的图。图5是表示图2中的光电传感器的传感器探头的内部结构的立体图。图6是表示图2中的光电传感器的传感器探头所具有的支撑壳体的立体图。图7A、7B是表示图2中的投光/受光透镜的变形例的侧视图。图8是表示图2中的遮光构件的第一变形例的剖视图。图9是表示图2中的遮光构件的第二变形例的剖视图。图10是表示图2中的遮光构件的第三变形例的剖视图。图11是表示图2中的遮光构件的第四变形例的剖视图。其中，附图标记说明如下：10光电传感器，12传感器探头，13电线，14回归反射板，15放大器单元，16区域，18测定对象物体，20壳体，21投光/受光透镜，22、23透镜面，26遮光区域，27照射区域，31、81、82、83、91遮光构件，32反射面，34p、34q加强筋部，41半透半反镜，42、43镜面，51光电二极管，52光电二极管芯片，53基材，54、64透光性树脂层，61发光二极管，62发光二极管芯片，71支撑壳体，72、82狭缝，73狭缝形成部，76、76p、76q半透半反镜支撑部，77突出部，92前端部，101、106、107光轴，102、103中心轴。具体实施方式参照附图，针对本专利技术的实施方式进行说明。此外，在下面参照的附图中，对相同或相当的构件标注相同的附图标记。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电传感器，其特征在于，具有：投光部，其发出检测光，受光部，其接受检测光在外部发生反射之后返回的返回光，透镜，其向外部出射来自所述投光部的检测光，并且入射来自外部的返回光，光路分离部，其设置在所述透镜与所述投光部及所述受光部之间的光路上，对从所述投光部射向所述透镜的检测光的光路和从所述透镜射向所述受光部的返回光的光路进行分离，遮光构件，其以与检测光或返回光的光轴重叠的方式被设置在所述透镜与所述投光部及所述受光部之间的光路上的任意位置，局部遮挡检测光或返回光。

【技术特征摘要】
2012.06.07 JP 2012-1300441.一种光电传感器，其特征在于，具有：投光部，其发出检测光，受光部，其接受检测光在外部发生反射之后返回的返回光，透镜，其向外部出射来自所述投光部的检测光，并且入射来自外部的返回光，光路分离部，其设置在所述透镜与所述投光部及所述受光部之间的光路上，对从所述投光部射向所述透镜的检测光的光路和从所述透镜射向所述受光部的返回光的光路进行分离，遮光构件，其设置在所述透镜与所述光路分离部之间的光路上，配置成与所述光路分离部隔有距离，并且具有对从所述光路分离部射向所述透镜的检测光进行反射的反射面，以遮光区域的中心与检测光或返回光的光轴一致的方式，局部遮挡检测光或返回光；所述反射面，沿着相对于从所述光路分离部射向所述透镜的检测光的光轴而倾斜的方向延伸。2.如权利要求1所述的光电传感器，其特征在于，所述遮光构件设置在所述透镜的附近。3.如权利要求1或2所述的光电传感器，...

【专利技术属性】
技术研发人员：奥浓基晴，小峰晋一郎，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：