一种用于非线性光学晶体的探伤装置及探伤方法制造方法及图纸

技术编号:9169522 阅读:155 留言:0更新日期:2013-09-19 17:56
本发明专利技术涉及非线性光学晶体探伤技术领域,特别涉及一种用于非线性光学晶体的探伤装置和其使用方法,包括激光发生器、衰减器、能量计、光闸、会聚透镜和显微镜,激光发生器用于产生射向非线性光学晶体的激光;会聚透镜位于该激光的光路上,用于将该激光会聚到非线性光学晶体上;光闸位于从激光发生器到会聚透镜之间的激光光路上,用于控制激光光路的通断;能量计用于测量射向非线性光学晶体的激光的能量;衰减器用于调整射向非线性光学晶体的激光的能量;显微镜用于观察非线性光学晶体在激光照射下的损伤情况。利用本探伤装置可方便的获得辐照激光强度和待测非线性光学晶体在该激光强度照射下的损伤情况,便于进行连续多组探伤实验。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于非线性光学晶体的探伤装置,其特征在于:包括激光发生器、衰减器、能量计、光闸、会聚透镜和显微镜,所述激光发生器,用于产生射向所述非线性光学晶体的激光;所述会聚透镜,位于所述激光的光路上,用于将所述激光会聚到所述非线性光学晶体上;所述光闸,位于从所述激光发生器到所述会聚透镜之间的所述激光的光路上,用于控制所述激光的光路的通断;所述能量计,用于测量射向所述非线性光学晶体的激光的能量;所述衰减器,用于调整射向所述非线性光学晶体的激光的能量;所述显微镜,用于观察所述非线性光学晶体在所述激光照射下的损伤情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:胡章贵李小矛岳银超
申请(专利权)人:中国科学院理化技术研究所
类型:发明
国别省市:

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