测量治具及投影测量仪制造技术

技术编号:9477406 阅读:94 留言:0更新日期:2013-12-19 06:27
一种测量治具,包括定位卡和测量治具本体,定位卡包括相互垂直的第一定位边和第二定位边,测量治具本体开设有形成多个测量区域的凹槽,凹槽的底部呈网格镂空状,凹槽的侧壁凸出有多个凸起台阶,相邻的两条边框相互垂直,相对的两条边框平行,第一定位边与相对的两条边框平行,第二定位边与另外相对的两条边平行;上述测量治具可以同时测量多块玻璃的尺寸,且容易定位,减小了测量误差。同时提供一种应用该测量治具的投影测量仪。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测量治具,其特征在于,包括:定位卡,所述定位卡包括相互垂直的第一定位边和第二定位边;及测量治具主体,呈板状结构,所述测量治具主体的一面开设有凹槽,所述凹槽可容纳待测量的玻璃,所述凹槽内形成有多个测量区域,多个测量区域位于同一平面,所述凹槽的底部呈网格镂空状,所述凹槽的侧壁凸出形成多个凸起台阶,所述多个凸起台阶间隔设置;垂直于所述凹槽的侧壁向所述测量治具主体的边缘方向延伸形成边框,相对的两条所述边框相互平行,相邻的两条所述边框相互垂直;其中,所述第一定位边与所述测量治具主体中相对的两条边框平行,所述第二定位边与所述测量治具主体中另外相对的两条边框平行。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨强桂唐彬李赟
申请(专利权)人:南昌欧菲光学技术有限公司南昌欧菲光科技有限公司深圳欧菲光科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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