一种全角度发射率/反射率测试平台制造技术

技术编号:11854834 阅读:85 留言:0更新日期:2015-08-11 00:39
一种全角度发射率/反射率测试平台:一固定平台,该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台,中央放置台的中心位置放置待测的金属块;固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座,一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上,以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转,该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方;横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置;中央旋转台的一侧上设有一旋转底座,一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上,以旋转底座为支撑点作180度旋转;该L型旋转支架的另一端设有探测器,该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。本发明专利技术可以全角度测量金属块辐射率,不存在死角。

【技术实现步骤摘要】
一种全角度发射率/反射率测试平台
本专利技术涉及一种全角度发射率/反射率测试平台,具体由一个中央旋转台、一个横梁旋转支架、一个L型旋转支架组成,其中L型旋转支架固定在中央旋转台上,而横梁旋转支架则固定在平台上。本专利技术通过中央旋转台、横梁旋转支架、L型旋转支架实现位于旋转台中心位置处金属块发射率/反射率的全方位测量,不存在死角,为多角度辐射率测量提供了一个良好的实验装置。
技术介绍
随着高温温度测量技术的快速发展,非接触式的红外测温技术成为主要的高温温度测量手段。而红外测温技术所涉及的一个关键参数就是材料的发射率。材料发射率是表征物质表面辐射特性的物理量,是一项重要的热物性参数,对于采用红外测温技术准确测量物体真实温度起着重要的作用。其存在的环境及特点可概括如下:红外测温技术在航空发动机涡轮叶片表面温度测量取得了很好的效果,其响应时间短,能测量快速变化的温度场,能测量旋转物体、高速运动物体温度;测温范围宽广,测量距离可远可近,测量目标面积可以很小,灵敏度高、分辨率高、可靠性强。而发射率能否准确测量直接决定着其测试的准确度,因此需准确测量高温条件下涡轮叶片材料的发射率。在现代热轧生产过程中,需要对运动的连铸坯表面温度进行精确测量,以严格控制工艺参数,确保钢材质量和实现节能。这就要求测温装置能在线连续测量铸坯温度,并能保证测量精度。红外测温技术是测量连铸坯表面温度的最好手段,因此也需要准确测量高温条件下连铸坯表面的发射率。正因为以上特性,发射率的测量的准确与否是涡轮叶片、铸坯表面温度测量精度的主要因素之一。目前对材料发射率多角度测量的问题没有很好的解决方法,测量装置结构复杂且性能不稳定。可以看出,为了解决材料发射率多角度测量的问题,必须专利技术新的全角度、高性能、高精度的测量平台。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种全角度发射率/反射率测试平台,可以全角度测量金属块辐射率,不存在死角,为多角度辐射率测量提供了一个良好的实验装置。为实现上述目的,本专利技术提供的全角度发射率/反射率测试平台,其结构为:一固定平台,该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台,中央放置台的中心位置放置待测的金属块;固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座,一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上,以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转,该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方;横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置;中央旋转台的一侧上设有一旋转底座,一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上,以旋转底座为支撑点作180度旋转;该L型旋转支架的另一端设有探测器,该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。所述的全角度发射率/反射率测试平台,其中,横梁旋转支架和L型旋转支架为一个单杆。本专利技术的优点在于:1)通过中央旋转台、横梁旋转支架、L型旋转支架的相互配合,实现金属块发射率/反射率的全角度测量,不存在死角。2)本专利技术的装置结构简单,性能稳定,精度高,为多角度金属发射率测量提供了一种新的平台。附图说明图1是本专利技术全角度发射率/反射率测试平台结构示意图。图2是图1中的固定平台结构图。图3是图1中的横梁旋转支架结构图。图4是图1中的L型旋转支架结构图。附图中符号说明1-中央旋转台,2-横梁旋转支架,3-L型旋转支架,4-横梁旋转底座,5-旋转底座,6-固定平台,7-发射光源,8-探测器,9-待测金属块。具体实施方式本专利技术的全角度发射率/反射率测试平台,具体由一个中央旋转台、一个横梁旋转支架、一个L型旋转支架组成。通过中央旋转台、横梁旋转支架、L型旋转支架实现位于旋转台中心位置处金属块辐射率的全方位测量,不存在死角,为多角度辐射率测量提供了一个良好的实验装置。本专利技术的全角度发射率/反射率测试平台中,L型旋转支架固定在中央旋转台上,随中央旋转台一起旋转。而横梁旋转支架则固定在固定平台上,横梁旋转支架本身不能旋转,但可以围绕固定平台上的横梁旋转底座作180度的转动。下面结合附图对本专利技术作进一步的详细说明。请参见图1,全角度发射率/反射率测试平台是由一个中央旋转台1、一个横梁旋转支架2、一个L型旋转支架3、横梁旋转底座4和旋转底座5组成。请结合图2,本专利技术的全角度发射率/反射率测试平台由外围的固定平台6和位于中心区域的中央旋转台1组成,中央旋转平台1可以在固定平台6中作360度旋转。固定平台6的两侧各安装有一个横梁旋转底座4,用于固定横梁旋转支架2;中央旋转台1上固定有一个旋转底座5,用于固定L型旋转支架3。请结合图3,本专利技术的横梁旋转支架2由一个H型结构单杆组成,横梁旋转支架2的两端各安置在一个横梁旋转底座4中,并通过横梁旋转底座4连接在固定平台上,形成了该横梁旋转支架2跨设于中央旋转台1的上方;该横梁旋转支架2可以以横梁旋转底座4为支撑点作180度旋转;位于横梁旋转支架4的中间是发射光源7的固定位置。请结合图4,本专利技术的L型旋转支架3由一个L型结构的单杆组成,L型旋转支架3的一端通过一个旋转底座5与中央旋转台1相连接,该L型旋转支架3能随中央旋转台1旋转,同时,也可以以旋转底座5为支撑点作180度旋转。L型旋转支架3的另一端安装有控测器8,该探测器8处于发射光源7的下方。本专利技术的全角度发射率/反射率测试平台在实际操作时,具体过程为:待测金属块9置于中央旋转台1的中间位置,由横梁旋转支架4、L型旋转支架3相互配合,实现位于旋转台中心位置处金属块辐射率的全方位测量,不存在死角,为全角度金属发射率/反射率的测量提供很好的平台。本文档来自技高网
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一种全角度发射率/反射率测试平台

【技术保护点】
一种全角度发射率/反射率测试平台,其结构为:一固定平台,该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台,中央放置台的中心位置放置待测的金属块;固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座,一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上,以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转,该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方;横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置;中央旋转台的一侧上设有一旋转底座,一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上,以旋转底座为支撑点作180度旋转;该L型旋转支架的另一端设有探测器,该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。

【技术特征摘要】
1.一种全角度发射率/反射率测试平台,包括一固定平台,其特征在于,该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台,中央旋转台的中心位置放置待测的金属块;固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座,一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上,以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转,该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方;...

【专利技术属性】
技术研发人员:周小明淮秀兰李勋锋成克用
申请(专利权)人:中国科学院工程热物理研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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