【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光学式瑕疵检测装置，其特征在于，包含：一工作平台，运送一待检测物；至少一第一影像撷取模块，撷取所述待检测物的影像，以产生至少一第一影像信号；至少一第二影像撷取模块，其撷取速率对应于所述至少一第一影像撷取模块，所述至少一第二影像撷取模块撷取所述待检测物的影像，以产生至少一第二影像信号；以及至少一处理模块，电性连接所述至少一第一影像撷取模块及所述至少一第二影像撷取模块，其根据所述至少一第一影像信号、所述至少一第二影像信号或所述至少一第一影像信号及所述至少一第二影像信号，判断出所述待检测物的至少一瑕疵特征。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈文生，蔡宗霖，
申请(专利权)人：联策科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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