硅钢织构测量方法技术

本发明专利技术公开了一种硅钢织构测量方法，步骤如下：制备EBSD分析试样；用EBSD设备测量试样纵截面至少3个不同厚度位置的半板厚区域的取向分布图；将测量区域沿钢板表面至板厚中心分成至少10个等面积区域，经分析得到不同位置区域的ODF图；计算各个{hkl}晶面的密度分数f(hkl)；对不同区域同厚度位置的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)取平均值；得到织构沿板厚方向分布的数据图。本发明专利技术通过测量ODF图，并定量计算各{hkl}晶面的密度分数f(hkl)，弥补了XRD定量分析的困难。同时，通过测量多个区域的数据，消除EBSD测量区域过小而造成误差的影响，使数据更加精确。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种硅钢织构测量方法，其特征在于，该方法的步骤如下：A）取硅钢板试样制备成EBSD分析试样；B）用扫描电镜配备的EBSD设备测量试样纵截面的取向分布图，厚度范围从钢板表面至板厚中心，测量至少3个不同厚度位置的半板厚区域的取向分布图；C）测量完成后用分析软件，将测量区域沿钢板表面至板厚中心分成至少10个等面积区域，经分析依次得到从表面到板厚中心的不同位置区域的ODF图；D）通过得到不同位置区域的ODF图，经过分析软件计算各个{hkl}织构强度，通过下面公式计算{hkl}晶面的密度分数f(hkl)，即f(hkl)=某一{hkl}晶面的强度/所有{hkl}晶面的强度之和；E）对其他厚度位置的半板厚区域的取向分布图分析重复步骤C）和D），对不同区域同厚度位置的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)取平均值；F）根据钢板表面至板厚中心不同区域的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)平均值，运用绘图软件，得到织构沿板厚方向分布的数据图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王志奋，陈士华，吴立新，韩荣东，张萍，关云，邓照军，周顺兵，张彦文，许竹桃，
申请(专利权)人：武汉钢铁集团公司，
类型：发明
国别省市：