控制坐标测量仪的方法技术

在按照本发明专利技术的用于控制坐标测量仪(1)的方法中，所述坐标测量仪(1)具有多个为了定位探测头(50)而能马达驱动的轴，所述坐标测量仪(1)在至少一个用于定位所述探测头(50)的轴内相对于待测量的工件(3)移动，测量所述坐标测量仪(1)的变形，确定由变形所导致的实际位置与规定位置的偏差，并且控制所述坐标测量仪(1)的所述至少一个轴的驱动装置，用于补偿所述偏差。本发明专利技术还涉及一种用于执行所述方法的坐标测量仪。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】控制坐标测量仪的方法本专利技术涉及一种控制坐标测量仪的方法和一种坐标测量仪。坐标测量仪用于采集在测量物体的表面上的测量点的空间坐标。为此，坐标测量仪(KMG)具有用于容纳测量物体的基础结构以及多个可驱动的轴，由此坐标测量仪的探测头可以在测量范围内被置于相对于测量物体的任意位置。坐标测量仪尤其可以包括三个相互重叠安置的、彼此垂直的轴，用于探测头在三个空间方向上线性地移动。探测头可以有用于接触探测工件表面的探测器或者例如用于非接触探测工件表面的光学传感器。坐标测量仪的轴具有比例尺和位置检测器，控制装置根据该位置检测器的信号获得探测头的位置，并且还连同探测器或传感器的信号获得在物体表面上的测量点的坐标。坐标测量仪也可以具有一个或多个转轴，以便通过旋转运动将工件相对于探测器或传感器定向。已知一种既接通又进行测量的探测头用于探测工件表面。接通的探测头在接触工件表面的一刻发出信号。根据同时所读取的坐标测量仪的轴的位置检测器的信号以及借助已知的探测器的长度和方向，坐标测量仪可以计算工件表面上的已探测的点。对于测量的探测头，例如通过探测器与工件表面接触并且探测头在测量范围内沿工件表面的方向移动的方法，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.11.26 DE 102010052503.01.一种用于控制坐标测量仪(1)的方法，所述坐标测量仪(1)具有多个为了定位探测头(50)而能马达驱动的轴，其中，所述坐标测量仪(1)沿至少一个轴为了定位所述探测头(50)而相对于待测量的工件(3)发生移动，测量所述坐标测量仪(1)的变形，确定由该变形所导致的实际位置与规定位置的偏差，并且控制所述坐标测量仪(1)的所述至少一个轴的驱动装置，用于补偿所述偏差，其特征在于，控制所述坐标测量仪的所述至少一个轴的驱动装置，用于补偿由于变形而导致实际位置与规定位置的偏差的低频部分，并且对测量点的已测量的坐标值进行计算上的修正，用来修正所述偏差的高频部分。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，被测量的坐标测量仪(1)的变形是通过所述至少一个轴的移动而导致的动态变形。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，沿着第一轴驱动所述坐标测量仪(1)，测量在所述第一轴的方向上的变形，确定所述探测头(50)在所述第一轴的方向上的实际位置与规定位置的偏差，并且控制所述坐标测量仪(1)的所述第一轴的驱动装置，用于补偿所述偏差。4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，由变形所导致的所述探测头(50)的实际位置与规定位置的偏差根据先前进行的校准测量而被确定。5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一个轴的驱动装置与位置检测器构成位置调节回路，并且所述偏差的一部分被耦合在所述位置调节回路中。6.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，持续测量所述坐标测量仪的变形。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，通过至少一个传感器测量变形，所述传感器包括发射器(15、25、35)和对位置敏感的接收器(16、26、36)，其中，在所述坐标测量仪(1)的轴上相互间隔地安置所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：K穆尔伯格，J路德韦格，
申请(专利权)人：温泽尔斯坎泰克有限责任公司，
类型：
国别省市：