形位公差检测工具制造技术

形位公差检测工具，包括底座、立柱、滑动组件、磁力表架、千分表，所述的底座上表面设置凸条和若干条滑动凹槽；所述的滑动组件放置在所述的滑动凹槽内，并且所述的凸条的上表面与嵌在所述的滑动凹槽内的滑动组件的上表面处于同一水平面上；所述的立柱的底端固定在所述的底座上、所述的立柱上端安装磁力表架，所述的磁力表架末端铰接千分表。本实用新型专利技术的有益效果是：与CMM检测数值基本相符，能达到预期的检测效果；本实用新型专利技术在现场发挥了较大作用，使用相对方便；提升了车间加工效率，也提高了成品检测速度，同时不失测量精度。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
形位公差检测工具，其特征在于：包括底座、立柱、滑动组件、磁力表架、千分表，所述的底座上表面设置凸条和若干条滑动凹槽；所述的滑动组件放置在所述的滑动凹槽内，并且所述的凸条的上表面与嵌在所述的滑动凹槽内的滑动组件的上表面处于同一水平面上；所述的立柱的底端固定在所述的底座上、所述的立柱上端安装磁力表架，所述的磁力表架末端铰接千分表。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：成结辉，孙永强，
申请(专利权)人：慈溪市汇丽机电有限公司，
类型：实用新型
国别省市：