The invention relates to a method for accurately measuring the relative position of a small size intersecting structure. The present invention through the production of high coaxiality measuring fixture, measuring fixture outer circumference diameter matched with the diameter and penetration factor; measuring fixture elements along through axially into the elements through fixed place; to be through the elements of the center were measured and determined the center position of the workpiece to be measured using optical projection measuring instrument for measuring at the same time; deep into the tubular elements of the fixture part contour data points were measured; the measurement data are analyzed using the fixture is part of the deep penetration factor determining jig coordinate center, identified as the equivalent axis through the elements, thus indirectly measured position accuracy between the two structural elements of the intersection, intersecting between judgment the two structural elements of direction and position with the design requirements. The method of the invention can realize the accurate and convenient measurement and analysis of the relative positions of the elements of the intersecting structure, and improves the accuracy, validity and consistency of the measurement.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测量方法
,具体涉及一种小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法。
技术介绍
微波器件的相贯结构形式多样,相贯的对象有方腔与圆孔、圆孔与圆孔,又有异形孔与腔。为保证微波性能,这类结构往往尺寸较小,尺寸精度和位置精度要求高。这些相贯结构的位置精度往往直接影响产品的磁、电场发生准确度、驻波比、相位偏差等关键性能指标,因此对相贯结构相对位置的精确测量非常重要。由于尺寸较小检测空间不足,检测时难以找到一个同时适于各相贯要素的有效基准,现有的测量方法采用的是抽样破坏性检测,即将被测抽样零件剖切开后进行检测,抽样破坏性检测法存在很多问题:如检测效果差,抽样检测不具备普遍性,未抽样的零件是否合格存在不确定性;测量难度大,破坏性检测流程复杂,剖切过程引入不可控的影响因素如剖切加工误差,给测量带来额外困难,即使进行剖切,某些形位误差的测量也无法量化只能粗略定性检测,无法实现检测的有效性和一致性;成本较高,由于微波器件形状复杂,尺寸精密,加工困难,因而成本较高,采用效果不佳的破坏性检测手段,该方法的应用非常不利于成本控制。针对上述问题,需要开发一种具有可实际操作性的、可实现小尺寸相贯结构各要素位置精度精确测量的测量方法,实现小尺寸相贯结构测量的精确性、有效性和一致性。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术中存在的上述缺陷,提供一种精确、成本低的小尺寸相贯结构相对位 ...
【技术保护点】
一种小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、制作测量夹具;所述测量夹具的长度大于夹具径向尺寸的5‑10倍,测量夹具外圆周直径与贯穿要素的内径相配合;步骤二、将测量夹具沿贯穿要素轴向伸入贯穿要素中固定放置,测量夹具深入到被贯元素径向尺寸1/2以上深度;步骤三、使用光学投影测量仪进行测量;测量被贯元素的内轮廓数据;测量测量夹具在被贯元素中部分的轮廓数据;步骤四、将测量夹具从贯穿要素中取出;步骤五、对测量数据进行计算和分析;通过光学投影测量仪测得被贯元素的内轮廓数据拟合出被贯元素的中心位置,再将测量夹具深入到被贯元素的部分轮廓数据等效为贯穿元素的中心,计算两拟合直线之间的角度并得出方向和位置的测量值,判定相贯结构两要素之间方向和位置是否符合设计要求。
【技术特征摘要】
1.一种小尺寸相贯结构相对位置精确测量方法,其特征在于,
包括以下步骤:
步骤一、制作测量夹具;所述测量夹具的长度大于夹具径向尺
寸的5-10倍,测量夹具外圆周直径与贯穿要素的内径相配合;
步骤二、将测量夹具沿贯穿要素轴向伸入贯穿要素中固定放置,
测量夹具深入到被贯元素径向尺寸1/2以上深度;
步骤三、使用光学投影测量仪进行测量;测量被贯元素的内轮
廓数据;测量测量夹具在被贯元素中部分的轮廓数据;
步骤四、将测量夹具从贯穿要素中取出;
步骤五、对测量数据进行计算和分析;通过光学投影测量仪测
得被贯元素的内轮廓数据拟合出被贯元素的中心位置,再将测量...
【专利技术属性】
技术研发人员:张强,房兵红,张志刚,霍建东,郑如松,赵秉玉,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第四十一研究所,
类型:发明
国别省市:山东;37
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