收敛存储器擦除单元阈值范围的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:9407060 阅读:121 留言:0更新日期:2013-12-05 06:23
本发明专利技术公开一种收敛存储器擦除单元阈值范围的方法及装置,该装置中弱擦除比较模块判断各存储单元的阈值是否均低于弱擦除比较阈值;预擦除比较模块将判断各存储单元的阈值是否均高于预擦除比较阈值;弱擦除操作模块对阈值大于弱擦除比较阈值的存储单元的区域进行弱擦除;擦除验证单元判断各存储单元的阈值是否均大于擦除验证参考阈值;弱写操作模块对阈值小于预擦除比较阈值单元的存储单元进行一次写操作;擦除操作模块对各存储单元进行擦除,并判断擦除后各存储单元的阈值是否大于过擦除参考阈值,若擦除后存在存储单元的阈值小于过擦除参考阈值,则将该存储单元的阈值进行修正,使该存储单元修正后的阈值大于过擦除参考阈值。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种收敛存储器擦除单元阈值范围的方法,其特征在于,包括以下步骤:a,将擦除范围内各存储单元的阈值与弱擦除比较阈值相比较,判断所述各存储单元的阈值是否均低于所述弱擦除比较阈值,若是则执行步骤b,否则执行步骤c;b,将所述各存储单元的阈值分别与预擦除比较阈值进行比较,判断所述各存储单元的阈值是否均高于所述预擦除比较阈值,若是则执行步骤d,否则执行步骤e;c,对存在阈值高于所述弱擦除比较阈值的存储单元区域进行弱擦除,并判断弱擦除后存储单元的阈值是否高于过擦除参考阈值,若弱擦除后存在存储单元的阈值低于所述过擦除参考阈值,则将该存储单元的阈值进行修正,使该存储单元修正后的阈值大于所述过擦除参考阈值;d,将所述各存储单元的阈值分别与擦除验证参考阈值进行比较,判断所述各存储单元的阈值是否均低于所述擦除验证参考阈值,若是则流程结束,否则执行步骤f;e,对阈值小于所述预擦除比较阈值的存储单元进行一次弱写操作,使其修正后的阈值高于所述预擦除比较阈值;f,对所述各存储单元进行擦除,并判断擦除后各存储单元的阈值是否低于所述过擦除参考阈值,若擦除后存在存储单元的阈值小于所述过擦除参考阈值,则将该存储单元的阈值进行修正,使该存储单元修正后的阈值大于所述过擦除参考阈值。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈建梅胡洪
申请(专利权)人:北京兆易创新科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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