地物光谱获取方法及装置、高光谱图像目标探测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种地物光谱获取方法及装置，通过计算高光谱图像中的像元与目标光谱库中的光谱的线性相关性，确定与目标光谱库中的光谱线性相关性最小的像元的光谱作为背景地物光谱，因此，仅依据高光谱图像及目标光谱库即可确定背景地物光谱，而无需人工实地测量，所以，大大方便了地物光谱的获取，提高了获取地物光谱的效率。并且，在上述获取地物光谱的基础上，进行高光谱图像目标探测，能够提高探测的精度及效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及遥感领域，尤其涉及地物光谱获取方法及装置、高光谱图像目标探测方法及装置。
技术介绍
高光谱图像目标探测是提取高光谱信息的重要手段之一。在高光谱图像探测过程中，研究者感兴趣的地物称为目标，研究者不感兴趣的地物称为背景，简单而言，目标探测就是将目标和背景分开。在探测过程中，如果已知目标地物的光谱及背景地物的光谱，则能够得到高精度的探测结果，但是，在实践中，背景地物的光谱需要通过人工实际地面测量和后期处理后得至IJ，因此，背景地物光谱的获取较为困难。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种地物光谱获取方法及装置、高光谱图像目标探测方法及装置，目的在于解决现有的地物光谱获取困难的问题。为了实现上述目的，本专利技术实施例提供以下技术方案:一种地物光谱获取方法，包括:接收高光谱图像及预设的所述高光谱图像的目标光谱库；依次计算所述高光谱图像中的每一个像元与所述目标光谱库中的光谱的线性相关性；将预设数量的与所述目标光谱库中的光谱的线性相关性最小的像元的光谱作为背景地物光谱。优选地，所述依次计算所述高光谱图像中的每一个像元与所述目标光谱库中的光谱的线性相关性；将预设数量的与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种地物光谱获取方法，其特征在于，包括：接收高光谱图像及预设的所述高光谱图像的目标光谱库；依次计算所述高光谱图像中的每一个像元与所述目标光谱库中的光谱的线性相关性；将预设数量的与所述目标光谱库中的光谱的线性相关性最小的像元的光谱作为背景地物光谱。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张兵，高连如，孙旭，吴远峰，郭乾东，高建威，
申请(专利权)人：中国科学院对地观测与数字地球科学中心，
类型：发明
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