磨耗测试方法和设备技术

本发明专利技术公开了磨耗测试方法和设备。按照一个实施例的系统包括：用于容纳模块的载体；用于移动磁带经过模块的磁带支承面的传送机构；和用于测量模块的磁带支承面上的涂层的磨损程度的测量设备。按照一个实施例的模块包括：具有磁带支承面的本体，所述本体具有与感兴趣模块近似的磁带支承面轮廓和尺寸；和磁带支承面上的涂层。按照一个实施例的方法包括：测量载体中的模块的磁带支承面上的初始涂层厚度；移动磁带经过磁带支承面；和每隔一段时间，测量残余涂层厚度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及介质磨耗性测试，更具体地说，本专利技术涉及介质磨耗性和/或涂层磨损的测试的改进。
技术介绍
在磁存储系统中，通常利用磁换能器从磁记录介质读取数据和把数据写到磁记录介质上。通过把磁记录换能器移动到介质上方要保存数据的位置来把数据写到磁记录介质上。磁记录换能器随后产生磁场，所述磁场把数据编码到磁性介质中。通过类似地定位磁读取换能器，随后感测磁性介质的磁场，从介质读取数据。读取操作和写入操作可以独立地与介质的移动同步，以确保能够从介质上的期望位置读取数据和把数据写到介质上的期望位置。数据存储行业中的一个重要并且持续的目标是增大保存在介质上的数据的密度。对磁带存储系统来说，该目标已导致增大记录磁带上的磁道和线性位密度以及减小磁带介质的厚度。然而，小 占用面积、更高性能的磁带驱动系统的开发在供这种系统使用的磁带头组件以及磁带的设计方面造成了各种问题。介质磨耗性直接与磁带头磨损、回退和间隙损耗有关。介质厂家目前采用的计量磨耗性的方法包括已被证明不能够表示实际磁带头磨损并且较差地计量磁带磨耗性的方法。
技术实现思路
按照一个实施例的系统包括:用于容纳模块的载体；用于移动磁带经过所述模块本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种系统，包括：用于容纳模块的载体；用于移动磁带经过所述模块的磁带支承面的传送机构；和用于测量所述模块的磁带支承面上的涂层的磨损程度的测量设备。

【技术特征摘要】
2012.01.25 US 13/358,4151.一种系统，包括: 用于容纳模块的载体； 用于移动磁带经过所述模块的磁带支承面的传送机构；和 用于测量所述模块的磁带支承面上的涂层的磨损程度的测量设备。2.按照权利要求1所述的系统，其中，所述载体和所述测量设备被配置和/或定位成允许测量所述涂层的磨损程度，而不从所述载体取下所述模块。3.按照权利要求1所述的系统，其中，所述测量设备包括椭率计。4.按照权利要求1所述的系统，其中，所述测量设备包括探针轮廓仪。5.按照权利要求1所述的系统，其中，所述测量设备被配置成利用磁带支承面的未被磁带接触的区域作为测量的基准计量。6.—种模块,包括: 具有磁带支承面的本体，所述本体具有与感兴趣模块近似的磁带支承面轮廓和尺寸；和 所述磁带支承面上的涂层。7.按照权利要求6所述的模块，其中，所述涂层具有与感兴趣模块类似的摩擦系数。8.按照权利要求6所述的模块，其中，所述涂层具有至少约IOnm的沉积厚度。9.按照权利要求6所述的模块，其中，所述涂...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·G·比斯克伯恩，J·梁，C·S·罗，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：