一种偏光片贴附精度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及液晶面板质量检测器具技术领域，特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置，用于方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。本实用新型专利技术公开了一种偏光片贴附精度测量装置，包括：测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块。使用本实用新型专利技术提供的偏光片贴附精度测量装置，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及液晶面板质量检测器具
，特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置。
技术介绍
在液晶面板生产过程中，偏光片贴附工艺完成后，需要测量贴附在液晶面板上的偏光片贴附精度。如图1所示，贴附精度指的是偏光片20边缘与液晶面板10边缘的距离，一般需要测量Al、A2、A3和A4共4个点位，而液晶面板的两侧都需要贴附偏光片，因此，测量一个液晶面板上的偏光片的贴附精度一般需要测量8个点位。目前，通常使用目镜测量偏光片的贴附精度，通常情况下，每个液晶面板需要测量8个点位，若是贴附精度出现波动时，则要求对32个点位测量，工作量比较大，效率低；而且采用目镜测量时，由于目镜本身精度限制及人为因素引起读数误差较大，不能很好的对偏光片的贴附精度进行管控。
技术实现思路
本技术的目的在于提供了一种方便快捷地、精确地测量偏光片贴附精度的偏光片贴附精度测量装置。为了实现上述目的，本技术提供以下技术方案一种偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块；其中，所述滑动结构的导向方向与所述测量平台的长边或短边平行；所述尺寸测量模块包括滑动装配在所述滑动结构上的基座，设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘，设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块；其中，所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行，并高出所述测量平台的上端面，且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测液晶面板中偏光片的厚度；所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面；且在竖直方向上，所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。优选地，所述滑动结构包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。进一步地，所述滑动结构还包括设置于所述凹槽本体的侧壁，与所述滑轨平行的滑槽孔；所述尺寸测量模块可可通过螺钉和所述滑槽孔固定在所述滑轨上。优选地，所述滑动结构与所述测量平台为一体化结构。优选地，所述滑动结构数量为两个，且位置相邻。较佳地，每一个所述滑动结构上设置有两个所述尺寸测量模块。优选地，所述测量探杆下方对应的所述厚度调整块的上端面设置有凹槽，且所述凹槽的长度方向与所述测量探杆长度方向平行。较佳地，所述厚度调整块的第二端面具有两个长轴方向垂直所述测量平台上端面的椭圆形孔，所述厚度调整块通过螺钉和所述两个椭圆形孔固定在所述基座上，并可调整所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间高度差。较佳地，所述厚度调整块的上端面相对于所述测量平台的上端面高出一个待测偏光片的厚度。优选地，上述读数盘为数显千分表或数显百分表。本技术提供的偏光片贴附精度测量装置在使用时，首先调整厚度调整块相对于测量平台上端面的高度，使厚度调整模块的上端面高出测量平台的上端面，且厚度调整模块的上端面与测量平台的上端面之间高度差小于或等于待测液晶面板中偏光片的厚度，优选地，厚度调整模块的上端面与测量平台的上端面之间的高度差为待测液晶面板上贴附的偏光片的厚度；然后调整测量探杆的前端面与厚度调整块的前端面平齐，也就是厚度调整块与测量平台相对的端面，将读数盘归零；最后将贴有偏光片的液晶面板平放在测量平台上，平推液晶面板向尺寸调整模块移动，当液晶面板的边缘与读数盘的测量探杆接触后，推动测量探头移动，直至偏光片与厚度调整块的前端面接触，此时，读取各个读数盘上显示的数值，从而获得偏光片在液晶面板上的贴附精度。从上述技术方案可知，本技术提供的偏光片贴附精度测量装置较之
技术介绍
中使用的目镜，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率；因此，本技术提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。附图说明图1为现有技术中测量偏光片贴附精度的点位分布图；图2为本技术实施例提供的偏光片贴附精度测量装置的结构示意图；图3为图2中尺寸测量模块的结构示意图；图4为图2中滑动结构的侧视图；图5为图2中测量探杆与测量平台的位置关系图；图6为本技术实施例提供的偏光片贴附精度测量装置的测量原理示意图。具体实施方式本技术提供了一种偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块。因每一个尺寸测量模块采用高精度的读数盘，使用该偏光片贴附精度测量装置测量时，能够精确的测量偏光片在液晶面板上的贴附精度，同时能够测量多个点位，因此，本技术提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。为了使本领域技术人员更好的理解本技术的技术方案，下面结合说明书附图对本技术实施例进行详细的描述。首先申明，上文中提到的以及下文中即将提到的“上端面”、“前端面”、“底面”等词语仅仅是针对图2、图3、图4所示方位而言的，其作用仅仅是为描述方便，没有特指含义。如图2、图3、图4所示，本技术实施例提供的偏光片贴附精度测量装置，包括测量平台100，位于测量平台100周边的至少一个滑动结构200，以及滑动装配在每一个滑动结构200上的至少一个尺寸测量模块300 ;其中，滑动结构200的导向方向与测量平台100的长边或短边平行；尺寸测量模块300包括滑动装配在滑动结构200上的基座310，设置于基座310上具有可伸缩测量探杆321的读数盘320，设置于基座310和测量平台100之间且位于测量探杆321下方的厚度调整块330 ;其中，厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面平行，并高出测量平台100的上端面，且厚度调整块330的上端面与测量平台100的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度；测量探杆321的伸缩方向垂直于测量平台100和厚度调整块330位置相对的端面；且在竖直方向上，测量探杆321与测量平台100的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。具体地，根据目前测量偏光片贴附精度的需要，一般需要测量8个点位的偏光片贴附精度，也就是说，单面需要测量4个点位的偏光片贴附精度，因此，在本实施例中，滑动结构200数量为两个，且位置相邻，也就是说，两个滑动结构200设置测量平台100相邻的两个边缘，并且互相垂直；在每一个滑动结构200上设置有两个尺寸测量模块300，即可一次性测量4个点位的偏光片贴附精度。上述基座310具有导向槽311，将尺寸测量模块300安装在滑动结构200上，即将导向槽311滑动装配在滑动结构200上。采用读数盘320作为尺寸测量模块300中的尺寸量测单元，包括测量探杆321，测量探杆321沿垂直厚度调整块330的前端面方向伸缩；测量探杆321伸缩移动时，相应的在读数盘320上显示伸缩的位移，具体为本领域技术人员所熟知，该读数盘320可以是数显千分表或数显百分表，能实现精确测量即可，这里就不详细描述了。继续参见图3，读数盘320固定在基座310上，通过位于基座310底面上的螺钉将读数盘320固定在基座本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，包括：测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块；其中，所述尺寸测量模块包括：滑动装配在所述滑动结构上的基座，设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘，设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块；其中，所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行，并高出所述测量平台的上端面，且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度；所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面；且在竖直方向上，所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。

【技术特征摘要】
1.一种偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，包括测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块;其中， 所述尺寸测量模块包括滑动装配在所述滑动结构上的基座，设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘，设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块；其中， 所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行，并高出所述测量平台的上端面，且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度； 所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面；且在竖直方向上，所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。2.如权利要求1所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。3.如权利要求2所述的偏光片贴附精度测量装置，其特征在于，所述滑动结构还包括设置于所述凹槽本体的侧壁，与所述滑轨平行的滑槽孔；所述尺寸测量模块可通过螺钉和所述滑槽孔固定在所述滑轨...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵寅初，公伟刚，许安龙，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：