正电子寿命谱测量系统及其采用的测量方法技术方案

本发明专利技术涉及一种正电子寿命谱测量系统，包括控制系统、移动系统和探测系统；控制系统包括多道分析器和计算机；移动系统包括放置待测样品的平移台，其设置于手动升降台上并与控制系统相连；探测系统包括放射源、标准样品、第一探测器、第二探测器、第一恒比甄别器、第二恒比甄别器、时间幅度转换器；标准样品与待测样品分设于放射源两侧；第一探测器和第二探测器设置于标准样品的一侧；第一恒比甄别器与第一探测器相连；第二恒比甄别器与第二探测器相连；时间幅度转换器与第一恒比甄别器和第二恒比甄别器相连并输出连接至控制系统。本发明专利技术能够对固定于平移台上的单样品进行精确的二维平面的缺陷分布进行测量，可靠、准确。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种正电子寿命谱测量系统，用于根据正电子在待测样品中湮没过程中发出的起始信号和终止信号来测量所述的正电子的寿命并进一步得到所述的正电子的寿命谱，其特征在于：所述的正电子寿命谱测量系统包括控制系统、移动系统和探测系统；所述的控制系统包括相连接的多道分析器和计算机；所述的移动系统包括放置所述的待测样品并能够在竖直的二维平面内移动的平移台，所述的平移台设置于手动升降台上并与所述的控制系统相连接；所述的探测系统包括放射源，所述的放射源与所述的待测样品相对设置并发射所述的正电子，所述的放射源发射所述的正电子的同时发射作为所述的起始信号的起始γ光子；标准样品，所述的标准样品与所述的待测样品分设于所述的放射...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王荣山，刘向兵，吴奕初，曾辉，黄平，姜静，钱王洁，徐超亮，吕峰，彭啸，范念青，陈明亚，
申请(专利权)人：苏州热工研究院有限公司，武汉大学，中国广核集团有限公司，
类型：发明
国别省市：