液晶屏测试电路制造技术

技术编号:9249353 阅读:257 留言:0更新日期:2013-10-10 18:28
本实用新型专利技术公开了一种液晶屏测试电路,用于检测液晶屏,包括主芯片、DPI接口电路和DBI接口电路,所述DPI接口电路的各I/O口、所述DBI接口电路的各I/O口分别与所述主芯片的各I/O口对应连接,所述DPI接口电路的各输出端口用于在检测时与所述液晶屏的各RGB端口对应连接,所述DBI接口电路的各输出端口用于在检测时与所述液晶屏的各MCU端口对应连接。本实用新型专利技术在液晶屏的测试电路中,将DPI接口和DBI接口分开,避免了在检测时不同检测端口之间造成的测试干扰,有利于提高测试的准确性,确保待测液晶屏的质量。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种液晶屏测试电路,用于检测液晶屏,其特征在于,包括主芯片、DPI接口电路和DBI接口电路,所述DPI接口电路的各I/O口、所述DBI接口电路的各I/O口分别与所述主芯片的各I/O口对应连接,所述DPI接口电路的各输出端口用于在检测时与所述液晶屏的各RGB端口对应连接,所述DBI接口电路的各输出端口用于在检测时与所述液晶屏的各MCU端口对应连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:魏宁刘玉祥
申请(专利权)人:深圳市宏大创展科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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