多模块平行测试系统及测试方法技术方案

技术编号:9086637 阅读:164 留言:0更新日期:2013-08-28 23:14
本发明专利技术提供了一种多模块平行测试系统及测试方法,其中,所述多模块平行测试系统包括:ATE驱动模块;探针卡,所述探针卡与所述ATE驱动模块信号连接,所述探针卡包括多组探针,每组探针包括一主探针及一附加探针。在本发明专利技术提供的多模块平行测试系统及测试方法中,通过在每组探针中设置一附加探针,能有效地将干扰信号聚焦到附加探针中,从而防止主探针中接收到干扰信号,即避免/减小了多模块平行测试中的信号干扰,提高了多模块平行测试的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多模块平行测试系统,其特征在于,包括:ATE驱动模块;探针卡,所述探针卡与所述ATE驱动模块信号连接,所述探针卡包括多组探针,每组探针包括一主探针及一附加探针。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:罗斌祁建华张志勇徐惠牛勇郝丹丹
申请(专利权)人:上海华岭集成电路技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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