光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法，能够进行高精度的光谱测量处理。内置有光谱测量装置的打印机包括：光谱仪(17)，包含来自介质(A)的测量位置(R)的光入射的波长可调滤波器(光谱器件(172A))；距离测量部(18)，测量测量位置(R)和光谱仪(17)的距离；以及测量控制部件和测色部件，使用光谱仪(17)对测量位置(R)实施光谱测量，基于测量到的距离校正通过光谱测量得到的测量值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法。
技术介绍
以往，打印机等图像形成装置中，公知有具有色度计的装置，该色度计用于对记录在介质上的图像进行测色(例如，参照专利文献1)。在该专利文献1所公开的装置中，设置有对介质形成图像(印刷)的打印头和用于对介质上的图像进行测色的颜色传感器。这些打印头和颜色传感器是各自独立设置，颜色传感器通过被按压板按压对介质进行测色。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2013-238755号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题然而，颜色传感器和介质之间的距离有时由于例如介质的波动、介质的输送路径的变形等而变化。这样，颜色传感器和介质之间的距离发生波动，则对通过颜色传感器进行测色的测量位置(测量范围)的光量分布发生变化。例如，在对来自光源的光以入射角0°照射介质并以反射角45°反射的反射光，通过颜色传感器检测并进行测色处理的情况下，由于颜色传感器和介质之间的距离发生波动，测量位置发生变化。另一方面，从光源照射到介质上的光在中心部处的光量大，在周边部处的光量小。因此，当测量位置偏移时，测量位置处的光量发布发生变化。另外，在对来自光源的光以入射角45°照射介质并以反射角0°反射的反射光，通过颜色传感器检测并进行测色处理的情况下，由于颜色传感器和介质之间的距离发生波动，来自光源的光的照射位置发生变化。如上述所述，从光源照射到介质上的光在中心部处的光量大，在周边部处的光量小，因此当照射位置发生变化时，测量位置处的光量分布发生变化。如此，测量位置处的光量分布发生变化(减小)，则通过颜色传感器感光的感光量也减少，当基于所测量的感光量进行测色处理时，测色精度(色差ΔE)降低。本专利技术的目的在于，提供一种能够进行高精度的光谱测量处理的光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法。用于解决技术问题的方案本专利技术的一个适用例的光谱测量装置是，其特征在于，包括：光谱仪，包含供来自测量对象的光入射的光谱元件；距离测量部，测量所述测量对象和所述光谱仪之间的距离；以及光谱测量部，使用所述光谱仪实施所述光的光谱测量，所述光谱测量部基于测量到的所述距离校正通过所述光谱测量得到的测量值。在本适用例中，利用距离测量部来测量测量对象和光谱仪之间的距离，光谱测量部基于所述距离，校正使用光谱仪对测量对象进行光谱测量时的测量值。由此，即使在测量对象和光谱仪之间的距离发生波动时，也根据其距离校正测量值，从而能够实施高精度的测色处理。在本适用例的光谱测量装置中，优选地，所述光谱仪具有向所述测量对象射出照明光的光源，在所述测量对象反射的所述光入射到所述光谱元件，所述距离测量部通过感光第2光而测量所述距离，该第2光是从所述光谱仪的所述光源射出的所述照明光在所述测量对象反射的光。在本适用例中，使用光谱仪的光谱测量处理中使用的光源和由距离测量部用于测量距离的光源是通用的。即，从相同的光源向测量对象射出的照明光的一部分入射到光谱仪的光谱元件而用于光谱测量处理，其他一部分入射到距离测量部而用于距离测量。因而，能够将单个光源的光，用于距离测量和分光测量，从而实现装置的简化、小型化。另外，由于入射到测量对象的预定的测量位置的来自单个光源的光入射到光谱仪和距离测量部，因此通过距离测量部，能够检测实施光谱测量的测量位置和光谱仪的距离。即，测量从测量位置远离的位置和光谱仪的距离的情况下，例如由于测量对象(例如纸张等)的波动、输送路径的扭曲等，有时实施光谱测量的测量位置和实施距离测量的位置距光谱仪的距离不同。对此，在本适用例中，由于通过距离测量部测量从通过光谱仪进行光谱测量的位置到光谱仪的距离并校正测量值，因此能够基于测量位置和光谱仪的正确的距离来恰当地校正测量值，从而能够进一步提高测色精度。另外，例如在使用光谱测量用的光源和距离测量用的光源，从各自的光源向测量位置照射光的情况下，从各自不同的光源以不同的角度向测量位置射入光。一般来说，在进行测色处理的情况下，优选地，基于由测色标准(JIS Z8722)规定的几何条件，设定朝向测量位置的照明光的入射角、使光敏部感光的反射光的反射镜。但是，如上所述，在单独设置距离测量用的光源时，难以使来自距离测量用光源的光以基于测色标准的角度入射。在进行光谱测量时，可考虑关闭距离测量用的光源，但在该情况下，无法在实施光谱测量的定时测量测量对象和光谱仪的距离。特别是，在1个滑架上搭载光谱仪和距离测量部，该滑架一边沿预定方向扫描(一边在测量位置移动)一边实施光谱测量的情况下，导致进行距离测量的位置和实施
光谱测量的位置是不同位置，针对测量值，基于距离进行校正时的校正精度降低。与此相对，在本适用例中，由于使用单个光源，实施光谱测量和距离测量这双方，因此能够在按照测色标准的恰当的几何条件下实施光谱测量处理。另外，通过距离测量部，能够正确地测量实施光谱测量的测量位置与光谱仪的距离。因而，能够提高基于距离校正测量值时的校正精度，从而能够提高测色处理的精度。在本适用例的光谱测量装置中，优选地，所述光谱测量部基于在通过所述光谱测量得到所述测量值的定时通过所述距离测量部测量到的所述距离，校正所述测量值。在本适用例中，光谱测量部基于在获取测量值的定时测量到的距离，校正测量值。此时，例如，在光谱仪和距离测量部搭载在滑架上，使该滑架沿预定方向扫描而在测量位置移动的情况下，也能实现降低测量误差。另外，由于没有必要在测量位置使滑架停止，因此能够实施快速的光谱测量。在本适用例的光谱测量装置中，优选地，所述光谱测量部获取距离-光量数据，并基于所述距离-光量数据校正所述测量值，所述距离-光量数据记录有针对所述测量对象和所述光谱仪之间距离的光量波动量。如上所述，当测量对象和光谱仪的距离波动时，入射到光谱仪的光量也对应距离波动量发生波动并减少。在本适用例中，在校正测量值时，由于获取记录了针对该距离的光量波动量的距离-光量数据，能够容易地取得对应测量的距离的光量变化量，基于该光量变化量能够容易地校正测量值。在本适用例的光谱测量装置中，优选地，所述光谱测量部获取与多个波长分别对应的所述距离-光量数据，并基于与通过所述光谱元件分光的波长对应的所述距离-光量数据来校正所述测量值。在本适用例中，光谱测量部基于对应各波长的测量值的距离-光量数据，校正测量值。由此，能够对应各波长的测量值，分别校正为与所测量的距离对应的恰当的值。在本适用例的光谱测量装置中，优选地，所述光谱元件是波长可调型的法布里-珀罗标准具元件。在本适用例中，作为光谱元件，使用波长可调型的法布里-珀罗标准具元件。这样的标准具元件与使用例如AOTF(Acousto-Optic Tunable Filter)、LCTF(Liquid crystal tunable filter)等其他光谱元件的情况相比，由于廉价并且小型化，因此可实现光谱测量装置的成本降低和小型化。另外，由于可改变光谱波长，能够以简单的构成容易地实施对例如预定的测量对象波长区域内的多个波长的光的光谱测量。本专利技术的一个适用例的图像形成装置是，其特征在于，包括：上述那样的光谱测量装置；以及在图像形成对象上形成图像的图像形成部。在本适用例中，能够通过图像形成部在图像形成对象上形成色标等基准色图像的基础上，通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱测量装置，其特征在于，包括：光谱仪，包含供来自测量对象的光入射的光谱元件；距离测量部，测量所述测量对象和所述光谱仪之间的距离；以及光谱测量部，使用所述光谱仪实施所述光的光谱测量，所述光谱测量部基于测量到的所述距离校正通过所述光谱测量得到的测量值。

【技术特征摘要】
2015.03.26 JP 2015-0649781.一种光谱测量装置，其特征在于，包括：光谱仪，包含供来自测量对象的光入射的光谱元件；距离测量部，测量所述测量对象和所述光谱仪之间的距离；以及光谱测量部，使用所述光谱仪实施所述光的光谱测量，所述光谱测量部基于测量到的所述距离校正通过所述光谱测量得到的测量值。2.根据权利要求1所述的光谱测量装置，其特征在于，所述光谱仪具有向所述测量对象射出照明光的光源，在所述测量对象反射的所述光入射到所述光谱元件，所述距离测量部通过感光第2光而测量所述距离，该第2光是从所述光谱仪的所述光源射出的所述照明光在所述测量对象反射的光。3.根据权利要求1或2所述的光谱测量装置，其特征在于，所述光谱测量部基于在通过所述光谱测量得到所述测量值的定时通过所述距离测量部测量到的所述距离，校正所述测量值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的光谱测量装置，其特征在于，所述光谱测量部获取距离-光量数据，并基于所述距离-光量数...

【专利技术属性】
技术研发人员：五味二夫，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP