检测装置制造方法及图纸

一种检测装置，运用于机台，包含：载台，用以置放料片；光学检测模块，设置于载台上方，用以检测料片；及反射镜组，设置于载台与光学检测模块之间，包含光源模块和反射板，该光源模块用以发射光线至料片；该反射板可调整地连接于光源模块而邻近于料片的侧边；于是，投射至侧边的光线反射至反射板，便于光学检测模块对反射板取侧边影像，从而，能仅藉由一台摄像组件就能直接对料片的四个侧边处作检测，可解决已知料片检测空焊或缺焊需要额外增加摄像组件，造成成本过高体积过大的问题。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种检测装置，特别是一种可检测料片空焊或缺焊的检测装置。
技术介绍
随着科技的进步以及知识的进展，科技产业亦随之发展迅速，而如何提升各项产品良率，亦是每家厂商所关心的议题，无论是材料或是制程，甚或是检验，在每个过程中皆是环环相扣，而为了检测出人眼难以窥见的缺陷，通常需要较为精密的检测仪器协助检测。仪器检测一般比较常见的是在半导体产业的应用，例如对各类芯片、集成电路等电子组件、印刷电路板，或是LCD屏幕等，进行表面刮伤、瑕疵、异物等各式缺陷检测。目前科技厂商在藉助仪器进行检测时，大多都需要透过光学组件检测。但传统的检测机台，于检测料片时，大多藉由一台摄像组件对料片作检测，而其仅能检测料片一个面向，如需检测其它面向，例如料片的四个侧边时，即需要再增加一台摄像组件，并摆设在不同方位，以对其侧边处进行缺陷检侧。因此，目前市面上为检侧料片是否有空焊(未焊接有焊点)或缺焊(焊点焊接不完整)的问题，皆是采用增加摄像组件的方法，以对料片的侧边处进行检测。惟以此方法检测不仅造成成本的增加，而且，因增加的摄像组件其要另外摆放于料片的侧边处，以对侧边进行检测，因此，亦造成了机台整体体积过大的问题。因此，如何改良检测装置，使得检测装置能对料片进行一个面向检测时，亦能同时侧边处焊点空焊或缺焊，并且减低机台制造成本及机台体积的缩减为本案的创作人以及从事此相关行业的
人员亟欲改善的课题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是:针对上述现有技术中已知料片检测空焊或缺焊需要额外增加摄像组件及成本过高体积过大的问题的不足，提出一种检测装置。为了解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是:一种检测装置，运用于一机台，其特点是:该装置包含载台、光学检测模块及反射镜组，该载台置放一料片；该光学检测模块设置于该载台上方，以检测该料片；该反射镜组设置于该载台与该光学检测模块之间，包含光源模块及反射板，该光源模块用以发射一光线至该料片，该反射板可调整地连接于该光源模块而邻近于该料片的一侧边；其中，投射至该侧边的该光线反射至该反射板，该光学检测模块对该反射板取一侧边影像。所述反射板更包含一反射材质，用以反射该光线。所述装置更包含一连接轴，以连接该光学检测模块与该反射镜组。所述光学检测模块与该反射镜组设置于一定位，转动该料片，使该料片的每一该侧边对应该反射板，并位于该光学检测模块下方。所述光学检测模块位移至该料片的每一该侧边上方，并旋转该光学检测模块而连动该反射板对应该料片的每一该侧边。本技术采用的另一技术方案是:一种检测装置，运用于一机台，其特点是:该装置包含载台、光学检测模块及反射镜组，该载台置放一料片；该光学检测模块设置于该载台上方，以检测该料片；该反射镜组设置于该载台与该光学检测模块之间，包含光源模块及二反射板，该光源模块用以发射一光线至该料片，该二反射板可调整地连接于该光源模块而邻近于该料片相邻的二侧边；其中，投射至该二侧边的该光线反射至对应的反射板，该光学检测模块对该二反射板分别取一侧边影像。所述反射板更包含一反射材质，以反射该光线。所述装置更包含一连接轴，以连接该光学检测模块与该反射镜组。所述光学检测模块与该反射镜组设置于一定位，转动该料片，使该料片每一相邻的该二侧边对应该反射板，且相邻的该二侧边的一交界处位于该光学检测模块下方。所述光学检测模块位移至该料片相邻的该二侧边的一交界处上方，并旋转该光学检测模块而连动该反射板对应该料片每一相邻的该二侧边。本技术采用的再一技术方案是:一种检测装置，运用于一机台，其特点是:该装置包含载台、光学检测模块及反射镜组，该载台置放一料片；该光学检测模块设置于该载台上方，以检测该料片；该反射镜组设置于该载台与该光学检测模块之间，包含光源模块及数个反射板，该光源模块用以发射一光线至该料片；该数个反射板可调整地连接于该光源模块而分别邻近于该料片的一侧边；其中，投射至该侧边的该光线反射至对应的反射板，该光学检测模块对每一该反射板取一侧边影像，且对该料片的一顶面取一顶面影像。所述每一反射板更包含一反射材质，以反射该光线。所述装置更包含一连接轴，以连接该光学检测模块与该反射镜组。所述光学检测模块可位移至该料片的每一该侧边上方，并连动该些反射板分别对应该料片的该侧边。如此，藉由具有反射材质的反射板，反射投射至料片侧边处的光线，使得摄像组件藉由对反射板取像，而能仅藉由一台摄像组件就能直接对料片的四个侧边处作检测，解决已知料片检测空焊或缺焊需要额外增加摄像组件，造成成本过高体积过大的问题。以下在实施方式中详细叙述本技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域技术人员了解本技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，任何本领域技术人员可轻易地理解本技术相关的目的及优点。附图说明图1为本专利技术检测装置第一实施例的示意图。图2为本专利技术检测装置第一实施例的俯视图。图3为本专利技术检测装置第二实施例的示意图。图4为本专利技术检测装置第二实施例的俯视图。图5为本专利技术检测装置第三实施例的示意图。图6为本专利技术检测装置第三实施例的俯视图一。图7为本专利技术检测装置第三实施例的俯视图二。标号说明:10载台20光学检测模块30反射镜组31光源模块32反射板33连接板34光源40料片41顶面50连接轴具体实施方式请参阅图1所示，图1为本技术的检测装置第一实施例的示意图。本技术的检测装置，运用于机台(图中未示)，包含有载台10、光学检测模块20及反射镜组30。载台10为概呈矩形的立体结构，其具有一平面可用以放置料片40。基此，本技术的检测装置是于此载台10的区域进行料片40的检测。以本技术而言，料片40具有四个侧边矩形结构，本技术的检测装置可用以检测料片40四个侧边处的空焊或缺焊缺陷。但本技术料片40并非限定为四个边，前述仅为举例，本技术的检测装置可用以检测包含任意边数的料片40。光学检测模块20设置于载台10的上方，用以检测料片40。基此，光学检测模块较佳地可为电荷稱合组件(Charge Coupled Device, CCD),或是互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor, CMOS)，但本技术并非以此为限。反射镜组30设置于载台10与光学检测模块20之间，基此，反射镜组30具有光源模块31与反射板32。其中，光源模块31具有连接板33及光源34，光源34较佳地可为一环状光源，但本技术并非以此为限。再者，反射板32可调整地连接于光源模块31的一侦牝其较佳地连接于连接板33的外侧边缘处而邻近于料片40的侧边，并且反射板32可调整地转动角度。此外，反射板32更具有反射材质，能用以反射光线，其反射材质(亦称为不透光材质)较佳地可为金、锡、铜、银、铁、铅、镉、钥、鎗、钕、钛、钽、或其它材料、或上述的氮化物、或上述的氧化物、或上述的合金、或上述的组合，但本技术并非以此为限。基此，当光源模块31发射光线后，光线将投射至料片40后，经由光学反射，使得光学检测模块20得以对料片40取得影像执行检测。此外，投射至料片40侧边处的光线，亦会经由光学反射至反射板32，再经由调整反射板32本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，运用于一机台，其特征在于：该装置包含载台、光学检测模块及反射镜组，该载台置放一料片；该光学检测模块设置于该载台上方，以检测该料片；该反射镜组设置于该载台与该光学检测模块之间，包含可发射一光线至该料片的光源模块及反射板，该反射板可调整地连接于该光源模块而邻近于该料片的一侧边；其中，投射至该侧边的该光线反射至该反射板，该光学检测模块对该反射板取一侧边影像。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：蔡鸿儒，方志恒，徐志宏，高志豪，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：