磁共振成像装置以及磁共振成像方法制造方法及图纸

技术编号:8826573 阅读:145 留言:0更新日期:2013-06-19 17:35
本发明专利技术提供一种磁共振成像装置以及磁共振成像方法。本发明专利技术的实施方式涉及磁共振成像。一个实施方式的MRI装置(20)具备执行倾斜磁场线圈单元(26)的温度测量的温度测量部(70A~70D)、数据存储部(100)、脉冲设定部(102)以及摄像部。数据存储部存储有表示与倾斜磁场线圈单元的温度变化对应的氢原子的磁共振的中心频率的偏移并且与倾斜磁场线圈单元的温度上升了的情况对应的第1数据、和与温度下降了的情况对应的第2数据。脉冲设定部通过根据在第1以及第2数据中的与所述温度测量的结果对应的一方计算中心频率的偏移量,校正RF脉冲的中心频率。摄像部根据校正了的RF脉冲执行磁共振成像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的实施方式涉及磁共振成像。
技术介绍
MRI是通过拉莫尔频率的RF脉冲使静磁场中设置的被检体的原子核自旋磁性地激励,根据伴随该激励而发生的MR信号重构图像的摄像法。另外,上述MRI是磁共振成像(Magnetic Resonance I maging)的意思,RF 脉冲是高频脉冲(radio frequency pulse (射频脉冲))的意思,MR信号是核磁共振信号(nuclear magnetic resonance signal)的意思。MRI装置在架子内具备通过对摄像区域施加倾斜磁场,而对MR信号附加空间位置信息的倾斜磁场线圈。该倾斜磁场线圈由于在摄像中反复供给脉冲电流而大幅发热。如果倾斜磁场线圈的温度上升,则摄像区域的磁场变化,所以被检体内的氢原子的磁共振的中心频率变化。作为与这样的共振频率的变动相关的以往技术,已知专利文献I (日本特开2005 — 288025 号公报)。在专利文献I中,根据在架子内配置的温度传感器的测量温度的变化,推测摄像剖面的共振频率的变动量。然后,修正控制系的基准时钟的频率,以追踪共振频率的变动量,根据修正后的基准时钟控制各部,从而抑制静磁场不均匀性的紊乱的影响。
技术实现思路
根据依据静磁场强度决定的氢原子的拉莫尔频率,例如在预扫描等摄像准备阶段,设定脂肪抑制预脉冲、90°激励脉冲等RF脉冲的中心频率。但是,如果在摄像准备阶段设定了 RF脉冲的条件之后,在摄像中伴随倾斜磁场线圈的发热而被检体内的氢原子的磁共振的中心频率偏移,则成为画质劣化的主要原因。例如摄像时间长的动态摄像中,对于数据收集时刻越晚的图像,倾斜磁场线圈的发热所致的上述中心频率的偏移量越大,所以脂肪抑制预脉冲的效果降低等,从而画质劣化。因此,期望在MRI中,用于与倾斜磁场线圈的发热所致的氢原子的磁共振的中心频率的偏移无关地,得到良好的图像的新的技术。本专利技术的目的提供一种在MRI中,用于与倾斜磁场线圈的发热所致的氢原子的磁共振的中心频率的偏移无关地,而得到良好的图像的新的技术。以下,针对各方式的每一个,说明本专利技术的实施方式可取的方式的几个例子。(I)在本专利技术的一个实施方式中,MRI装置具备倾斜磁场线圈单元、温度测量部、数据存储部、脉冲设定部以及摄像部。倾斜磁场线圈单元在摄像区域中发生与供给电流对应的倾斜磁场。温度测量部执行倾斜磁场线圈单元的温度测量。在数据存储部中,作为表示摄像区域内的氢原子的磁共振的中心频率的偏移的偏移数据,存储了与倾斜磁场线圈单元的温度上升了的情况对应的第I数据、和与倾斜磁场线圈单元的温度下降了的情况对应的第2数据。脉冲设定部根据上述温度测量的结果执行倾斜磁场线圈单元的温度上升还是下降的判定,根据上述第I以及第2数据中的与上述判定的结果对应的一方,计算氢原子的磁共振的中心频率的推测偏移量,根据推测偏移量正RF脉冲的中心频率。摄像部发送由脉冲设定部校正了的RF脉冲,从摄像区域的被检体收集核磁共振信号,根据核磁共振信号生成被检体的图像数据。(2)在本专利技术的另一实施方式中,MRI装置具备倾斜磁场线圈单元、温度测量部、数据存储部、脉冲设定部以及摄像部。倾斜磁场线圈单元、温度测量部、以及摄像部的结构与上述(I)的MRI装置相同。在该结构中,数据存储部存储了表示摄像区域内的氢原子的磁共振的中心频率根据倾斜磁场线圈单元的温度变化而偏移多少并且与多个温度区域分别对应的多个偏移数据。 另外,在该结构中,脉冲设定部根据与包括通过上述温度测量的结果表示的倾斜磁场线圈单元的温度的温度区域对应的偏移数据、和基于上述温度测量的结果的倾斜磁场线圈单元的温度的变化量,计算氢原子的磁共振的中心频率的推测偏移量,根据推测偏移量校正RF脉冲的中心频率。(3)在本专利技术的又一实施方式中,MRI方法具有以下的步骤。I个是执行磁共振成像装置的倾斜磁场线圈单元的温度测量的步骤。I个是根据温度测量的结果执行倾斜磁场线圈单元的温度上升还是下降的判定的步骤。I个是根据在“与倾斜磁场线圈单元的温度上升了的情况对应、并且表示摄像区域内的氢原子的磁共振的中心频率的偏移的第I数据”、和“与倾斜磁场线圈单元的温度下降了的情况对应、并且表示上述磁共振的中心频率的偏移的第2数据”中的与上述判定的结果对应的一方,计算上述磁共振的中心频率的推测偏移量的步骤。I个是根据推测偏移量校正RF脉冲的中心频率的步骤。I个是发送根据推测偏移量校正了的RF脉冲,从摄像区域的被检体收集核磁共振信号的步骤。I个是根据所收集到的核磁共振信号生成被检体的图像数据的步骤。在上述(I) (3)的任意一个本专利技术中,在MRI中,与倾斜磁场线圈的发热所致的氢原子的磁共振的中心频率的偏移无关地,能够得到良好的图像。附图说明图1是示出本实施方式的MRI装置的整体结构的框图。图2是示出倾斜磁场线圈单元内的温度传感器的配置的一个例子的示意性的立体图。图3是图2所示的倾斜磁场线圈单元的剖面示意图。图4是图1所示的计算机58的功能框图。图5是示出插入倾斜磁场线圈单元内的铁垫片的透磁率的温度变化的一个例子的示意图。图6是示出第广第3温度区域中的各温度传感器的温度系数的平均值的曲线。图7是示出通过本实施方式的MRI装置在造影剂的投放前后进行摄像的情况的动作的流程的一个例子的流程图。图8是示出作为本实施方式的MRI装置的动作的另一例子进行3时相的动态摄像的情况的流程的一个例子的流程图。图9是示出比较了针对依次执行了 11个脉冲时序的情况的各脉冲时序的执行时的中心频率通过本实施方式的方法计算出的值、和实测值的一个例子的曲线。图10是示出按照与图9同样的表述比较了针对依次执行了与图9相同的11个脉冲时序的情况的各脉冲时序的执行时的中心频率通过与本实施方式不同的方法计算出的值、与实测值的一个例子的曲线。具体实施例方式以下,根据附图,说明本专利技术的实施方式。另外,在各图中,对同一要素附加同一符号,省略重复的说明。 (本实施方式的结构)图1是示出本实施方式中的MRI装置20的整体结构的框图。如图1所示,MRI装置20具备筒状的静磁场磁铁22、在静磁场磁铁22的内侧同轴地设置的筒状的垫片线圈24、大致圆筒状的倾斜磁场线圈单元26、RF线圈28、控制装置30、以及床32。床32具有搭载被检体P的床面34,并可移动地支撑床面34。此处,作为一个例子,如以下那样定义装置坐标系的相互正交的X轴、Y轴、Z轴。首先,静磁场磁铁22以及垫片线圈24被配置成它们的轴方向与铅垂方向正交,将静磁场磁铁22以及垫片线圈24的轴方向设为Z轴方向。另外,将铅垂方向设为Y轴方向,床32被配置成其床面34的载置用的面的法线方向成为Y轴方向。控制装置30具备静磁场电源40、垫片线圈电源42、倾斜磁场电源44、RF发送器46、RF接收器48、冷却控制装置50、床驱动装置52、时序控制器56、以及计算机58。倾斜磁场电源44具有X轴倾斜磁场电源44x、Y轴倾斜磁场电源44y、以及Z轴倾斜磁场电源44z。计算机58具有运算装置60、输入装置62、显示装置64、以及存储装置66。静磁场磁铁22与静磁场电源40连接,通过从静磁场电源40供给的电流在摄像空间中形成静磁场。上述摄像空间是指,例如,设置被检体P并施加静磁场的架子内的空间。架子是指,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:倾斜磁场线圈单元,在摄像区域中发生与供给电流对应的倾斜磁场;温度测量部,执行所述倾斜磁场线圈单元的温度测量;数据存储部,作为表示所述摄像区域内的氢原子的磁共振的中心频率的偏移的偏移数据,存储了与所述倾斜磁场线圈单元的温度上升了的情况对应的第1数据、和与所述倾斜磁场线圈单元的温度下降了的情况对应的第2数据;脉冲设定部,根据所述温度测量的结果执行所述倾斜磁场线圈单元的温度上升还是下降的判定,根据在所述第1以及第2数据中的与所述判定的结果对应的一方,计算所述氢原子的磁共振的中心频率的推测偏移量,根据所述推测偏移量校正RF脉冲的中心频率;以及摄像部,发送由所述脉冲设定部校正了的所述RF脉冲,从所述摄像区域的被检体收集核磁共振信号,根据所述核磁共振信号生成所述被检体的图像数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:末岡和大
申请(专利权)人:株式会社东芝东芝医疗系统株式会社
类型:发明
国别省市:

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