光学记录介质制造技术

提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质（10），包括：基板（11）；和两个或更多个记录层（121、122、123），所述记录层包含Pd、O、和M（其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素），并且O的含量大于M被完全氧化（被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2）时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时，第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量，其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层（121、122、123）中的任意一个。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学记录介质例如光盘，更具体地涉及一种具有两层或更多层记录层且能够以高记录密度进行记录的光学记录介质。
技术介绍
近年来,一种被称为蓝光盘(BD,注册商标)的高容量光盘被商品化。利用用于记录和再现用约405nm的光的波长以及用于记录和再现作为光学系统的聚光透镜的约0.85的数值孔径(NA)，这种高容量光盘可实现约25GB的记录容量。在这种高容量光盘中，为了实现可记录光盘，考虑了各种类型的可记录记录层材料。作为相关领域中的可记录光盘的记录层材料，已知有机染料材料。然而，如果使用有机染料材料，则存在无法获得足够的生产率的问题和用于记录信号的长期稳定性和存储性能的问题。此外，还存在这样的问题，即尚未找到可用于记录并再现约405nm波长的光的合适有机染料。关于此，考虑了使用无机材料作为可记录记录层材料。例如，提出了具有随着温度升高而快速结晶并引起光学变化的包含Te-O的记录层的光学记录介质(参见专利文献I)。专利文献1:日本专利申请公开号2008-112556号
技术实现思路
本专利技术要解决的问题同时，在上述高容量光盘的可记录光学记录介质中，为了获得更大的容量，其记录层具有两层或更多层，即，记录层为多层。在记录层为上述多层的情况下，重要的是适当设定每个记录层的反射率和透射率。然后，例如，通过将电介质层设置在记录层附近并选择电介质层的厚度，可以对反射率进行控制。然而，如果每个记录层的反射率和透射率利用具有相同构造的层进行设定，则该记录层的记录特性可以彼此不同。由于该原因，一部分记录层不可能获得良好的记录特性。为了解决上述问题，在本专利技术中，提供了一种能够控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中能够获得良好记录特性的光学记录介质。解决问题的手段根据本专利技术的光学记录介质包括基板以及两层以上的记录层。于是，两层以上的记录层包含Pd、O JPM (M是Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素)，并且O以大于M被完全氧化(被完全氧化成Zn0、Al203、In2O3、和SnO2)时的化学计量组成的量被包含。此外，在记录层是从记录光的入射侧的相对侧开始算的两层以上的记录层中的第η个(η是2以上的自然数)记录层的情况下，其中的Pd含量小于第η-1个记录层中的含量。根据上述本专利技术的光学记录介质的构造，在从记录光的入射侧的相对侧开始算的第η个记录层中的Pd含量小于第η-1个记录层中的含量。如上所述，第η个记录层中的Pd含量小于第η-1个记录层中的含量。这减少了光吸收，并因此增加了透射率。结果，虽然降低了具有低Pd含量的层中的记录灵敏度，但提高了入射侧的相对侧上的记录层中的记录灵敏度。因此，通过将反射率设定为一致，可以补偿一部分记录层(特别是接近光的入射侧的相对侧的记录层)中的记录灵敏度的降低。此外，通过改变记录层中的Pd含量，可以改变记录层的透射率。本专利技术的效果根据上述专利技术，通过改变每个 记录层中的Pd含量，可以改变记录层中的透射率或记录灵敏度。因此，可以控制每个记录层中的透射率和记录灵敏度并且可以获得良好的记录特性。因此，根据本专利技术，可以实现一种由具有良好记录特性的多层记录层形成的光学记录介质。附图说明图1是根据本专利技术的第一实施方式的光学记录介质的示意性构造图(剖视图)。图2是图1中所示的光学记录介质的主要部分的放大剖视图。图3是根据本专利技术的第二实施方式的光学记录介质的示意性构造图(剖视图)。图4是根据本专利技术的第三实施方式的光学记录介质的示意性构造图(剖视图)。具体实施例方式在下文中,将描述用于实施方式本专利技术的最佳模式(在下文中称为实施方式)。应注意的是，将以下列顺序给出描述。1.第一实施方式2.第二实施方式3.第三实施方式4.实验实施例< 1.第一实施方式>图1示出了根据本专利技术的第一实施方式的光学记录介质的示意性构造图(剖视图)。在该光学记录介质10中，在基板11上设置有三层记录层121 (L0)、122 (LI)、和123 (L2)。应注意的是，为了方便起见，添加L0、L1、和L2用于显示，因为在多层记录介质中，通常将最靠近基板的记录层称为L0，接着为L1、L2、……。此外，在记录层121、122、和123之间，设置有由透光性材料形成的中间层141和142。此外，在作为最上层的记录层123上，设置有由透光性材料形成的保护层13。在根据本实施方式的光学记录介质10具有上述高容量光盘(BD，注册商标)的构造的情况下，使用了厚度为约1.1mm和外径为约120mm的盘状基板11。然后,在其表面侧上，例如在形成作为摆动沟槽(wobbling grooves)的凹凸形状的表面上,记录层121、122、和123经由由透光性材料形成的中间层141和142而被提供。此外，在记录层123上，设置有由透光性材料形成的保护层13，并且该光学记录介质10被构造成整体上具有1.2mm的厚度。在光学记录介质10具有上述大容量光盘的构造的情况下，记录光的入射侧为保护层13的一侧。应注意的是，本专利技术不限于上述大容量光盘的构造，并且光学记录介质的形状和尺度(大小、厚度等)、基板和保护层的厚度等可根据预期的用途而适当地选择。作为基板11的材料，例如，可以使用聚碳酸酯树脂。基板11可以通过例如注塑成型从母版转印用于跟踪的摆动沟槽的凹凸形状而形成。应注意的是，在根据本专利技术的光学记录介质中，沟槽形状不是必须的，并且该光学记录介质仅必须具有可执行跟踪且可适当控制记录磁道之间的串话的构造。此外，记录磁道可以位于从光的入射侧观察的沟槽上或平台(lands)上，并且可以使用任何记录方法。记录层121、122、和123包含PcUOJPM (M是Ζη、Α1、Ιη、和Sn中的一种或多种元素)，并且O以大于M被完全氧化(被完全氧化成Ζη0、Α1203、Ιη203、和SnO2)的化学计量组成的量被包含。具体地，在这些记录层121、122、和123中，不但含有诸如ZnO和Al2O3的稳定氧化物，而且还含有PdO或PdO2。于是，当用例如中心波长为约405nm的激光的光照射时，PdO会分解成Pd和02，并且PdO2会分解成PdO和O2。因为产生了 O2，所以在构造中发生膨胀(凸起)。因此，形成了反射率与周围不同的记录标记。作为中间层141和142的材料，可以使用例如UV (紫外线)固化树脂的光可固化树脂或热可固化树脂。在这种情况下，在通过旋涂等施加材料后，对其进行加热或用光照射。因此，可以形成中间层。中间层141和142只要必须具有不影响记录特性的充分透光性即可，并且它们的厚度只要在可以将层间串话抑制为等于或小于预定值的范围内。对于保护层13，可利用热可固化树脂或光可固化树脂材料。在将该材料通过旋涂法等施加而沉积后，通过加热或用光，例如紫外线照射，可使其固化。因此，可以形成保护层13。可替换地，可通过使用UV可固化树脂等和聚碳酸酯等的树脂片，或粘结层和聚碳酸酯等的树脂片来形成保护层13。应注意的是，虽然未示出，但在保护层13的表面(激光照射面)上，可以施加用于保护以抵抗机械冲击、刮擦等，或用于防止由于使用者使用时的灰尘或指纹的附着等引起的对信息信号的记录和再现质量劣化的硬涂层。对于该硬涂层，可以使用为了提高机械性强度而混入硅胶的细粉末的材料，或诸如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：三木刚，田内裕基，
申请(专利权)人：索尼公司，株式会社神户制钢所，
类型：
国别省市：