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本发明公开了一种测量样本中激发态寿命的方法，特别是测量荧光寿命的方法，以及执行这种方法的设备。首先，生成激发脉冲并用该激发脉冲照亮样本区域。随后，生成表示激发脉冲的功率-时间曲线的第一数字数据序列，并且根据第一数字数据序列确定第一开关时刻。...
该专利属于徕卡显微系统复合显微镜有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过徕卡显微系统复合显微镜有限公司授权不得商用。

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