测量样本中激发态寿命的方法技术

本发明专利技术公开了一种测量样本中激发态寿命的方法，特别是测量荧光寿命的方法，以及执行这种方法的设备。首先，生成激发脉冲并用该激发脉冲照亮样本区域。随后，生成表示激发脉冲的功率-时间曲线的第一数字数据序列，并且根据第一数字数据序列确定第一开关时刻。此外，利用检测器检测从样本区域发出的检测光，生成表示检测光的功率-时间曲线的第二数字数据序列，并且根据第二数字数据序列确定第二开关时刻。最后，计算第一和第二开关时刻之间的时间差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，具体地，涉及测量荧光寿命的方法以及用于实施这种方法的设备。本专利技术还涉及测量样本中激发态寿命的设备，具体地，涉及测量荧光寿命的设备，该设备包括用于产生激发脉冲以利用该激发脉冲照亮样本区域的光源以及用于检测从样本区域发出的检测光的检测器。
技术介绍
通过分析利用一种或多种荧光染料标记的样本的激发态寿命，可获得与样本性质有关的重要信息。尤其是当使用多种荧光染料时，可以通过利用荧光寿命成像显微仪(FLIM)获得与被分析的样本区域有关的信息(例如与其成分和环境有关的信息)。在细胞生物学中，例如，可以通过测量荧光染料的寿命间接地推断出样本区域中的钙离子浓度。现有多种方法来测量荧光染料的激发态寿命。一些方法在1999年KluwerAcademic/Plenum 出版的由 Joseph R.Lakowicz 所著的教科书 “Principles ofFluorescence Spectroscopy”第二版中有所描述。例如,可以调制激发光随着时间的功率，从而可以通过发出光的相位延迟推断出激发态的寿命。还可以利用短光脉冲激发荧光染料，从而可以电子地测量发射脉冲的时间延迟。举例来说本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量样本中激发态寿命的方法，特别是测量荧光寿命的方法，包括下述步骤：a.生成激发脉冲并用该激发脉冲照亮样本区域，b.生成表示激发脉冲的功率‑时间曲线的第一数字数据序列，c.根据第一数字数据序列确定第一开关时刻，d.利用检测器检测从样本区域发出的检测光，e.生成表示检测光的功率‑时间曲线的第二数字数据序列，f.根据第二数字数据序列确定第二开关时刻，及g.计算第一和第二开关时刻之间的时间差。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：B·威兹高斯盖，
申请(专利权)人：徕卡显微系统复合显微镜有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE