器具开关耐久测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种器具开关耐久测试装置，可编程四自由度执行平台安装在机柜上面，可编程四自由度执行平台末端连接操纵连接器，操纵连接器伸入专用环境试验箱的门板开孔中，专用环境试验箱通过连接磁体与可编程四自由度执行平台的机柜相连接。专用环境试验箱和内置防风罩，可以满足被测T85/55器具开关进行耐久测试所需的环境温度要求；内置防风罩，使得开关本体周围的环境温度更加稳定，降低了专用环境试验箱内强制对流空气对器具开关耐久测试的影响。专用环境试验箱与可编程四自由度执行平台的机柜，通过连接磁体方便牢靠地连接在一起，可以方便地实现多样化外形特征的T85/55器具开关耐久测试。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种器具开关耐久测试装置，包括可编程四自由度执行平台（1）、操纵连接器（2）、专用环境试验箱（3）、连接磁体（4），其特征在于：所述可编程四自由度执行平台（1）安装在机柜（6）上面，可编程四自由度执行平台（1）末端连接操纵连接器（2），操纵连接器（2）伸入专用环境试验箱（3）的门板开孔中，专用环境试验箱（3）通过连接磁体（4）与可编程四自由度执行平台（1）的机柜相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：甘红胜，戴雪伟，梁辉，张婧，赵志嵩，李广超，
申请(专利权)人：上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心，
类型：实用新型
国别省市：