用于检测物体存在的装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于借助于影响到达检测器(14)的光(16)的传播而检测物体(52)的存在的方法(60)和装置(2,40,50)。用于在装置(2,40,50)处检测物体(52)的存在的装置(2,40,50)包括光源(4)、第一重定向结构(6)、第二重定向结构(10)和光检测装置(14)。光源(4)适于朝第一重定向结构(6)发射光(16)，第一重定向结构(6)适于将来自光源(4)的光(16)朝第二重定向结构(10)重定向，第二重定向结构(10)适于将来自第一重定向结构(6)的光(16)朝第一重定向结构(6)返回，第一重定向结构(6)适于将来自第二重定向结构(10)的光(16)朝光检测装置(14)重定向。装置(2,40,50)具有由在第一重定向结构(6)和第二重定向结构(10)之间传播的光(16)形成的感测区(18)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于检测物体存在的方法和装置。具体地，本专利技术涉及通过借助于物体影响光的传播并检测得到的到达检测器的光的变化而检测物体的存在。
技术介绍
W0/2009/086836公开了一种用于检测接触装置的物体的位置的装置。借助于干扰由该装置从光源朝检测器引导的光并检测得到的到达检测器的光的变化来检测位置。重要的是，对于上述装置，物体可以干扰或影响光传播。此外，在US 2008/0278460中公开了光的引导。因此，需要一种改进的对物体存在的检测。因此，本专利技术的目的是提供一种改进的对物体存在的检测。
技术实现思路
根据本专利技术的第一方面，提供了一种装置，用于检测物体在所述装置处的存在。该装置包括第一重定向结构，其包括第一主重定向结构；和第二重定向结构，其包括第二主重定向结构。该装置还可以包括光源和光检测装置，或者该装置可以适于接收来自光源的光并将光返回至检测器。光源适于朝第一主重定向结构发射光。第一主重定向结构适于将来自光源的光朝第二主重定向结构重定向。第二主重定向结构适于将来自第一主重定向结构的光朝第一主重定向结构返回。第一主重定向结构适于将来自第二主重定向结构的光朝光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：亨里克·克里斯特恩·佩德森，迈克尔·林德·雅各布森，瓦恩·斯蒂恩·格吕纳·汉森，
申请(专利权)人：OPDI科技股份有限公司，
类型：
国别省市：