全光谱超分辨率测量方法及非标记生物分子测量系统技术方案

技术编号:8763821 阅读:271 留言:0更新日期:2013-06-07 17:56
本发明专利技术涉及一种全光谱超分辨率测量方法及非标记生物分子测量系统,其特征在于:在芯片上设置有300~4500nm不同厚度的薄膜层用于编码,然后对所述芯片采用探针蛋白进行点样,制作得到生物芯片;使所述生物芯片的探针蛋白和被测样品充分结合,被测样品中的被测对象通过特异性吸附到探针蛋白上;光强为I0的光束垂直照射到所述生物芯片上;当光束垂直照射在仅覆盖有所述薄膜层的生物芯片上时,不同薄膜层的厚度产生不同的反射光谱,实现所述生物芯片的厚度编码,采用干涉极值法,根据光谱中极值点的波长解码出所述生物芯片的薄膜层的厚度t;光束垂直照射在与探针蛋白结合的被测对象时,薄膜层发生幅度为Δ的厚度变化,计算得到强度幅值差值并获得被测对象的厚度,本发明专利技术可以广泛应用在生物分子厚度测量中。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种全光谱超分辨率测量方法,其包括以下步骤:1)在一芯片上设置有300~4500nm不同厚度的薄膜层用于编码,然后对所述芯片采用探针蛋白进行点样,制作得到一生物芯片;2)使所述生物芯片的探针蛋白和被测样品充分结合,被测样品中的被测对象通过特异性结合到探针蛋白上;3)一光强为I0的光束垂直照射到所述生物芯片上;4)当光束垂直照射在仅覆盖有所述薄膜层的生物芯片上时,不同薄膜层的厚度产生不同的反射光谱,实现所述生物芯片的厚度编码,并采用干涉极值法,根据光谱中极值点的波长解码出所述生物芯片的薄膜层的厚度t;5)光束在所述薄膜层的上表面和下表面分别发生反射,上表面反射光的光矢量为:Rs(λ...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄国亮王同舟李强黎新赵松敏马丽罗贤波庞彪
申请(专利权)人:博奥生物有限公司清华大学
类型:发明
国别省市:

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