一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台技术方案

技术编号:13804548 阅读:157 留言:0更新日期:2016-10-07 18:10
本实用新型专利技术属于激光诱导击穿光谱系统领域,具体公开一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,包括可以沿X轴滑动的X轴滑台以及位于X轴滑台上的R轴旋转滑台,激光作用时,X轴滑台和R轴旋转滑台分别平移和转动,实现激光在样品表面无重复打点,其特征在于:还包括设置在R轴旋转滑台上实现激光到任意厚度样品表面作用距离固定的样品固定装置。本实用新型专利技术在原来的样品台上改性,成本低,功耗小,但是降低了LIBS检测过程中系统对样品厚度及形状的要求,保证不同厚度、不同形状及大小的样品与激光焦点距离一致,避免了重复手动调节焦点距离及其带来的误差,能起到事半功倍的效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于激光诱导击穿光谱测量系统领域,具体公开一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台
技术介绍
激光诱导击穿光谱技术(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy,LIBS)是逐渐兴起的一种原子发射光谱,可以检测固体、液体及气体等各种形式的样品,且能够同时进行多种元素的检测。其基本原理是基于一束短脉冲激光经透镜聚焦后对待测物质表面进行烧蚀而产生等离子体,利用元素特征谱线的波长对样品的组分做定性分析,利用发射谱线的强度做元素浓度的定量分析。该技术具有很多优点:所需样品量少且样品预处理简单;可多元素同时测量;分析速度快;可进行现场原位测量等。激光诱导击穿光谱检测固态样品的研究报道较多,如土壤、合金、文物、矿石、固体废弃物等等。通常将样品制作成厚度、直径相同的圆片,放置于样品台上待测。为了保证样品台以及所测量样品光谱信号的稳定性,激光诱导击穿光谱测量系统通常采用支持水平方向平移或转动的水平样品台,激光到水平样品台的垂直距离固定等于聚焦焦距,样品放在样品台时,激光直接聚焦在样品表面进行诱导击穿,进而获取样品光谱信号进行测量,但是众所所周知,激光到样品表面的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,包括可以沿X轴滑动的X轴滑台以及位于X轴滑台上的R轴旋转滑台,激光作用时,X轴滑台和R轴旋转滑台分别平移和转动,实现激光在样品表面无重复打点,其特征在于:还包括设置在R轴旋转滑台上实现激光到任意厚度样品表面作用距离固定的样品固定装置。

【技术特征摘要】
1.一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,包括可以沿X轴滑动的X轴滑台以及位于X轴滑台上的R轴旋转滑台,激光作用时,X轴滑台和R轴旋转滑台分别平移和转动,实现激光在样品表面无重复打点,其特征在于:还包括设置在R轴旋转滑台上实现激光到任意厚度样品表面作用距离固定的样品固定装置。2.如权利要求1所述的一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,其特征在于:所述的样品固定装置包括固定设置在所述R轴旋转滑台上的配置有具有中心孔环形桶盖的圆桶,圆桶底部均匀安装有三根弹簧,三根弹簧上端共同固定有一放置样品的圆形支撑板。3.如权利要求2所述的一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,其特征在于:所述圆形支撑板四周与圆桶内壁贴合,没有放置样品时,在三根弹簧弹力作用下圆形支撑板上表面最低侧刚好与圆桶上口齐平,可由具有中心孔的环形桶盖水平盖合。4.如权利要求2所述的一种用于激光诱导击穿光谱测量系统的样品台,其特征在于:所述的具有中心...

【专利技术属性】
技术研发人员:方丽赵南京马明俊孟德硕贾尧肖雪
申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
类型:新型
国别省市:安徽;34

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