扫描电镜磁阻测量样品台及纳米单体磁输运性质测量仪器制造技术

本发明专利技术属于磁性纳米材料和磁性纳米结构器件输运性质的测量方法，特别涉及扫描电镜磁阻测量样品台及纳米单体磁输运性质测量仪器。扫描电镜磁阻测量样品台，包括底座、旋转体、卡台、旋转轴、样品台，底座外部为圆柱状，底座内壁设有螺纹凹槽，压电陶瓷堆位于底座内部，旋转体位于底座之上，旋转体通过旋转轴与底座连接，螺帽状的卡台将旋转轴的底部和旋转体，样品台位于卡台上部。本发明专利技术最大的创新之处是在全世界范围内，首次将磁场引入扫描电子显微镜，实现纳米空间上的实时、动态、图像化磁输运性质测量，实现定点、快速、直观、全程监控且物性测量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
扫描电镜磁阻测量样品台，其特征在于：包括底座（4）、旋转体（7）、卡台（8）、旋转轴（3）、样品台（6），底座（4）外部为圆柱状，底座（4）内设有螺纹凹槽，压电陶瓷堆位于底座（4）螺纹凹槽内，旋转体（7）位于底座（4）之上，旋转体（7）通过旋转轴（3）与底座（4）连接，螺帽状的卡台（8）连接旋转轴（3）和旋转体（7），样品台（6）位于卡台（8）上部。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭勇，张军伟，金斌玲，谢凤珍，马鸿斌，兰倩倩，薛德胜，
申请(专利权)人：兰州大学，
类型：发明
国别省市：