【技术实现步骤摘要】
用于改进的粗糙粒、磁头介质间距和/或磁头介质接触检测的电阻温度传感器相关专利文件本申请根据美国专利法35U.S.C.第119(e)要求2010年11月17日提交的临时专利申请号为61/414,733和61/414,734的优先权,引用上述两篇文件的全文并在此结合。技术方案本专利技术的实施例涉及一种包含了磁头换能器的设备,该磁头换能器被配置为与磁记录介质交互。设置在该磁头换能器上的传感器具有电阻温度系数和传感器电阻。所述传感器被配置为在高于环境温度的温度下工作,并且对传感器与介质之间的间距变化作出响应。导电性接触片被连接到所述传感器并且具有接触电阻。所述接触片具有邻近所述传感器并大于所述传感器横截面的横截面面积,因此上述接触电阻相对于传感器电阻较小并且其对传感器产生的信号的影响可以忽略不计。诸个实施例涉及一种当磁记录介质相对于磁头换能器运动时,使用具有电阻温度系数的传感器在磁头换能器上的一紧邻点感测温度的方法。所述传感器连接到具有接触电阻的导电性接触片。所述接触片具有邻近所述传感器并大于所述传感器横截面的横截面面积,因此上述接触电阻相对于传感器电阻较小并且其对传感器产生的信号的影响可以忽略不计。所述方法进一步涉及输出所述传感器信号并利用所述传感器信号来检测介质的粗糙粒。根据多种实施例,一种设备包括多个与磁记录介质交互的磁头换能器以及多个具有电阻温度系数的传感器。每个磁头换能器上设置至少一个传感器,该至少一个传感器对传感器与介质之间的间距变化作出响应。电源被配置为向每个磁头换能器上的每个传感器提供偏压电源,并且被配置为在热传递变化影响传感器时校正所述偏压电源并将 ...
【技术保护点】
一种设备,包括:磁头换能器,被配置为与磁性记录介质进行交互;传感器,被设置在所述磁头换能器上,并具有电阻温度系数和传感器电阻,所述传感器被配置为在高于环境温度的温度下工作,并且对所述传感器和所述介质之间的间距变化作出响应;以及导电接触片,连接到所述传感器,并具有接触电阻,所述接触片具有邻近于所述传感器的横截面,所述接触片的横截面大于所述传感器的横截面,因此所述接触电阻相对于所述传感器电阻更小,并且所述接触电阻对所述传感器产生的信号的影响可以忽略不计。
【技术特征摘要】
2011.11.17 US 13/298,7121.一种设备,包括: 磁头换能器,被配置为与磁性记录介质进行交互; 传感器,被设置在所述磁头换能器上,并具有电阻温度系数和传感器电阻,所述传感器被配置为在高于环境温度的温度下工作,并且对所述传感器和所述介质之间的间距变化作出响应;以及 导电接触片,连接到所述传感器,并具有接触电阻,所述接触片具有邻近于所述传感器的横截面,所述接触片的横截面大于所述传感器的横截面,因此所述接触电阻相对于所述传感器电阻更小,并且所述接触电阻对所述传感器产生的信号的影响可以忽略不计。2.根据权利要求1所述的设备,其中所述接触电阻相对于所述传感器电阻可以忽略不计。3.根据权利要求1所述的设备,其中影响所述传感器信号的所述传感器有效尺寸与所述传感器的物理尺寸大致相同。4.根据权利要求1所述的设备,其中信号中由所述接触片贡献的分量没有混淆所述传感器信号。5.根据权利要求1所述的设备,其中: 所述接触片的区域暴露于所述传感器和所述磁头换能器的加热器中的一个或两者所产生的热量之下;以及 所述接触片区域的接触电阻相对于所述传感器电阻更小,并且所述接触电阻对所述传感器产生的信号的影响可以忽略不计。6.根据权利要 求1所述的设备,其中: 所述传感器包括传感器元件和在所述传感器元件之间的相对端; 所述传感器的相对端具有横截面,相对端的横截面大于所述传感器的横截面;以及 所述传感器接触片包括所述传感器的相对端。7.根据权利要求1所述的设备,其中所述接触片具有邻近于所述传感器的横截面,所述接触片的横截面比所述传感器的横截面大I到1000倍。8.根据权利要求1所述的设备,其中所述接触电阻比所述传感器电阻小I到1000倍。9.根据权利要求1所述的设备,其中: 所述接触片和所述传感器中的每一个都包含前沿和后沿;和 所述传感器的前沿相对于所述接触片的前沿凹进去。10.根据权利要求1所述的设备,其中所述传感器被配置为在约0°C到300°C的温度中工作。11.根据权利要求1所述的设备,其中所述传感器位于所述磁头换能器的紧邻点处或接近于所述磁头换能器的紧邻点。12.根据权利要求1所述的设备,其中所述传感器被定义尺寸以感测所述介质的粗糙粒。13.—种方法,包括: 随着磁记录介质相对于磁头换能器移动: 使用具有电阻温度系数的传感器来感测所述磁头换能器的紧邻点上的温度,该传感器与具有接触电阻的导电接触片连接,所述接触片具有邻近所述传感器的横截面,所述接触片的横截面大于所述传感器的横截面,因此所述接触电阻相对于所述传感器电阻更小,并且所述接触电阻对所述传感器产生的信号的影响可以忽略不计; 输出所述传感器信号;和 使用所述传感器信号来检测所述介质上的粗糙粒。1...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·C·艾纳亚杜弗瑞斯恩,B·W·卡尔,G·J·昆克尔,魏臻,
申请(专利权)人:希捷科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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