光学拾取器以及包含该光学拾取器的光学系统技术方案

本发明专利技术提供了一种光学拾取器以及采用所述光学拾取器的光学系统。所述光学拾取器包括双光源。根据多个方面，与传统的光学拾取器相比，在增加光学拾取器的倍率的同时减小双光源的两个光源之间的长度。因此，可减小光学拾取器的制造成本。

【技术实现步骤摘要】
光学拾取器以及包含该光学拾取器的光学系统本申请要求于2012年2月I日提交到韩国知识产权局的第10-2012-0010504号韩国专利申请的权益，该韩国专利申请的全部公开内容出于所有目的通过引用包含于此。
下面的描述涉及一种使用双光源的光学拾取器以及包含该光学拾取器的光学系统。
技术介绍
通常，与数字多功能盘(DVD)和压缩盘(⑶)兼容的光学拾取器利用诸如双激光二极管(TWIN-LD)的光源模块。光源模块通常包含发射具有适用于DVD和CD的不同波长的光并且被集成到一个封装件中的两个光源(两个半导体LD芯片)。如果基于双光源的两个光发射点之间的距离来设计光电检测器的光接收单元的图案，则可能影响光接收单元的倍率。例如，通过物镜的焦距、准直透镜或检测透镜的焦距、光接收单元的距离等来确定光接收单元的倍率，因此光接收单元的倍率可能受到两个光发射点之间的距离的影响。在普通的光学拾取器中，双光源的两个光发射点之间的距离通常是ΙΙΟμπι。这种双光源被用于通过准直透镜的焦距以及检测透镜的焦距来调整光接收单元的倍率。因此，设计两个光源接收单元的图案位置来驱动光学拾取器。如果双光源被形成为两个光发射点之间的距离较短，则可能降低双光源以及使用所述双光源的光学拾取器的制造成本。
技术实现思路
—方面，提供了一种光学拾取器，该光学拾取器包括:光源，发射光；物镜，会聚入射光以在信息存储介质上形成光斑；准直透镜，将从光源发射的光进行准直以允许所述光入射到物镜上；光电检测器，接收从光学信息存储介质反射的光，以检测信息信号和/或误差信号；检测透镜，使所述反射的光在光电检测器上形成光斑，其中，所述光源、准直透镜、检测透镜被布置为使所述光学拾取器具有9.1倍或更大的光接收倍率。所述准直透镜可被设置在物镜和光源之间。所述光源可包括双光源，所述双光源包括发射第一光的第一光源和发射第二光的第二光源。第一光源和第二光源的光发射点之间的距离可小于110 μ m。第一光源和第二光源的光发射点之间的距离可为大约90μπι。所述光学拾取器还可包括光路改变器，所述光路改变器改变从光源发射的入射光的光路。所述光源 可包括双光源，所述双光源的两个光发射点之间的距离小于110 μ m，检测透镜可包括用于产生9.1倍或更大的光接收倍率的圆柱形表面和球形表面。所述光源可包括双光源，所述双光源的两个光发射点之间的距离可小于110 μ m，检测透镜和准直透镜之间的距离可被用于产生9.1倍或更大的光接收倍率。所述光接收倍率可被定义为将准直透镜的焦距与检测透镜的焦距之和除以物镜的焦距所获得的值。所述光电检测器可包括接收第一光的第一光接收图案和接收第二光的第二光接收图案，第一光接收图案和第二光接收图案之间的距离可至少为5 μ m。所述第一光源可发射具有用于数字多功能盘(DVD)的红光波长的第一光，所述第二光源可发射具有用于紧凑盘(⑶)的红外波长的第二光。根据一方面，提供了一种光学拾取器，该光学拾取器包括:双光源，包括发射第一光的第一光源和发射第二光的第二光源；物镜，会聚入射光以在信息存储介质上形成光斑；准直透镜，将从双光源发射的第一光和第二光准直，以使所述光入射到物镜上；光电检测器，包括接收从信息存储介质反射的第一光和第二光的第一光接收图案和第二光接收图案，以检测信息信号和/或误差信号；检测透镜，使反射的第一光和第二光以光斑形成在光电检测器上，其中，双光源的第一光源和第二光源的光发射点之间的距离小于110 μ m,检测透镜使光接收倍率增大，以确保检测第一光的第一光接收图案和检测第二光的光接收图案之间的间隙为至少5 μ m。所述双光源的第一光源和第二光源的光发射点之间的距离可为大约90 μ m。第一光源可发射具有用于DVD的红光波长的第一光，第二光源可发射具有用于⑶的红外波长的第二光。所述光学拾取器还可包括光路改变器，所述光路改变器改变从双光源发射的入射光的光路。—种光学信息存储介质系统，包括:光学拾取器，被构造为沿着信息存储介质的径向移动，以从信息存储介质再现信息和/或向信息存储介质记录信息，所述光学拾取器包括双光源、准直透镜以及检测透镜，所述双光源、准直透镜以及检测透镜被布置为使得光学拾取器具有9.1倍或更大的光接收倍率；控制器，被构造为控制光学拾取器。双光源的光发射点之间的距离可小于110 μ m。双光源的光发射点之间的距离可为大约90 μ m。所述光电检测器可包括接收第一光的第一光接收图案和接收第二光的第二光接收图案，第一光接 收图案和第二光接收图案之间的距离可为至少5 μ m。贯穿附图和详细描述，除非另外描述，否则，相同的附图标记将被理解为指示相同的元件、特征和结构。为了清楚、图示和方便，可能夸大这些元件的相对尺寸和描述。附图说明图1是示出光学拾取器的光学结构的示例的示图。图2是示出图1的光学拾取器的示例的示图。图3是示出被用作光学拾取器的光源的缩小类型的双光源的示例的示图4是示出光电检测器的第一光接收图案和第二光接收图案的布置的示例的示图。图5是示出普通双光源的示例的示图。图6A是示出包括普通双光源的光学拾取器的光电检测器的第一光接收图案和第二光接收图案的布置的示例的示图。图6B是示出当缩小型双光源被包含在光学拾取器中作为光源时光电检测器的第一光接收图案和第二光接收图案的布置的示例的示图。图7是示出光接收单元的焦距的示例的示图。图8是示出包括这里描述的光学拾取器的光学系统的示例的示图。在所有附图及详细描述中，除非有另外的描述，否则相同的标号将被理解为指示相同的元件、特征和结构。为了简洁、图示和方便，可能夸大这些元件的相对尺寸和绘示。具体实施方式提供下面的详细描述以帮助读者获得对这里描述的方法、装置、和/或系统的全面理解。因此，本领域普通技术技术人员将会获得这里描述的方法、装置、和/或系统的各种改变、变型和等同物。此外，为了更加清楚和简洁，可能省略对公知功能和构造的描述。图1示出了光学拾取器I的光学结构的示例，图2示出了图1的光学拾取器I的示例。在图2中，字母A表示光接收单元的长度。参照图1和图2，光学拾取器I包括光源11、物镜30、准直透镜16、光路改变器14、光电检测器40、检测透镜15。物镜30可会聚入射光，以在光学信息存储介质10上形成光斑。准直透镜16可将从光源11发射的光准直，以使所述光入射到物镜30上。光路改变器14可改变入射光束的光路。光电检测器40可接收从存储介质10反射的光，以检测信息信号和/或误差信号。检测透镜15可使光电检测器40接收作为光斑从光学存储介质10反射的光。例如，准直透镜16可被设置在物镜30和光路改变器之间。例如，光源11可以是双光源，其中，第一光源51发射第一光51a,第二光源55发射第二光55a(如图3所不)。根据多个方面，第一光源51和第二光源55可被安装为第一光源51和第二光源55的光发射点之间的间隙小于ΙΙΟμπι。因此,被包含作为光源11的双光源可以是两个光发射点之间的间隙小于110 μ m的缩小型双激光二极管(TWIN-LD)50。例如，光发射点之间的间隙可以为大约90 μ m。当光发射点之间的间隙减小时，缩小型TWIN-LD50的制造成本可被降低。为了使光学拾取器I与数字多功能盘(DVD)和压缩盘(⑶)兼本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学拾取器，包括：光源，发射光；物镜，会聚入射光，以在信息存储介质上形成光斑；准直透镜，将从光源发射的光进行准直，以允许光入射到物镜上；光电检测器，接收从信息存储介质反射的光，以检测信息信号和/或误差信号；检测透镜，使反射的光在光电检测器上形成光斑，其中，光源、准直透镜、检测透镜被布置为使得所述光学拾取器具有9.1倍或大于9.1倍的光接收倍率。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：安知善，金义烈，李溶宰，
申请(专利权)人：东芝三星存储技术韩国株式会社，
类型：发明
国别省市：