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本发明涉及一种正电子寿命谱测量系统，包括控制系统、移动系统和探测系统；控制系统包括多道分析器和计算机；移动系统包括放置待测样品的平移台，其设置于手动升降台上并与控制系统相连；探测系统包括放射源、标准样品、第一探测器、第二探测器、第一恒比甄别...该专利属于苏州热工研究院有限公司;武汉大学;中国广核集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州热工研究院有限公司;武汉大学;中国广核集团有限公司授权不得商用。