一种弓形法反射率测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于微波测试技术领域，涉及弓形法反射率测试技术。本实用新型专利技术涉及的弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和样品台组成，样品台面1的方向可调节，样品台面的偏转轴平行于弓形支架2的直径。本实用新型专利技术涉及的弓形法反射率测试装置，使用灵活，便于调节，当软件系统无法调整或不便调整时可对系统测试量值做出必要修正。通过样品台面的偏转角度，调整反射衰减量，通过调零补偿测试系统的系统误差，对测试结果进行硬件修正，实现误差主动修正，避免了人工修正数据的繁琐与不便。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

Bow method reflectivity testing device

The utility model belongs to the technical field of microwave testing, and relates to a method for measuring the reflectivity of the bow method. Arch method reflectivity measuring device of the utility model relates to a bow, signal receiving and processing system and method of sample table, table 1 sample direction can be adjusted, the deflection is parallel to the arch support 2 diameter shaft sample table. The utility model relates to a bow reflection test device, which is flexible and easy to adjust, and can be used to make the necessary correction for the system test quantity when the software system can not be adjusted or inconvenient to adjust. The deflection angle of sample table, adjust the reflection attenuation, the zero error compensation system of the testing system, the hardware implementation of error correction to the test results, active correction, to avoid the cumbersome and inconvenient manual correction data.

【技术实现步骤摘要】

本技术属于微波测试
，涉及弓形法反射率测试技术，特别弓形法反射率测试装置设计技术。
技术介绍
弓形法是测试隐身材料反射率的常用的方法，它对反射率的测试是通过测试金属良导体平面和以同尺寸金属平面为衬底的雷达吸波材料的回波功率而得到，该方法测试方便快捷，对测试仪器、电磁环境、定位精度等要求相对较低，但测试数据的准确度也相对较低，主要用于实验室材料配方筛选和隐身性能的快速评价。该测试系统由标量网络分析仪或频谱分析仪，扫频信号源，定向耦合器，发射天线和接收天线，弓形架，连接电缆，测试软件和控制计算机(统称弓形法信号收发与处理系统)和样品样品台组成，结构如附图1所示。测试时，量值会发生一些漂移，需要采用标准样板进行校准，对于量值的修正只能后期通过修正值对每个数据进行修改，操作繁琐。
技术实现思路
本技术的目的在于解决弓形法反射率测试中的误差修正问题，提供一种简便易行的反射率测试装置。本技术的目的是这样实现的:采用适宜的方式调整样品台的位置状态，通过样品台面的偏转角度，调整反射衰减量，通过调零补偿测试系统的系统误差，实现误差主动修正。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和样品台组成，其特征在于:样品台面I的方向可调节，样品台面的偏转轴平行于弓形支架2的直径，结构如附图2所示。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面的偏转角度Θ介于0.1° 5°之间。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面I为回转调节结构，结构如附图3所示。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面I为倾斜调节结构，结构如附图4所示。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，可对测试结果进行硬件修正，能够达到修正系统误差的目的，避免了人工修正数据的繁琐与不便，使用灵活，便于调节，当软件系统无法调整或不便调整时可对系统测试量值做出必要修正。附图说明图1弓形法测试装置基本组成示意图图2本专利技术涉及的方向可调样品台弓形法测试装置结构示意图图3本专利技术涉及的弓形法测试装置回转式样品台结构示意图图4本专利技术涉及的弓形法测试装置倾斜式样品台结构示意图图中:1_样品台面，2-弓形支架，3-回转滑块，4-固定滑块，5-调节旋钮，6-倾斜板，7-固定板，8-固定铰链，9-调节螺栓。具体实施方式以下结合附图对本技术涉及的弓形法反射率测试装置作进一步详细说明，但不作为对本技术涉及技术方案的限制。任何一种可以实现本技术目的的技术方案均构成本技术的一部分。实施例一一种弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统回转调节样品台组成。回转调节样品台由固定滑块4、回转滑块3和调节旋钮5组成，采用齿轮连接方式，回转滑块3的上表面作为样品台面1，结构如附图3所示。回转台的台体呈正方形，固定滑块4上部为边长为60mm，弧度为20°凹形柱面，与回转滑块3底部的凸形柱面相匹配，形成滑动配合面，固定滑块4、回转滑块3与调节旋钮5分别通过齿条与蜗杆连接。通过旋转调节旋钮5，可使回转滑块3相对于固定滑块4产生回转滑动，从而带动放置在回转滑块3上的样品转动一定的角度，最大回转角度为10°，分辨率为5,。测试试验时，被测样板放置于样品台面I上，调节回转台的调节旋钮5，调整试样的响应与实际值相符，避免繁琐的偏差修正。实施例二一种弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和倾斜调节样品台2组成。倾斜调节样品台2由倾斜板6、固定板7、固定铰链8和调节螺栓9组成，倾斜板6表面作为样片台面I，结构如附图4所示。倾斜板6和固定板7为100mmX80mm的长方形平板，一端是压紧弹簧与钢珠组成的铰链结构8，另一端为细齿调节螺栓9，螺距为0.5mm，最大行程为7mm。旋转调节螺栓9，可把倾斜板6顶起或落下，使样品台面I倾斜。测试试验时，被测样板放置于倾斜板6上，通过方向调节，使试样的响应与实际值相符。权利要求1.一种弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和样品台组成，其特征在于:样品台面(I)的方向可调节，样品台面的偏转轴平行于弓形支架(2)的直径。2.根据权利要求1的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面(I)的偏转角度Θ介于0.1° 5°之间。3.根据权利要求1或2的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面(I)为回转调节结构。4.根据权利要求1或2的弓形法反射率测试装置，其特征在于:所述样品台面(I)为倾斜调节结构。专利摘要本技术属于微波测试
，涉及弓形法反射率测试技术。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和样品台组成，样品台面1的方向可调节，样品台面的偏转轴平行于弓形支架2的直径。本技术涉及的弓形法反射率测试装置，使用灵活，便于调节，当软件系统无法调整或不便调整时可对系统测试量值做出必要修正。通过样品台面的偏转角度，调整反射衰减量，通过调零补偿测试系统的系统误差，对测试结果进行硬件修正，实现误差主动修正，避免了人工修正数据的繁琐与不便。文档编号G01N22/00GK203053889SQ20122072896公开日2013年7月10日 申请日期2012年12月25日 优先权日2012年12月25日专利技术者张雨, 荀其宁, 傅兴天, 肖德凯, 张军英, 姜维维, 张伟, 张宝芹 申请人:中国兵器工业集团第五三研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种弓形法反射率测试装置，由弓形法信号收发与处理系统和样品台组成，其特征在于：样品台面（1）的方向可调节，样品台面的偏转轴平行于弓形支架（2）的直径。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张雨，荀其宁，傅兴天，肖德凯，张军英，姜维维，张伟，张宝芹，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第五三研究所，
类型：实用新型
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