【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学探测目标领域，特别是一种能够获得目标空间二维图像信息，目标各点高分辨率光谱信息的探测方法。
技术介绍
成像光谱技术采用辐射成像技术和光谱测量技术相结合方法，能够获得目标的二维空间辐射光强信息和目标各点的光谱信息。其中干涉成像光谱技术是上世纪80年代发展起来的新型探测技术，利用干涉信息与光谱信息之间存在的傅里叶变换关系来计算目标的光谱信息，并且获取目标的二维空间信息。90年代中后期出现的像面干涉成像光谱技术，通过在无限远成像系统中加入横向剪切分束器，引入干涉信息；与时间型干涉成像光谱技术相比，内部不需要动镜推扫，具有结构稳固的优点；与空间型干涉成像光谱技术相比，不受入射狭缝的限制，具有高光通量、高目标分辨率、高光谱分辨率等优点。像面干涉成像光谱技术现已成为国内外研究的热点，在工业、农业、医学等领域具有广阔的应用前景。现有干涉成像光谱技术光谱分辨率受获取干涉光程差影响，光程差越大光谱分辨率越高。受探测器信噪比、靶面大小等因素的影响，现有干涉成像光谱技术获取的干涉光程差有限，其光谱分辨率受限，限制了像面干涉光谱成像技术的应用领域。1986年，Okam...
【技术保护点】
一种提高光谱分辨率的干涉成像光谱装置，其特征在于：包括沿光路方向依次放置的前置光学系统（1）、色散平板Sagnac横向剪切分束系统（2）、成像系统（3）和信号处理系统（4）；其中，前置光学系统（1）包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜（11）和准直物镜（12），前置成像物镜（11）的像面和准直物镜（12）的前焦面重合；色散平板Sagnac横向剪切分束系统（2）包括沿Sagnac共光路系统的内部顺时针光轴依次设置的分束器（21）、高反镜（22）、色散平板（24）、高反镜（23），其中分束器（21）与色散平板Sagnac横向剪切分束系统（2）的入射光轴成逆时针45°角，高反镜（...
【技术特征摘要】
1.一种提高光谱分辨率的干涉成像光谱装置，其特征在于:包括沿光路方向依次放置的前置光学系统(I)、色散平板Sagnac横向剪切分束系统(2)、成像系统(3)和信号处理系统(4);其中，前置光学系统(I)包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜(11)和准直物镜(12)，前置成像物镜(11)的像面和准直物镜(12)的前焦面重合；色散平板Sagnac横向剪切分束系统(2)包括沿Sagnac共光路系统的内部顺时针光轴依次设置的分束器(21)、高反镜(22)、色散平板(24)、高反镜(23)，其中分束器(21)与色散平板Sagnac横向剪切分束系统(2)的入射光轴成逆时针45°角，高反镜(22)与顺时针入射光轴成逆时针67.5°角，高反镜(23 )与顺时针入射光轴成67.5°角，色散平板(24)位于高反镜(22 )和高反镜(23 )之间；成像系统(3)包括沿光路方向依次设置的成像物镜(31)、探测器(32)，其中探测器(32)的靶面位于成像物镜(31)的后焦面上；信号处理系统(4)与探测器(32)相连；所有光学元件相对于基底同轴等高，即相对于光学平台或仪器底座同轴等高。2.根据权利要求1所述的一种提高光谱分辨率的干涉成像光谱方法装置，其特征在于，装置的光路走向如下:探测目标发射或者反射的光通过前置成像物镜(11)成像在其像面上，消除杂散光，随后经过准直物镜12，形成准直光束；前置光学系统(I)形成的准直光束经过分束器(21)后形成第一反射光和第一透射光两支:第一反射光首先入射到第一高反镜(22)，发生反射，然后入射色散平板(24)，发生色散，形成发散光束穿过色散平板，发散角度随波数变化，在色散平板(24)的出射面形成平行光束出射，随后入射高反镜(23)，发生反射后，入射到分束器(21)，形成第二发射光和第二透射光，其中第二反射光进入成像系统(3);第一透射光首先入射到第一高反镜(23)，发生反射，然后入射色散平板(24)，发生色散，形成发散光束穿过色散平板，发散角度随波数变化，在色散平板(24)的出射面形成平行光束出射，随后入射高反镜(22)，发生反射后，入射到分束器(21)，形成第三发射光和第三透射光，其中第三透射光进入成像系统(3);从分束器(21)出...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建欣，孟鑫，孙宇声，徐婷婷，郭仁慧，沈华，马骏，朱日宏，陈磊，何勇，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：
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